技術(shù)編號(hào)：8942346
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 模擬量檢測(cè)就是將模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量（AD轉(zhuǎn)換）后，供給數(shù)字信號(hào)處理單元進(jìn) 行運(yùn)算處理。模擬量檢測(cè)的最小分辨量與模擬量檢測(cè)范圍和模數(shù)轉(zhuǎn)換器（AD)位數(shù)有關(guān)，公 式為％檢測(cè)范圍，η為AD的位數(shù)。在應(yīng)用中最小分辨量越小，系統(tǒng)檢 測(cè)的精度會(huì)越高。 現(xiàn)有的模擬量檢測(cè)方法一般是通過MCU+AD芯片的方式，只是現(xiàn)有技術(shù)的使用方 式是檢測(cè)范圍直接在初始化時(shí)設(shè)定了，不根據(jù)實(shí)際模擬量大小實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)或者受限于A/D芯 片本身的特性不能進(jìn)行調(diào)節(jié)。在使用此電路時(shí)必須在設(shè)定的檢測(cè)范圍...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。