技術(shù)編號：9882717
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。進(jìn)行電子探針測試的樣品大都是不導(dǎo)電的巖石和礦物樣品，一般事先制作成表面拋光的電子探針薄片(長<50mm，一般48mm左右，寬25mm左右)。上機(jī)測試之前需要在薄片的表面鍍一層導(dǎo)電薄膜，通常是在真空鍍膜儀上給電子探針薄片鍍一層導(dǎo)電的碳膜。以日本電子株式會社生產(chǎn)的JEE-420型真空鍍膜儀為例，擺放樣品的底盤是一個(gè)半徑為I OOmm的圓盤。碳膜噴射點(diǎn)(即碳弧)位于圓盤中心上方高約I OOmm的地方。噴碳時(shí)，碳蒸汽以碳弧為中心點(diǎn)以球狀發(fā)射的方式向四周噴射。...
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