一種晶狀體圖像檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及成像系統(tǒng)，尤其涉及一種晶狀體圖像檢測裝置。
【背景技術】
[0002]人眼前部組織包括:全部角膜、虹膜、睫狀體、前房、后房、晶狀體懸韌帶、房角、虹膜、瞳孔及晶狀體。最近發(fā)現(xiàn)分析人眼的晶狀體可以獲得對各類疾病的指示。例如，已經發(fā)現(xiàn)，對眼內的光散射進行的測量可以提供對檢測和監(jiān)控疾病(諸如阿爾茨海默病(AD))發(fā)展有用的診斷信息。特別地，最近已經證明，這種疾病會導致眼睛晶狀體的核上區(qū)域的變化。因為該區(qū)域僅具有不到一毫米的厚度，所以對于該區(qū)域的測量(其將是有用的)而言，測量的位置信息需要非常準確。情況確實如此，因為即使病人在注視照亮的目標時，人眼也幾乎在勾速運動。
[0003]晶狀體圖像分析是診斷眼科疾病的重要手段，例如眼科晶狀體密度的分析。目前主要有兩類方法可以對晶狀體密度進行分析，一類是主觀分級。另一種是基于一套標準照片，把通過特殊照相方法攝取晶狀體后反光和矢狀切面裂隙圖像與之比較，獲得評級，代表性的有L0CS法(lens opacities classificat1n system)，此外還有參照 Emery和 Little的晶狀體核硬度評級標準，也是建立在裂隙燈觀察的基礎之上。這一大類方法應用廣泛，但其最大的缺陷是評級僅僅建立在觀察比對的基礎上，容易受主觀因素影響，且不能準確的定量分析。另一類評估方法相對客觀，是由儀器測量后給出一個密度的相對值，目前市場上有基于Scheimpflug原理研制的Pentacam和EAS-1000型眼前節(jié)圖像分析系統(tǒng)，都是用裂隙光源或彌散光獲得晶狀體的切面或平面圖像，依據(jù)混濁部位反光增強，非混濁部位反光強度低，通過圖像采集凍結“畫面”，并對畫面按反光強度進行計算機灰度分析，定量反映晶狀體的混濁部位和程度。這種方法的缺陷主要有兩個:一、所采集圖像的分辨率低，僅可得到黑白圖像，因此與裂隙燈觀察結果的對應性較差；二、計算機數(shù)據(jù)的分析相對繁瑣，且只能測量選定點的密度，無法直接得到平均密度。
[0004]晶狀體圖像檢測裝置，即成像裝置是對晶狀體圖像進行分析的工具。典型的晶狀體圖像檢測裝置包括:照明光源、照明光闌、照明光投射鏡、成像傳感器以及斷層成像透鏡組。
[0005]目前所使用的晶狀體圖像檢測裝置只能對晶狀體的一個斷層切面進行掃描成像，如果需要觀察不同深度的斷層切面，例如同時觀察晶狀體和人眼后節(jié)(例如視網膜)，則需要調整聚焦深度，并進行兩次觀察。由于沒有做到兩部分光同時對晶狀體和人眼后節(jié)同時進行成像，無法消除兩次測量之間由于人眼轉動或者移動帶來的誤差。

【發(fā)明內容】

[0006]有鑒于現(xiàn)有技術的上述缺陷，本發(fā)明提供了一種新的晶狀體圖像檢測裝置，要解決的技術問題是可以實現(xiàn)同時對晶狀體及人眼后節(jié)進行成像。
[0007]為解決上述問題，本發(fā)明采取的技術方案是:一種晶狀體圖像檢測裝置，包括位于同一光軸并依次排列的照明光源、照明光闌，所述晶狀體圖像檢測裝置還包括用于將通過所述照明光闌透射出的光線分成第一照明光和第二照明光的光線分束器，其中所述第一照明光為平行光，第二照明光為聚焦光；所述晶狀體圖像檢測裝置還包括照明透鏡，所述照明透鏡被配置成將所述第一照明光聚焦到晶狀體，并將所述第二照明光折射為平行光投射到晶狀體。
[0008]優(yōu)選地，所述照明光源為寬帶光源或掃頻光源。
[0009]優(yōu)選地，所述光線分束器包括環(huán)狀玻璃平板及聚焦透鏡，所述環(huán)狀玻璃平板及聚焦透鏡的圓心重疊。
[0010]優(yōu)選地，所述光線分束器包括位于中間的方解石雙凹透鏡和位于兩側的雙折射三合透鏡的凸透鏡。
[0011]優(yōu)選地，所述晶狀體圖像檢測裝置還包括成像傳感器以及成像透鏡組。更優(yōu)選地，所述成像透鏡組包括位于同一光軸的第一成像透鏡、第二成像透鏡和第三成像透鏡。更優(yōu)選地，所述第一成像透鏡、第二成像透鏡和第三成像透鏡的直徑范圍為2cm-2.5cm。更優(yōu)選地，所述第一成像透鏡和第二成像透鏡之間的間隔距離為lcm-2cm。更優(yōu)選地，所述第二成像透鏡和第三成像透鏡之間的間隔距離為lcm-2cm。更優(yōu)選地，所述成像透鏡所在的光軸與所述照明光源的光軸之間的夾角為60°。
[0012]本發(fā)明的有益效果為:光線分束器能夠使入射于其上的平行準直光束變換為沿同一方向傳播的聚焦光束和平行準直光束兩部分，經過照明透鏡進一步折射后，平行光經過人眼晶狀體折射聚焦在人眼后節(jié)(例如視網膜)，聚焦光聚焦在人眼的晶狀體，從而實現(xiàn)同時對晶狀體及人眼后節(jié)進行成像。
[0013]以下將結合附圖對本發(fā)明的構思、具體結構及產生的技術效果作進一步說明，以充分地了解本發(fā)明的目的、特征和效果。
【附圖說明】
[0014]圖1是現(xiàn)有技術的一種晶狀體圖像檢測裝置的結構示意圖。
[0015]圖2是本發(fā)明所提供的晶狀體圖像檢測裝置的第一種優(yōu)選的【具體實施方式】的結構示意圖。
[0016]圖3是本發(fā)明所提供的晶狀體圖像檢測裝置的第二種優(yōu)選的【具體實施方式】的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0017]圖1示出了現(xiàn)有技術的一種晶狀體圖像檢測裝置的結構。
[0018]如圖1所示，該種晶狀體圖像檢測裝置主要包括照明光源1、照明光闌2、照明透鏡
3、成像傳感器4、成像透鏡5。照明光源1發(fā)出的光線通過照明光闌2后經照明透鏡3后射入人眼的晶狀體，以使晶狀體在光照下清晰可見。成像鏡頭的后部有一個成像傳感器4，之前設置有成像透鏡5 ;晶狀體的光線通過成像透鏡5投射到成像傳感器4進行成像，從而對晶狀體的斷層切面進行觀察。
[0019]圖2示出了本發(fā)明所提供的晶狀體圖像檢測裝置的第一種優(yōu)選的【具體實施方式】的結構。
[0020]如圖2所示，該【具體實施方式】中的晶狀體圖像檢測裝置包括照明系統(tǒng)和成像系統(tǒng)，照明系統(tǒng)包括位于同一光軸并依次排列的照明光源1、照明光闌2、光線分束器21、照明透鏡3，成像系統(tǒng)包括成像傳感器4、成像透鏡5。此處只是描述晶狀體圖像檢測裝置的主要結構，并未描述所有的結構組成，很顯然，本領域技術人員可以根據(jù)本發(fā)明所提供的原理以及本領域所熟知的技術實現(xiàn)本發(fā)明所聲稱的技術目的，例如，本領域的技術人員可以根據(jù)本領域所熟知的技術設置掃描設備，并將以上所述的主要結構依據(jù)光學原理安裝到掃描設備上。對本領域所熟知的技術，此處不再詳述。
[0021]在該【具體實施方式】的晶狀體圖像檢測裝置中，照明光源1的作用為提供照明光，照明光闌2的作用為控制光的強弱等。這兩種結構與現(xiàn)有技術并無不同。作為一種優(yōu)選的【具體實施方式】，照明光源1可以為寬帶光源或掃頻光源。更優(yōu)選地，照明光源1可以為產生藍色光的光源。當照明光源出射的光束為極窄帶寬的單色光束時，各個不同波段的光束依次出射，由于窄帶寬光束穿透力強，因此采用掃頻光源作為光源具有探測深度長，探測范圍廣的特點。還可以采用相應的點探測器，從掃頻光源出射的光束經分光，反射與散射后