技術(shù)編號(hào):9749442
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種掃描探針顯微鏡的探針,尤其涉及一種多參量耦合顯微鏡探針、其制備方法及探測(cè)方法。背景技術(shù)隨著納米科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,針對(duì)納米材料的測(cè)量技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,其中最引人注目的是掃描探針顯微鏡(STM)技術(shù)。掃描探針顯微鏡(STM)技術(shù)是基于掃描隧道顯微鏡(SPM)基礎(chǔ)發(fā)展而來(lái)的,具有空間分辨率高,可在真空、大氣、甚至溶液等多種環(huán)境中變溫工作等諸多優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于物理學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)、電子學(xué)等研究領(lǐng)域。掃描探針顯微鏡是通過(guò)檢測(cè)探針與樣品之間的相互作用力或...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。