技術(shù)編號(hào):9227089
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。對(duì)晶圓進(jìn)行拋光是半導(dǎo)體工藝中的常規(guī)步驟,在對(duì)晶圓進(jìn)行拋光時(shí),首先通過機(jī)械手把晶圓放置在晶圓承載臺(tái)上,然后再把晶圓從晶圓承載臺(tái)上吸附到研磨頭上,研磨頭會(huì)抽取真空產(chǎn)生負(fù)壓,從而吸附住晶圓,之后研磨頭攜帶晶圓一起進(jìn)行研磨。但晶圓從晶圓承載臺(tái)上被吸附到研磨頭的過程中,由于氣壓或者其他機(jī)械壓力的存在,晶圓的表面會(huì)承壓。當(dāng)晶圓承載臺(tái)存在不合理的結(jié)構(gòu),比如晶圓承載臺(tái)的中部下凹過多,達(dá)到5mm左右;或者研磨頭存在不合理的結(jié)構(gòu),比如晶圓傳感器凸出較多、彈簧較硬,研磨頭上的壓...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。