技術(shù)編號：8472041
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。目前國內(nèi)對混響室空間射頻電磁場的研宄主要關(guān)注參數(shù)單個參數(shù)測試方法研宄、單個或幾個參數(shù)的測試方法及自動控制，然而單點測試結(jié)果不能有效體現(xiàn)混響室場強的實時分布特性，不能實現(xiàn)對電磁混響室性能進行綜合測量和評價的校準(zhǔn)驗證，而目前也尚未查到對場強探頭校準(zhǔn)位置和多探頭多測點同時進行工作的相關(guān)研宄，因此本發(fā)明需要開展多探頭多測點同時進行測試的方法，并對場強探頭校準(zhǔn)位置等參數(shù)設(shè)置進行研宄。發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本發(fā)明提供了一種電磁混響室場強分布特性校準(zhǔn)方法，能夠利用8個場強探...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。