技術(shù)編號(hào)：8444728
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 在集成電路生產(chǎn)流程中，自動(dòng)測(cè)試是非常重要的一個(gè)環(huán)節(jié)。利用自動(dòng)測(cè)試可以找 出功能不正常的集成電路芯片，從而避免讓客戶拿到這樣不正常的集成電路芯片。一般而 言，自動(dòng)測(cè)試以自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來完成。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備可以用多種預(yù)設(shè)的測(cè)試條件以及測(cè)試 信號(hào)來同時(shí)對(duì)一個(gè)或多個(gè)待測(cè)物（deviceundertest，DUT)進(jìn)行測(cè)試。 然而，當(dāng)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備運(yùn)行時(shí)，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的電源電壓與環(huán)境溫度可能會(huì)因?yàn)?多個(gè)電路同時(shí)操作而不穩(wěn)定。舉例來說，電源電壓可能會(huì)較預(yù)設(shè)的電壓值為低，而...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。