技術(shù)編號：9550644
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。以往已知一種檢測開關(guān)元件的劣化的故障檢測裝置(例如，參照專利文獻(xiàn)1)。該故障檢測裝置具備以外置的方式與開關(guān)元件的集電極連接的故障檢測專用的高耐壓的二極管元件，基于借助該高耐壓的二極管元件檢測出的電壓來檢測該開關(guān)元件的劣化。專利文獻(xiàn)1日本特開2009-159671號公報(bào)然而，在上述現(xiàn)有技術(shù)中，如果不另行設(shè)置故障檢測專用的二極管元件，就無法進(jìn)行劣化檢測。發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的目的在于提供一種即使不另行設(shè)置故障檢測專用的二極管元件也能夠進(jìn)行劣化檢測的半導(dǎo)體裝置以...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。