技術(shù)編號(hào)：9647660
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。典型的質(zhì)量選擇檢測(cè)器可包括離子阱質(zhì)量選擇器和/或質(zhì)量過(guò)濾器。這些離子阱，諸如典型的雙曲線阱內(nèi)的電場(chǎng)可以通過(guò)調(diào)整阱內(nèi)的電極間距和/或電極的雙曲線角度而被微調(diào)。當(dāng)對(duì)過(guò)濾器中所產(chǎn)生的電場(chǎng)進(jìn)行優(yōu)化時(shí)，該有限的調(diào)節(jié)能力會(huì)遇到很大挑戰(zhàn)，并因此對(duì)質(zhì)量選擇檢測(cè)器的性能也產(chǎn)生影響。本公開(kāi)提供一種質(zhì)量分離器、質(zhì)量選擇檢測(cè)器、以及用于優(yōu)化質(zhì)量選擇檢測(cè)器內(nèi)的質(zhì)量分離的方法。這些分離器、檢測(cè)器、和/或方法可以利用和/或提供新型的幾何，所述新型的幾何可以被利用和/或修正以優(yōu)化質(zhì)量選擇...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。