技術(shù)編號：9725947
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。當(dāng)前對二代和三代制冷型紅外焦平面探測器組件的壽命要求普遍為十五年左右，影響其壽命的主要因素為探測器微杜瓦的真空壽命，而杜瓦的真空壽命主要取決于封裝于內(nèi)部的各類零部件的放氣(包括探測器芯片、冷屏、陶瓷襯底及濾光片等)，由于涉及電學(xué)引出及低溫工作特點(diǎn)，各個零部件之間均采用低溫環(huán)氧類膠結(jié)工藝，有機(jī)的環(huán)氧膠在高真空環(huán)境下會緩慢分解形成H2、H20、C0等各類小分子氣體，最終導(dǎo)致探測器杜瓦內(nèi)的真空失效。冷屏作為探測器內(nèi)部限制光路和消除雜散光的重要零件，其內(nèi)壁一般設(shè)計(jì)...
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