本實(shí)用新型涉及醫(yī)療技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種經(jīng)穴測量儀。

背景技術(shù)：

穴位電測定是從皮膚電現(xiàn)象研究穴位的特性。一種是在有外加電流情況下測定皮膚電阻變化；一種是在沒有外加電流情況下從皮膚導(dǎo)出電流，測定電位變化。皮膚電阻測定多采用經(jīng)穴測定儀進(jìn)行，將一些電阻低而導(dǎo)電量較高的點(diǎn)稱為“良導(dǎo)點(diǎn)”，其位置多數(shù)與穴位相符。皮膚電位測定，發(fā)現(xiàn)一些電位較高的點(diǎn)與內(nèi)臟功能有一定關(guān)系，被稱為“皮膚活動點(diǎn)”，其數(shù)量較穴位多，有的點(diǎn)與穴位相符。穴位具有低電阻高電位的特性，從皮膚電現(xiàn)象研究穴位的特性。一種是在有外加電流情況下測定皮膚電阻變化；一種是在沒有外加電流情況下從皮膚導(dǎo)出電流，測定電位變化。皮膚電阻測定多采用經(jīng)穴測定儀進(jìn)行，將一些電阻低而導(dǎo)電量較高的點(diǎn)稱為“良導(dǎo)點(diǎn)”，其位置多數(shù)與穴位相符。皮膚電位測定，發(fā)現(xiàn)一些電位較高的點(diǎn)與內(nèi)臟功能有一定關(guān)系，被稱為“皮膚活動點(diǎn)”，其數(shù)量較穴位多，有的點(diǎn)與穴位相符。從測定結(jié)果看，全身皮膚電位有從四肢向頭面逐漸增高而電阻逐漸減低的趨勢，面部為電位較高或電阻較低的部位，但是現(xiàn)有的經(jīng)穴治療儀沒有匹配的經(jīng)穴測量儀，使用時(shí)無法找到穴位的準(zhǔn)確位置，針對上述問題，特提出一種經(jīng)穴測量儀。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于提供一種經(jīng)穴測量儀，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：一種經(jīng)穴測量儀，包括左柄和右柄，所述左柄的下端和右柄的下端通過彈性件連接，所述左柄和右柄的前端分別安裝有第一金屬測量頭和第二金屬測量頭，所述右柄的側(cè)壁上安裝有電源開關(guān)按鍵、顯示屏和電阻歸零按鍵，所述右柄的內(nèi)部設(shè)有依次電連接的預(yù)積分電路、積分電路、ADC電路、處理器單元和數(shù)字接口電路，所述處理器單元通過電導(dǎo)體連接有開關(guān)控制電路和供電單元，且開關(guān)控制電路分別通過電導(dǎo)體與預(yù)積分電路和積分電路連接，所述預(yù)積分電路分別通過電導(dǎo)體連接到第一金屬測量頭和第二金屬測量頭，所述數(shù)字接口電路通過數(shù)據(jù)線連接到顯示屏，所述開關(guān)控制電路通過電導(dǎo)體連接到電源開關(guān)按鍵和電阻歸零按鍵。

優(yōu)選的，所述左柄的右側(cè)壁上安裝有距離測定桿，且距離測定桿的側(cè)壁上刻有第一刻度線，所述左柄的側(cè)壁上刻有第二刻度線。

優(yōu)選的，所述供電單元通過電導(dǎo)體連接有電壓檢測單元。

優(yōu)選的，所述彈性件呈圓環(huán)狀，且圓環(huán)的上端設(shè)有豁口。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是：一種經(jīng)穴測量儀，結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計(jì)巧妙，使用方便，根據(jù)皮膚不同部位電阻大小不同，穴位處電阻最小，采用積分法，有效的測出兩個(gè)點(diǎn)的電阻，進(jìn)而可以找到穴位的準(zhǔn)確位置。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型右柄內(nèi)部電子元件的電路圖。

圖中：1、左柄，2、右柄，3、彈性件，4、第一金屬測量頭，5、第二金屬測量頭，6、電源開關(guān)按鍵，7、顯示屏，8、電阻歸零按鍵，9、距離測定桿，10、第一刻度線，11、第二刻度線。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

請參閱圖1-2，本實(shí)用新型提供一種技術(shù)方案：一種經(jīng)穴測量儀，包括左柄1和右柄2，所述左柄1的下端和右柄2的下端通過彈性件3連接，所述左柄1和右柄2的前端分別安裝有第一金屬測量頭4和第二金屬測量頭5，所述右柄2的側(cè)壁上安裝有電源開關(guān)按鍵6、顯示屏7和電阻歸零按鍵8，所述右柄2的內(nèi)部設(shè)有依次電連接的預(yù)積分電路、積分電路、ADC電路、處理器單元和數(shù)字接口電路，所述處理器單元通過電導(dǎo)體連接有開關(guān)控制電路和供電單元，且開關(guān)控制電路分別通過電導(dǎo)體與預(yù)積分電路和積分電路連接，所述預(yù)積分電路分別通過電導(dǎo)體連接到第一金屬測量頭4和第二金屬測量頭5，所述數(shù)字接口電路通過數(shù)據(jù)線連接到顯示屏7，所述開關(guān)控制電路通過電導(dǎo)體連接到電源開關(guān)按鍵6和電阻歸零按鍵8，結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計(jì)巧妙，使用方便，根據(jù)皮膚不同部位電阻大小不同，穴位處電阻最小，采用積分法，有效的測出兩個(gè)點(diǎn)的電阻，進(jìn)而可以找到穴位的準(zhǔn)確位置。

具體而言，所述左柄1的右側(cè)壁上安裝有距離測定桿9，且距離測定桿9的側(cè)壁上刻有第一刻度線10，所述左柄1的側(cè)壁上刻有第二刻度線11，可以方便的測量縱向以及橫向的距離。

具體而言，所述供電單元通過電導(dǎo)體連接有電壓檢測單元，可以對供電單元的電壓進(jìn)行檢測，防止過電壓異常工作。

具體而言，所述彈性件3呈圓環(huán)狀，且圓環(huán)的上端設(shè)有豁口，可以更方便的轉(zhuǎn)動左柄1和右柄2。

工作原理：根據(jù)皮膚不同部位電阻大小不同，穴位處電阻最小，采用積分法，測量電路具體包括一積分電路U1、模數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)電路U2、處理器單元U3以及開關(guān)控制電路U4。所述積分電路U1將輸入的電流信號Iin轉(zhuǎn)化為電壓信號，所述ADC電路U2將所述電壓信號轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號并傳入所述處理器單元U3，所述處理器單元U3接收所述數(shù)字信號并運(yùn)算得出所述電流信號Iin的大小。所述積分電路U1進(jìn)一步包括一運(yùn)算放大器A以及一反饋網(wǎng)絡(luò)。所述運(yùn)算放大器A具有一反相輸入端(-)、一正相輸入端(+)以及一輸出端(Vo)。待檢測的所述電流信號Iin從所述反相輸入端輸入，所述正相輸入端接地。所述反饋網(wǎng)絡(luò)的一端接所述運(yùn)算放大器A的反相輸入端，另一端接所述運(yùn)算放大器A的輸出端。所述運(yùn)算放大器A可選取漏電流較低的FET輸入型運(yùn)算放大器，所述漏電流小于1皮安(pA)。所述運(yùn)算放大器A的型號為AD549。所述反饋網(wǎng)絡(luò)包括一第一反饋電路以及與所述第一反饋電路并聯(lián)的第二反饋電路。所述第一反饋電路包括一反饋電阻Rf以及與該反饋電阻Rf串聯(lián)的第一開關(guān)S1。該反饋電阻Rf的阻值可為100KΩ至100MΩ。所述反饋電阻Rf的阻值為10MΩ。該第一反饋電路可用來測量電流值較大的微弱電流。所述反饋網(wǎng)絡(luò)可包括多個(gè)并聯(lián)的第一反饋電路，該多個(gè)第一反饋電路中的反饋電阻Rf的電阻值互不相同，從而可實(shí)現(xiàn)不同量程范圍電流信號的測量。所述第二反饋電路包括一積分電容Ci、第二開關(guān)S2、以及第三開關(guān)S3。所述積分電容Ci與所述第二開關(guān)S2串聯(lián)，所述積分電容Ci與所述第二開關(guān)S2串聯(lián)后與所述第三開關(guān)S3并聯(lián)。所述第二開關(guān)S2用于控制該第二反饋電路的斷開與閉合。所述第三開關(guān)S3用于控制所述積分電容Ci上積累的電荷的瀉放。所述積分電容Ci的電容值為50pF。該第二反饋電路可用來測量電流值相對較小的微弱電流。第二反饋電路可測量小于10nA的電流。所述ADC電路U2用于將所述積分電路U1輸出的電壓信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。具體地，該ADC電路U2可對所述積分電容Ci上積累的積分電壓以及反饋電阻Rf上的電壓進(jìn)行采集并轉(zhuǎn)化成數(shù)字信號。所述ADC電路可通過一ADC芯片來實(shí)現(xiàn)。所述ADC電路采用24位∑-Δ型ADC芯片。所述開關(guān)控制電路U4可用來切換所述第一反饋電路和第二反饋電路以實(shí)現(xiàn)在不同量程范圍內(nèi)電流信號的實(shí)時(shí)檢測。具體地，所述開關(guān)控制電路U4用來控制所述第一開關(guān)S1、第二開關(guān)S2以及第三開關(guān)S3的閉合和斷開。所述第一開關(guān)S1、第二開關(guān)S2以及第三開關(guān)S3均為高絕緣性的開關(guān)。所述第一開關(guān)S1、第二開關(guān)S2以及第三開關(guān)S3的絕緣電阻不低于1012Ω。進(jìn)一步地，所述電流測量電路包括一預(yù)積分電路U5，該預(yù)積分電路U5可在所述積分電容Ci瀉放電荷的過程中來對輸入的電流信號Iin進(jìn)行積分，從而可避免該電流測量電路對電流檢測存在的死時(shí)間，以達(dá)到實(shí)時(shí)檢測所述輸入的電流的目的。該預(yù)積分電路U5包括一預(yù)積分電容Cp，傳輸電阻Rp以及第四開關(guān)S4。所述預(yù)積分電容Cp的一端接地，另一端接所述傳輸電阻Rp。所述第四開關(guān)S4一端接所述傳輸電阻Rp，另一端為該預(yù)積分電路U5的輸出端，接所述積分電路U1的輸入端，具體地，接所述運(yùn)算放大器A的反相輸入端。所述預(yù)積分電容Cp的容值范圍為1pF至10nF。所述第四開關(guān)S4為高絕緣性的開關(guān)。所述第四開關(guān)S4的絕緣電阻不低于1012Ω。所述第四開關(guān)S4由所述開關(guān)控制電路U4來控制。在所述積分電路U1中的積分電容Ci瀉放電荷時(shí)，所述第四開關(guān)S4斷開，輸入的電流信號Iin在所述預(yù)積分電容Cp上積分。當(dāng)所述積分電路U1完成電荷瀉放后，所述第四開關(guān)S4閉合，所述預(yù)積分電容Cp上積累的電荷經(jīng)過所述傳輸電阻Rp釋放，流向積分電路U1，然后通過所述ADC電路U2以及處理器單元U3采集計(jì)算獲得電流信號大小，從而可解決傳統(tǒng)的積分電容法存在死時(shí)間的問題。可以理解，當(dāng)不考慮所述積分電路U1瀉放電荷引起的死時(shí)間時(shí)，所述預(yù)積分電路U5為該電流測量電路中一可選的元件。當(dāng)所述電流測量電路不包括所述預(yù)積分電路U5時(shí)，待檢測的電流信號Iin直接輸入到所述積分電路U1中，所述待檢測的電流信號Iin直接通過所述運(yùn)算放大器A的反相輸入端輸入。所述處理器單元U3用于控制所述開關(guān)控制電路U4，讀取所述ADC電路U2輸出端的數(shù)據(jù)并實(shí)時(shí)處理獲得輸入的電流信號Iin的測量結(jié)果。所述處理器單元U3可為可編輯邏輯器件，如微控制器、微處理器或FPGA。該可編程邏輯器件可自動完成測量的控制和測量結(jié)果的實(shí)時(shí)處理，得出輸入電流的最終測量結(jié)果，再通過測量的電流算出電阻值，進(jìn)而可以找到穴位的準(zhǔn)確位置。

盡管已經(jīng)示出和描述了本實(shí)用新型的實(shí)施例，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以理解在不脫離本實(shí)用新型的原理和精神的情況下可以對這些實(shí)施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型，本實(shí)用新型的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。