技術編號：9785417
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。表面檢測，特別是表面微小缺陷檢測，一直以來都被物體表面的環(huán)境灰塵、毛絲等可去除異物所干擾。由于環(huán)境灰塵、毛絲等可去除異物在檢測圖像中的特征與表面微小缺陷(如凸凹坑點、劃傷、涂層脫落等)十分接近，幾乎無法正確區(qū)分。所以會造成檢測設備的準確度不高，誤判較大，嚴重影響檢測設備的功效。如果僅用吹氣清潔的多張相同照明條件下的圖像差異來排除可去除的異物，會由于環(huán)境影響、光源的波動、相機的信號噪聲等，造成實際缺陷位置的圖像信號波動，所以容易造成實際缺陷的漏判(因為波動的...
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