技術(shù)編號：8498107
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。 本發(fā)明總體上涉及離子淌度譜（IMS)和離子淌度-質(zhì)譜（頂-MS)。本發(fā)明尤其涉 及用于利用頂-MS器件來測量（計算）分析物離子的碰撞截面（CCS)的方法開發(fā)。背景技術(shù) 離子淌度譜（MS)是一種氣相離子分離技術(shù)，其中，離子隨著它們行進通過含有 已知組分（例如氮）、壓力和溫度的緩沖氣體（漂移氣體）的已知長度的漂移單元（漂移 管）而在時間上變?yōu)榉蛛x的。在這種行進期間，離子基于可以與它們的通過緩沖氣體的不 同淌度相關(guān)的它們的不同碰撞截面（CCS)而變?yōu)榉蛛x的。I...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。