技術(shù)編號：9524773
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本發(fā)明設(shè)及光學(xué)圖像處理，特別是一種基于非下采樣輪廓波變換的光學(xué)條紋圖抑 噪方法。背景技術(shù) 結(jié)構(gòu)光投影Ξ維面形測量技術(shù)中，光學(xué)條紋圖是被測物體Ξ維面形信息的載體。 該技術(shù)中實測的光學(xué)條紋圖常包含代表背景光的低頻成分、基頻成分W及高頻噪聲成分。 其中基頻成分包含了被測物體的Ξ維面形信息。對光學(xué)條紋圖進行高精度快速處理，抑制 背景光成分和噪聲成分，獲取基頻成分并提取其物理量信息是實現(xiàn)Ξ維面形快速高精度測 量的關(guān)鍵。光學(xué)條紋圖抑噪與一般數(shù)字圖像抑噪的目的和評價標(biāo)...
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