技術編號：8319446
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 本發(fā)明涉及一種光腔衰蕩信號數(shù)據(jù)點篩選及結果修正方法，適用于利用線性最小 二乘算法作為數(shù)據(jù)處理方式的光腔衰蕩系統(tǒng)。背景技術 光腔衰蕩技術是高靈敏度探測技術的一種，已在氣體吸收光譜測量和 高反射率測量領域取得成功應用（D. Romanini, A.A. Kachanov, J. Morville, M. Chenevier, "Measurement of trace gases by diode laser cavity ringdown spectros...
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