技術(shù)編號：8902913
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。硅錠在切割成小錠之后且在切片之前，需要對硅錠做進一步的雜質(zhì)檢測、外觀檢測等，在后道工序中將含雜質(zhì)與外觀損傷嚴重的部分切割掉。目前，在對硅錠的檢測過程中，全部由人工來完成硅錠的搬運、上下料，費時費力且效率低下。而且，硅錠本身很重，人工搬運過程中難免會發(fā)生磕碰，磕碰、劃痕既增加了后續(xù)的檢測、加工的工作量，又產(chǎn)生了不必要的原料的浪費。檢測工作耗時耗力，而且劃線精度較差，也容易產(chǎn)生不必要的切割損耗。實用新型內(nèi)容本申請人針對上述現(xiàn)有硅錠檢測過程中的現(xiàn)有技術(shù)的不足，提...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。