技術(shù)特征：

1.一種測(cè)量耳振動(dòng)的方法，其特征在于，所述方法包括：

通過(guò)超輻射發(fā)光二極管SLD發(fā)射近紅外光，并將所述近紅外光通過(guò)光環(huán)行器OC傳輸至樣品臂和參考臂；

所述參考臂的光通過(guò)一對(duì)透鏡聚焦在所述參考鏡，所述樣品臂的光通過(guò)光釬輸入手持式的探頭并通過(guò)所述探頭中的掃描鏡頭和中繼鏡掃描至鼓膜和鼓膜下方的鐙骨頭；

從所述樣品臂和所述參考臂返回的光通過(guò)光釬耦合器傳輸至所述OC；

通過(guò)鏡頭和光柵散射投影到線陣相機(jī)，所述線陣相機(jī)通過(guò)數(shù)字接口與計(jì)算機(jī)上的采集卡相連。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述從所述樣品臂和所述參考臂返回的光通過(guò)光釬耦合器傳輸至所述OC，包括：

從所述樣品臂和所述參考臂返回的光產(chǎn)生干涉信號(hào)，所述干涉信號(hào)通過(guò)所述光釬耦合器傳輸至所述OC，所述干涉信號(hào)為：

$S\left(\mathrm{\λ}\right)=2P\left(\mathrm{\λ}\right)\sqrt{R_s{R}_r}cos(2\mathrm{\π}\mathrm{\Δ}L/\mathrm{\λ});$

S(λ)＝S(1/λ)∝Acos(2πΔL/λ)；

其中，P(λ)是光源的功率，R_s和R_r分別是所述樣品臂和所述參考臂的反射系數(shù)，ΔL是組織深度Z_s與組織表面的光程和，相對(duì)于所述參考臂光程的差，n_s是樣品的折射系數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述從所述樣品臂和所述參考臂返回的光通過(guò)光釬耦合器傳輸至所述OC之后，還包括：

對(duì)所述S(1/λ)信號(hào)進(jìn)行傅立葉變換F(ΔL)＝F(Z_s)＝fft(S(1/λ))；

F(ΔL)的幅值的平方R(Z_s)＝k·abs(F²(Z_s))為在Z_s點(diǎn)組織的反射系數(shù)；

其中，是矯正常數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述通過(guò)鏡頭和光柵散射投影到線陣相機(jī)，所述線陣相機(jī)通過(guò)數(shù)字接口與計(jì)算機(jī)上的采集卡相連之后，還包括：

在預(yù)設(shè)(x,y)，通過(guò)所述線陣相機(jī)采集S(λ)，獲取時(shí)間序列S(λ,t),所述S(λ,t)的傅立葉變換是F(Z_S，t)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述通過(guò)傅里葉變換得到的相位為：

$\mathrm{\φ}\left(t\right)=\frac{4\mathrm{\π}n}{\mathrm{\λ}}(Z_s+Acos(2{\mathrm{\πf}}_{vib}t\left)\right)=\frac{4{\mathrm{\πnZ}}_s}{\mathrm{\λ}}+\frac{4\mathrm{\π}n}{\mathrm{\λ}}Acos\left(2{\mathrm{\πf}}_{vib}t\right);$

對(duì)所述φ(t)的差分去除振動(dòng)無(wú)關(guān)項(xiàng)

其中，A(f_vib)＝fft(Asin(2πf_vibt))。

6.一種測(cè)量耳振動(dòng)的裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一傳輸模塊，用于通過(guò)超輻射發(fā)光二極管SLD發(fā)射近紅外光，并將所述近紅外光通過(guò)光環(huán)行器OC傳輸至樣品臂和參考臂；

聚焦模塊，用于所述參考臂的光通過(guò)一對(duì)透鏡聚焦在所述參考鏡，所述樣品臂的光通過(guò)光釬輸入手持式的探頭并通過(guò)所述探頭中的掃描鏡頭和中繼鏡掃描至鼓膜和鼓膜下方的鐙骨頭；

第二傳輸模塊，用于從所述樣品臂和所述參考臂返回的光通過(guò)光釬耦合器傳輸至所述OC；

投影模塊，用于通過(guò)鏡頭和光柵散射投影到線陣相機(jī)，所述線陣相機(jī)通過(guò)數(shù)字接口與計(jì)算機(jī)上的采集卡相連。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第二傳輸模塊，用于：

從所述樣品臂和所述參考臂返回的光產(chǎn)生干涉信號(hào)，所述干涉信號(hào)通過(guò)所述光釬耦合器傳輸至所述OC，所述干涉信號(hào)為：

$S\left(\mathrm{\λ}\right)=2P\left(\mathrm{\λ}\right)\sqrt{R_s{R}_r}cos(2\mathrm{\π}\mathrm{\Δ}L/\mathrm{\λ});$

S(λ)＝S(1/λ)∝Acos(2πΔL/λ)；

其中，P(λ)是光源的功率，R_s和R_r分別是所述樣品臂和所述參考臂的反射系數(shù)，ΔL是組織深度Z_s與組織表面的光程和，相對(duì)于所述參考臂光程的差，n_s是樣品的折射系數(shù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

第一變換模塊，用于對(duì)所述S(1/λ)信號(hào)進(jìn)行傅立葉變換F(ΔL)＝F(Z_s)＝fft(S(1/λ))；

F(ΔL)的幅值的平方R(Z_s)＝k·abs(F²(Z_s))為在Z_s點(diǎn)組織的反射系數(shù)；

其中，是矯正常數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求6至8任意一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

第二變換模塊，用于在預(yù)設(shè)(x,y)，通過(guò)所述線陣相機(jī)采集S(λ)，獲取時(shí)間序列S(λ,t),所述S(λ,t)的傅立葉變換是F(Z_S，t)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述第二變換模塊，用于：

通過(guò)傅里葉變換得到的相位為：

$\mathrm{\φ}\left(t\right)=\frac{4\mathrm{\π}n}{\mathrm{\λ}}(Z_s+Acos(2{\mathrm{\πf}}_{vib}t\left)\right)=\frac{4{\mathrm{\πnZ}}_s}{\mathrm{\λ}}+\frac{4\mathrm{\π}n}{\mathrm{\λ}}Acos\left(2{\mathrm{\πf}}_{vib}t\right);$

對(duì)所述φ(t)的差分去除振動(dòng)無(wú)關(guān)項(xiàng)

其中，A(f_vib)＝fft(Asin(2πf_vibt))。