技術(shù)編號：9812464
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。半導(dǎo)體集成電路通常會采用測試模式啟動(dòng)電路來產(chǎn)生測試模式啟動(dòng)信號。測試模式啟動(dòng)信號將集成電路裝置切換至測試模式，以測試集成電路裝置中的功能電路。在公知的設(shè)計(jì)中，測試模式啟動(dòng)信號是由高于或是低于一個(gè)特定電壓電平的控制電壓來實(shí)現(xiàn)。當(dāng)集成電路裝置檢測到這個(gè)控制電壓時(shí)，即由運(yùn)作模式切換至測試模式。然而，集成電路裝置可能會由于噪聲的影響而意外地切換到測試模式，例如在測試模式啟動(dòng)信號的輸入端發(fā)生的接地噪聲。另一方面，如果此控制電壓的電壓電平高于集成電路裝置內(nèi)部元件所能承...
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