技術(shù)編號：9545877
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。隨著集成電路中熔絲的理論與技術(shù)逐漸成熟，熔絲的應(yīng)用范圍迅速擴大。其中熔絲單元的設(shè)計從原先的斷裂模式的設(shè)計理念逐漸轉(zhuǎn)變?yōu)楫?dāng)下普遍應(yīng)用的電子遷移模式，通過電子遷移模式能夠顯著提高熔絲單元的穩(wěn)定性和可靠性，而對于電子遷移模式的熔絲單元設(shè)計，其熔斷電流的穩(wěn)定性和精確度成為設(shè)計的關(guān)鍵，熔斷電流對熔絲編程的可靠性至關(guān)重要?，F(xiàn)有技術(shù)中，一般通過測量或讀取熔燒之后的熔絲的阻抗/邏輯來判斷熔絲是否正確編程，然后再利用修復(fù)線路對其進行修復(fù)以間接的提高熔絲整體的良率。但是，現(xiàn)有...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。