技術(shù)編號(hào)：9706970
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope，簡(jiǎn)稱AFM)是一種用來(lái)研究材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器，利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細(xì)探針與受測(cè)樣品原子之間的作用力來(lái)來(lái)呈現(xiàn)樣品的表面特性，可對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣體等表面進(jìn)行微納米精度的成像，在表面科學(xué)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的研究中有著重大的意義和廣泛的應(yīng)用前景，是一種強(qiáng)有力的表征手段。AFM的工作原理是通過(guò)檢測(cè)原子之間的接觸、原子鍵合、范德瓦耳斯力或卡西米爾效應(yīng)等來(lái)呈現(xiàn)樣品的表面特性。將對(duì)微弱力...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。