技術(shù)編號：9665575
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。對于光學(xué)元件，特別是各類光學(xué)薄膜元件，表面吸收特性是一個非常重要的性能參數(shù)，直接影響到光學(xué)元件在光學(xué)系統(tǒng)中的功效。很多精密的光學(xué)系統(tǒng)對光學(xué)元件的表面吸收等特性都有非常嚴(yán)格的要求。因此，對光學(xué)元件的表面吸收特性進行精確測量，是非常必要的?，F(xiàn)有測量光學(xué)元件表面吸收特性的方法主要有分光光度法、橢偏法、激光光熱法等。分光光度法和橢偏法雖然比較簡單，但是最大的問題是吸收率測量的靈敏度不夠，通常只有10—3?10—4左右。而現(xiàn)在很多光學(xué)系統(tǒng)對光學(xué)元件吸收率的要求達到1...
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