[0066]有利的是，以此有可能以簡單、快速和精確的方式測量食品產(chǎn)品的核心溫度。本方法允許以特別有利的方式以適于不同的要求。因此，可采用例如單個陣列天線來降低溫度檢測設(shè)備的制造成本。然而，僅采用一個陣列天線在食品產(chǎn)品或多個食品產(chǎn)品上方掃描可需要相對于溫度檢測設(shè)備的食品產(chǎn)品的低速度和/或小的掃描長度。
[0067]可選地或另外地，當(dāng)例如具有窄帶形狀的第一檢測區(qū)橫跨整個食品產(chǎn)品時，橫向分辨率會較低。
[0068]可選地，當(dāng)溫度檢測設(shè)備包括多個第一檢測區(qū)，例如通過包括每一個陣列天線具有第一檢測區(qū)的多個陣列天線，測量速度和溫度分布分辨率雖然高，但是其會包括具有較高生產(chǎn)成本的溫度檢測設(shè)備。
[0069]本發(fā)明的另一個主題是一種通過利用根據(jù)本發(fā)明的溫度檢測設(shè)備控制根據(jù)本發(fā)明的熱處理設(shè)備的方法，其中在第一步驟中，食品產(chǎn)品通過加熱裝置被熱處理，其中在第二步驟中，食品產(chǎn)品的核心溫度通過溫度檢測設(shè)備被測量，其中在第三步驟中，控制裝置根據(jù)溫度檢測設(shè)備提供的信息控制加熱裝置。
[0070]關(guān)于本發(fā)明的這一主題所公開的內(nèi)容也適用于本申請的其他主題，反之亦然。
[0071]有利的是，可能更有效地操作本發(fā)明的熱處理設(shè)備。此外，有利的是，以此有可能提高食品產(chǎn)品的味道和/或符合健康、安全、食品和衛(wèi)生條例。如果在對食品產(chǎn)品進行加熱裝置的熱處理之后，所測量的核心溫度在預(yù)定的溫度范圍之外，加熱裝置會自動地被調(diào)節(jié)，其提高熱處理工藝并允許熱處理設(shè)備的基本上完全自動操作。
【附圖說明】
[0072]現(xiàn)在根據(jù)圖1-圖8解釋本發(fā)明。這些解釋僅作為示例且并不限定保護范圍。附圖旨在說明本發(fā)明的特征，且因此可描繪附圖中未按比例繪制和/或以不同比例繪制的元件。
[0073]圖1示出了陣列天線的示意性說明。
[0074]圖2示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的熱處理設(shè)備的示意性俯視圖。
[0075]圖3示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的熱處理設(shè)備的示意性俯視圖。
[0076]圖4示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的溫度檢測設(shè)備的示意性側(cè)視圖。
[0077]圖5示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的陣列天線的原理的示意性側(cè)視圖。
[0078]圖6示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的溫度檢測設(shè)備的示意性側(cè)視圖。
[0079]圖7示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的溫度檢測設(shè)備的橫截面細(xì)節(jié)。
[0080]圖8-圖10示出了本發(fā)明構(gòu)思的不同實施例的示意性俯視圖。
【具體實施方式】
[0081]圖1示出了陣列天線的示意性說明。陣列天線由多個，此處是六個，天線組成，其被電子地優(yōu)選單獨地連接并且被控制，使得它們的相位差可被控制。在描繪的情況下，所有的天線包括相同的相位，即相位差為零。在這種情況下，來自每一個天線的信號會相長干涉(interfere constructively)使得在一定距離從天線福射的波看起來像平面波。
[0082]可選地，當(dāng)采用相控陣列天線時，天線的相位可被調(diào)節(jié)使得他們的信號以創(chuàng)建高方向性天線圖案這樣的方式干涉。因此，相控陣列天線的方向性200可被控制，從而允許聚焦在非常小的區(qū)域，例如在幾平方米的規(guī)模上。
[0083]圖2示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的熱處理設(shè)備4的示意性俯視圖。熱處理設(shè)備4可以是烤箱并且通常包括殼體，其為了清楚起見未示出。熱處理設(shè)備4進一步包括加熱裝置5，其將熱施加至通過加熱裝置5的食品產(chǎn)品2、2’。這種食品產(chǎn)品2、2’例如是肉類產(chǎn)品或其他需要進行巴氏滅菌以提高他們的味道和/或符合食品和/或安全性和/或衛(wèi)生條例的任何含蛋白質(zhì)產(chǎn)品。
[0084]食品產(chǎn)品2、2’被放置在運輸裝置6上，通過運輸裝置食品產(chǎn)品2、2’在運輸方向A被運輸通過熱處理設(shè)備4。一些食品產(chǎn)品2可任意被排列在運輸裝置6上，同時其他食品產(chǎn)品(在相同或不同實施例中)2’可被設(shè)置為預(yù)定的圖案，此處為成排地或并排地沿運輸裝置的寬度6排列。
[0085]熱處理設(shè)備4包括至少一個溫度檢測設(shè)備1，其未在圖2中描繪。溫度檢測設(shè)備1被配置使得它測量食品產(chǎn)品2、2’的核心溫度，即食品產(chǎn)品2、2’的針對z方向的中心的溫度，其垂直于根據(jù)圖2的說明中的投影平面。這通過測量由食品產(chǎn)品2、2’發(fā)射的例如具有3.2GHz的中心頻率和80MHz的帶寬的微波輻射來實現(xiàn)。
[0086]溫度檢測設(shè)備1被優(yōu)選地配置使得它測量優(yōu)選地覆蓋運輸裝置6的整個寬度的第一檢測區(qū)100中的核心溫度。為了提供高的橫向分辨率，即在x_y方向，溫度檢測設(shè)備1包括陣列天線，其中，每一個陣列天線和/或陣列天線的每一個天線覆蓋小的檢測區(qū)，使得第一檢測區(qū)100包括多個檢測區(qū)。
[0087]下面參照圖8a-圖8c討論關(guān)于第一檢測區(qū)100的替代實施例。
[0088]圖3示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的熱處理設(shè)備4的示意性俯視圖。示例性實施例基本上對應(yīng)于參照圖2討論的實施例。根據(jù)此處示出的實施例，熱處理設(shè)備4進一步包括屏蔽裝置7，其可被集成在熱處理設(shè)備4的殼體中并且將溫度檢測設(shè)備1與外部輻射源或甚至與目前未在第一檢測區(qū)100中的其他食品產(chǎn)品2或食品產(chǎn)品2的區(qū)域發(fā)射的輻射隔離。屏蔽裝置7完全圍繞運輸裝置的橫截面。
[0089]熱處理設(shè)備4包括兩個溫度檢測設(shè)備1，其中一個被設(shè)置在運輸方向A上的加熱裝置5之前，另一個設(shè)置在運輸方向A上的加熱裝置5之后。因此，加熱裝置可依賴于食品產(chǎn)品2的初始核心溫度被操作，例如出于安全原因，核心溫度在加熱過程之后被檢查。如果食品產(chǎn)品2在加熱后具有預(yù)定的值以下的核心溫度，則未描述的操縱裝置10可將食品產(chǎn)品2從運輸裝置6移除并處理它，其由虛線圓表示。
[0090]此外，熱處理設(shè)備4可包括檢測裝置8和/或跟蹤裝置9。
[0091]檢測裝置8例如是光傳感器，而跟蹤裝置9可以是(XD攝像機。檢測裝置8檢測食品產(chǎn)品2的存在性，且例如如果未檢測到食品產(chǎn)品2，則它將加熱裝置5關(guān)小甚至關(guān)閉?？蛇x地或另外地，溫度檢測設(shè)備1，特別是陣列天線也可以是檢測裝置8。例如，一定最低溫度值可被設(shè)置為用于檢測食品產(chǎn)品的存在性的閾值，從而例如區(qū)分運輸裝置6和食品產(chǎn)品2、2，。
[0092]優(yōu)選地，多個紅外線攝像機被用作檢測裝置，例如通過測量食品產(chǎn)品的形狀和/或位置和/或體積。因此，可獲得食品產(chǎn)品的三維圖像。
[0093]跟蹤裝置9特別沿著運輸裝置6的寬度跟蹤食品產(chǎn)品2的位置或尺寸，或在投影面的位置或尺寸并且將信息和通過溫度檢測設(shè)備1測量的核心溫度關(guān)聯(lián)。因此，包括溫度分布信息的組合的圖像可被創(chuàng)建，其允許更好地控制加熱過程。
[0094]檢測裝置8可包括與跟蹤裝置9至少部分地相同的元件和/或檢測裝置8可被配置使得它也執(zhí)行跟蹤裝置9的功能，例如沿至少一個方向(即X、y和/或z方向)確定食品產(chǎn)品的尺寸。
[0095]圖4示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的溫度檢測設(shè)備1的示意性側(cè)視圖。溫度檢測設(shè)備1包括陣列天線和紅外線攝像機3，紅外線攝像機3分別包括第一檢測區(qū)100和第二檢測區(qū)101。如所示，第二檢測區(qū)101可大于第一檢測區(qū)100。可選地，第二檢測區(qū)101等于第一檢測區(qū)。
[0096]紅外線攝像機3產(chǎn)生高分辨的表面溫度分布。通過結(jié)合紅外線攝像機3的表面溫度分辨率和陣列天線的核心溫度分布，可獲得精確的三維溫度分布。這在陣列天線的橫向分辨率與紅外線攝像機相比低的情況下特別有幫助。然而，當(dāng)陣列天線的橫向分辨率或至少兩個陣列天線的組合的橫向分辨率足夠高時，為了獲得良好分辨的溫度分布，可能不需要這種紅外線攝像機3。
[0097]雖然根據(jù)示例性實施例，溫度檢測設(shè)備1被設(shè)置在食品產(chǎn)品2和運輸裝置6的上方，優(yōu)選的是，溫度檢測設(shè)備1被設(shè)置在運輸裝置的下方。它也可設(shè)置在任何其他位置。
[0098]圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性實施例的陣列天線的原理的示意性側(cè)視圖。如所示，溫度檢測設(shè)備1包括多個天線或甚至多個陣列天線。溫度檢測設(shè)備1包括方向性200。
[0099]示例性布置僅用于說明的目的。優(yōu)選地，陣列天線或溫度檢測設(shè)備被設(shè)置在食品產(chǎn)品和運輸裝置的下方。
[0100]因此，表示食品產(chǎn)品2的核心溫度的各向同性微波輻射僅被部分地檢測。如所示，輻射的僅一部分對應(yīng)于接收的能量201，而其余部分為損失的能量202。
[0101]為了增加接收的能量201的部分，反射板可設(shè)置在運輸裝置6的下方，反射微波輻射。
[0102]本領(lǐng)域技術(shù)人員公認(rèn)的是，方向性200確定由食品產(chǎn)品2發(fā)射的總輻射中哪部分對應(yīng)于接收的能量201，哪部分對應(yīng)于損失的能量202。因此，通過改變方向性200，例如通過調(diào)節(jié)陣列天線的天線的相移，特別是收集它的立體角和/或接收的能量201的量，接收的能量201的部分可被改變。
[0103]圖6示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的溫度檢測設(shè)備的示意性側(cè)視圖。在此，陣列天線包括漏波耦合型開放波導(dǎo)13，其設(shè)置在運輸裝置6的下面，且因此食品產(chǎn)品2下方被測量。
[0104]開放波導(dǎo)13在此被螺旋地設(shè)置并且包括例如為波長的約20倍的長度。開放波導(dǎo)13可用作陣列天線的天線或可構(gòu)成例如具有對應(yīng)于該陣列天線的天線的波導(dǎo)回路14的其自身的陣列天線。
[0105]參照圖5討論的反射板可被設(shè)置在