技術(shù)編號(hào)：8940755
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本發(fā)明涉及光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域，具體是一種可同時(shí)實(shí)現(xiàn)三維位移測(cè)量的激光測(cè)量裝置 及方法。背景技術(shù) 隨著現(xiàn)代化國(guó)防建設(shè)、工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)技術(shù)的飛躍發(fā)展，在微型機(jī)械、超精密加 工、微型裝配和納米技術(shù)等領(lǐng)域都需要較大范圍的精密位移量的定位與測(cè)量。其中位移測(cè) 量在當(dāng)今機(jī)械加工與計(jì)量所存在的納米時(shí)代顯得十分重要，尤其是在超精密工作臺(tái)及數(shù)控 機(jī)床上的應(yīng)用。角度測(cè)量是幾何量測(cè)量的重要組成部分，微小角度的測(cè)量在精密加工、航 空航天、軍事和通訊等許多領(lǐng)域都具有極其重要的意義和作用。...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。