技術編號：9455610
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及光模塊測試領域，特別涉及。背景技術在當前光模塊測試領域，通常的測試模式為由一臺上位機(一般為電腦)通過中間轉接板(也可稱之為協(xié)議轉換轉發(fā)模塊，其負責將上位機發(fā)送的協(xié)議轉換為待測試光模塊可以識別的協(xié)議，如RS232轉IIC、USB轉IIC等)向待測試光模塊發(fā)送測試數據；這種測試方式的缺點為每次僅將一個待測試光模塊與上位機連接，而在一個待測試光模塊測試完畢后，需人工將該待測試光模塊取下，再將下一塊待測試光模塊與上位機連接，才能進行后續(xù)的測試；而在更換...
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