技術(shù)編號(hào)：9422393
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。近年來，在對(duì)具有細(xì)微構(gòu)造的試樣進(jìn)行解析、分析時(shí)，大多使用掃描型電子顯微鏡(Scanning Electron Microscopy以下稱為 “SEM”)、透射型電子顯微鏡(Transmiss1nElectron Microscopy以下稱為“TEM”)、或者透射型掃描電子顯微鏡(ScanningTransmiss1n Electron Microscopy以下稱為“STEM”)。在將試樣導(dǎo)入到這些觀察裝置之前，需要進(jìn)行試樣的截面制作、薄膜化，從而使用了聚焦...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。