技術(shù)編號：9862677
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。 本發(fā)明設(shè)及一種四像機組平面陣列特征點Ξ維測量系統(tǒng)及測量方法，屬于光學電 子測量技術(shù)產(chǎn)品和方法的;具體說屬于采用數(shù)字相機組對被測物的Ξ維特征點坐 標通過圖像處理的方式進行位置和尺寸測量并計算出被視物體特征點Ξ維位置坐標點云 數(shù)據(jù)的方法的。背景技術(shù) 目前快速準確的計算出被視物體特征點的Ξ維位置坐標點云數(shù)據(jù)進而實現(xiàn)被視 物體全部外觀尺寸的Ξ維立體快速精確測量的Ξ維測量采用的方式和存在的問題如下所 述[000引一、單點視覺測量法 我們可W將各類非接觸長度測量傳感...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。