技術(shù)編號(hào):8770459
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。按,一般晶圓、半導(dǎo)體元件、印刷電路板等元件(以下統(tǒng)稱(chēng)受測(cè)元件),為確保其質(zhì)量上的制造良率,均會(huì)透過(guò)電路檢測(cè)方式對(duì)其內(nèi)部電路是否異常進(jìn)行檢測(cè),其主要透過(guò)電路測(cè)試治具的復(fù)數(shù)量測(cè)點(diǎn)接觸到受測(cè)元件,使量測(cè)點(diǎn)接觸受測(cè)元件內(nèi)部電路的相對(duì)應(yīng)的輸入點(diǎn)與輸出點(diǎn)(以下統(tǒng)稱(chēng)電極接點(diǎn)),然后透過(guò)電路測(cè)試治具所連接的訊號(hào)檢知統(tǒng)傳送相關(guān)測(cè)試信號(hào),以精確測(cè)試出量測(cè)點(diǎn)失效位置,藉以測(cè)試受測(cè)元件的電路是否異常?,F(xiàn)有電路測(cè)試治具的結(jié)構(gòu)基本上如圖1所示,于一治具頭21上設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)別與受測(cè)元件的...
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