技術(shù)編號：8579614
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。掃描探針顯微鏡(SPM)是通過檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件(一般稱之為掃描探針)之間的極微弱的原子間相互作用力來研宄物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)，將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)微小針尖將與樣品相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化；掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，而工作中通常是利用激光檢測法測得微懸臂對應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化，從而以納米級分辨率獲得表面結(jié)構(gòu)信息的。由此可知，要...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。