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      一種波片檢測裝置及方法技術資料下載

      技術編號:9863093

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      波片是光學儀器設計與光學測量領域中常用的光學元件,它能夠使得偏振光的兩 個垂直分量產(chǎn)生附加光程差(或相位差),該光程差稱為波片的相位延遲量。波片的相位延 遲特性可用于改變光波的偏振態(tài)(例如從線偏振光變成圓偏振光,從楠圓偏振光變成線偏 振光等),或者檢查光波的偏振態(tài)。波片通常由雙折射晶體制作而成,常用的雙折射晶體包 括云母、石膏、氣化儀、藍寶石、結晶石英等。 波片的光學特性包括相位延遲量、快軸方位角、旋光角、二向色性、退偏指數(shù)等,運 些光學特性都會影響光學...
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