技術編號：9326790
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 本發(fā)明是一種利用PCI主模式實現(xiàn)同一 PCI總線上不同測試板卡間數(shù)據(jù)交互的方 法，涉及通信及測控領域。背景技術 在許多航天產(chǎn)品測試后期，需要模擬實際環(huán)境進行試驗。微波暗室可以提供純凈 的電磁環(huán)境與轉(zhuǎn)臺，既滿足產(chǎn)品全方位測試要求，同時通過其屏蔽作用可減少微波對人體 傷害。但有些產(chǎn)品測試時要求數(shù)據(jù)交互實時性好，數(shù)據(jù)間延時小，例如可能需要將產(chǎn)品測 試數(shù)據(jù)與轉(zhuǎn)臺信息同步組幀等。研究一種數(shù)據(jù)交互實時性好、性能穩(wěn)定的硬件測試方案具 有重要意義。 測試過程中的各設備間...
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