技術(shù)編號：9526596
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種太陽能組件的衰減測試裝置及其方法，尤其涉及一種太陽能組件抗PID效應(yīng)能力的檢測裝置及其檢測方法，屬于太陽能組件測試。技術(shù)背景太陽能組件在一定的溫濕度和電壓環(huán)境下長期工作時(shí)，由于組件邊框接地，在太陽能組件方陣負(fù)極端工作的組件，電池對邊框形成負(fù)電壓，導(dǎo)致組件封裝材料之間產(chǎn)生漏電流，使組件性能衰退的現(xiàn)象稱之為電勢誘導(dǎo)衰減(PID，potential-1nduceddegradat1n)效應(yīng)。PID效應(yīng)表現(xiàn)在玻璃和封裝材料間存在漏電流，封裝材料、背板...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。