技術(shù)編號(hào)：9416309
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 在生產(chǎn)或應(yīng)用H-3、Ni-63等低能β放射性核素的核設(shè)施和實(shí)驗(yàn)室，需要定期對(duì) 放射性表面污染水平進(jìn)行探測(cè)。適合探測(cè)低能β核素(能量小于IOOkeV)的表面污染的探 測(cè)技術(shù)包括電離室、閃爍體、正比計(jì)數(shù)器和PIN二極管等，商用便攜式低能β核素污染探測(cè) 儀中探測(cè)器采用流氣式無(wú)窗正比計(jì)數(shù)器的最為普遍，如美國(guó)Overhoff公司的Flat Ferret 系列，中國(guó)工程物理研究院的JE系列。這一類型的探測(cè)器具有探測(cè)效率高，使用維護(hù)成本 低等優(yōu)點(diǎn)。由于β粒子的能量是連...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。