技術(shù)編號:9578429
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。介質(zhì)損耗測試是電容式電流互感器絕緣測試中十分重要的項目。但隨著設(shè)備電壓等級越來越高,常規(guī)的10kv介質(zhì)損耗測試由于其電壓與設(shè)備額定電壓相差甚遠(yuǎn),其測試數(shù)據(jù)難以全面反映出電容式電流互感器的絕緣特性。目前,現(xiàn)場檢測變壓器套管、GIS中套管、電流互感器、電容型電壓互感器絕緣缺陷的主要手段是進(jìn)行10kV下的介損試驗,通過測量介損(tgS )的大小、電容量的變化,可以發(fā)現(xiàn)絕緣整體受潮、油或浸漬物贓污、劣化變質(zhì)等缺陷。可是,10kV的試驗電壓遠(yuǎn)低于設(shè)備的運(yùn)行電壓,不能...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。