技術(shù)編號(hào)：9707209
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 隨著衛(wèi)星應(yīng)用技術(shù)的快速發(fā)展，各類衛(wèi)星在科學(xué)實(shí)踐中起著越來(lái)越大作用，各類 衛(wèi)星對(duì)實(shí)時(shí)高精度位置、時(shí)間信息需求愈加迫切。與地面觀測(cè)不同，衛(wèi)星幾何圖形變化快， 不受對(duì)流層折射影響，導(dǎo)致一些電離層電子含量變化大等現(xiàn)象使得傳統(tǒng)的方法不再有效。 對(duì)于周跳探測(cè)和修復(fù)的研究，方法很多，典型的周跳探測(cè)方法有兩類，一類是通過 檢查觀測(cè)數(shù)據(jù)及其線性組合的連續(xù)性來(lái)探測(cè)周跳，因?yàn)橹芴茐牧藬?shù)據(jù)的連續(xù)性。這類方 法中比較經(jīng)典的有高次差法、多項(xiàng)式擬合法、小波分析法。檢驗(yàn)量包括電離層組...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。