技術編號：8498085
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 在X射線診斷領域中，具有譜分辨的二維圖像診斷是一個重要的領域。目前，常用 的等離子體二維分布診斷主要分為針孔相機成像、彎晶成像及KB成像三種方式。 針孔成像是最為常用的成像方法，但由于受數值孔徑限制，空間分辨和集光效率 低，同時能譜分辨是通過在光路中添加不同材料的濾片實現，由于濾片本身的能譜選擇帶 寬很寬，使得針孔成像方法的能量分辨很差。 彎晶成像方法是使用一塊按照特定曲率彎曲的晶體對目標進行成像，X光采用小 角度入射的方式入射到晶體表面，其特點是譜分辨...
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