技術(shù)編號(hào)：8997684
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。目前，X射線照相檢測(cè)是用來(lái)檢測(cè)材料與結(jié)構(gòu)件內(nèi)部缺陷的主要無(wú)損檢測(cè)方法之一。該方法采用膠片緊貼于被檢件背面，采用射線曝光來(lái)發(fā)現(xiàn)和記錄被檢件內(nèi)部的缺陷。實(shí)際工作中，通常采用黑色塑料袋或紙袋作為暗袋包裝X光膠片。對(duì)于高溫的被檢物體，常常會(huì)因?yàn)闊彷椛鋵?dǎo)致X光膠片感光或燒壞而無(wú)法實(shí)施檢測(cè)。實(shí)施高溫物體的射線照相檢測(cè)就必須在被檢件與膠片間設(shè)置較薄的隔熱層以保證膠片不受熱輻射影響，同時(shí)還要求隔熱層不能在膠片上形成偽缺陷顯示。發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型提供了一種高溫物體X射線檢測(cè)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。