技術(shù)編號(hào)：8267726
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 對(duì)激光等離子體進(jìn)行X射線成像診斷是激光慣性約束聚變（ICF)研究的重要內(nèi) 容。將具備空間分辨能力的X射線光學(xué)系統(tǒng)與時(shí)間分辨能力的信號(hào)記錄設(shè)備（如條紋相機(jī) 等）結(jié)合，并配合分光元件（如X射線多層膜等），可以獲得激光等離子體的時(shí)間、空間、能 譜特性等重要的物理信息。X射線光學(xué)系統(tǒng)配合條紋相機(jī)是其中一種重要的診斷手段，可以 截取激光等離子體在一維方向上的空間分布及其動(dòng)態(tài)演化行為。目前常用的X射線光學(xué)系 統(tǒng)主要是基于掠入射反射成像原理的Kirkpatrick-B...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無(wú)完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。