技術編號：8460659
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 本發(fā)明涉及相位調制方法以及相位調制裝置。背景技術 在專利文獻1中記載有具備對被檢測物體進行照明的機構的顯微鏡。該顯微鏡具 備照明機構，將來自光源的光照射于被檢測物體并使包含該被檢測物體的信息的光束產 生；照明光調制機構，調制被照射于被檢測物體的光的波長等；瞳調制機構，被設置于物鏡 的瞳面附近并且調制包含被檢測物體的信息的光束的相位等。瞳調制機構由液晶型的空間 光調制元件所構成。 現(xiàn)有技術文獻 專利文獻 專利文獻1 日本專利申請公開2003-121749號...
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