技術(shù)編號(hào):8460618
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明的實(shí)施例一般地涉及用于測(cè)試電子組件的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)。背景技術(shù)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)通常在電芯片制造領(lǐng)域中用于測(cè)試電子組件。ATE系統(tǒng)既降低了在對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試以保證器件功能與設(shè)計(jì)一樣上面花費(fèi)的時(shí)間量,又用作在給定器件到達(dá)消費(fèi)者手中之前確定該器件中存在故障組件的診斷工具。目前存在兩種類型的系統(tǒng)用于測(cè)試片上系統(tǒng)半導(dǎo)體器件每站測(cè)試儀(Tester-Per-Site,TPS)和每引腳測(cè)試儀(Tester-Per-Pin,TPP)。TPS 系統(tǒng)將在可被稱...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。