技術(shù)編號(hào)：9416176
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本發(fā)明涉及模擬集成電路早期軟故障診斷，特別涉及一種基于 HMM(Hidden Markov Mode，隱馬爾科夫模型）的模擬集成電路早期軟故障診斷方法及系統(tǒng)。背景技術(shù) 基于模式分類(lèi)的模擬電路軟故障（電路元件的參數(shù)的變化量超出其容差范圍） 診斷方法常常，假定發(fā)生軟故障的元件的參數(shù)變化量為一固定值（典型值為元件標(biāo)稱(chēng)值的 ±50% )。當(dāng)故障元件變化其標(biāo)稱(chēng)值正好在±50%左右時(shí)，此類(lèi)診斷方法通常具有良好的 診斷精度。但是，實(shí)際診斷中，故障元件的參數(shù)變化值常常是...
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