技術(shù)編號：8235933
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。高溫?zé)犭娕紮z定或校準(zhǔn)過程中，坩禍結(jié)構(gòu)設(shè)計的優(yōu)劣直接影響坩禍最終的循環(huán)使用次數(shù)，并間接影響到高溫?zé)犭娕嫉臋z定次數(shù)，因此必須予以特別的重視。目前主流的坩禍在結(jié)構(gòu)設(shè)計上有以下兩種方案第一種采用瓶膽式雙層殼體結(jié)構(gòu)，內(nèi)層殼體直接與金屬和碳(金屬-碳)共晶物接觸，外層殼體包圍著內(nèi)層殼體，起到防止內(nèi)層殼體破裂共晶物泄漏的作用，如Edler等在文獻〈〈A cobalt - carbon eutectic fixed point for the calibrat1n of ...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。