記錄介質的制作方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明設及記錄介質。
【背景技術】
[0002] 在用于噴墨圖像記錄方法中的記錄介質之中，需求其表面具有低光澤、即其表面 具有良好的"無光澤外觀（matteappearance)"的記錄介質（無光澤紙）。另一方面，如 果將大粒徑的顆粒簡單地添加至墨接收層來實現(xiàn)良好的無光澤外觀，則墨接收層的粘結 性化indingp;rope;rty)會劣化，即，可能發(fā)生落粉現(xiàn)象（dustingphenomenon)。因此，需 求用于實現(xiàn)良好的無光澤外觀且抑制落粉現(xiàn)象的方法。日本專利特開No. 2007-223306 公開了通過在主要由平均二次粒徑為500nmW下的無機顆粒構成的層上形成主要由平均 二次粒徑為1. 5至2. 5ym的濕法二氧化娃構成的層，來實現(xiàn)無光澤外觀。日本專利特開 No. 2012-213924公開了其中含有膠體二氧化娃、氣相法二氧化娃和濕法二氧化娃的墨接收 層配置在紙基材上的記錄介質作為實例。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了包括基材和墨接收層的記錄介質，其中所述墨接收 層從所述基材依次包括含有平均粒徑為50nmW下的無機顆粒的第二墨接收層W及含有平 均粒徑為1.0ymW上的無定形二氧化娃和平均粒徑為50nmW下的無機顆粒的第一墨接 收層，并且所述第一墨接收層中的無定形二氧化娃的含量基于所有無機顆粒的總含量為30 質量％W上且95質量％W下。
[0004] 從W下示例性實施方案的描述中本發(fā)明的進一步特征將變得明顯。
【具體實施方式】 陽0化]根據(jù)通過本發(fā)明人進行的研究，在日本專利特開No. 2007-223306中公開的記錄 介質中，改善了無光澤外觀，但是落粉現(xiàn)象有時出現(xiàn)。在日本專利特開No. 2012-213924中 公開的記錄介質中，實現(xiàn)了無光澤外觀，并且一定程度上抑制了落粉現(xiàn)象，但是所形成的圖 像的顯色性（colordevelopment)差。
[0006] 因此，本發(fā)明旨在于提供具有所形成的圖像高度的顯色性且具有無光澤外觀并且 抑制了落粉現(xiàn)象的記錄介質。
[0007] 下文中，將利用實施方案詳細描述本發(fā)明。
[000引首先，將描述根據(jù)本發(fā)明實施方案的"無光澤外觀"。具有無光澤外觀的記錄介質 是指即使當在任何角度下觀察時也具有小的表面反射且具有小的光澤的記錄介質。更具體 而言，具有無光澤外觀的記錄介質是指其中表面的20°光澤度、60°光澤度和75°光澤度 全部小于6.0%的記錄介質。
[0009] 根據(jù)由本發(fā)明人進行的研究發(fā)現(xiàn)了，當含有平均粒徑為50nmW下的無機顆粒的 第二墨接收層W及含有平均粒徑為1.0ymW上的無定形二氧化娃和平均粒徑為50nmW下 的無機顆粒的第一墨接收層依次配置在基材上，并且進一步地第一墨接收層中的無定形二 氧化娃的含量基于所有無機顆粒的總含量為30質量％W上且95質量％W下時，能夠抑制 落粉現(xiàn)象同時實現(xiàn)所形成的圖像高度的顯色性且維持無光澤外觀。
[0010] 在包括含有無機顆粒的多孔墨接收層的記錄介質中，通常使用具有大粒徑的顆粒 W便實現(xiàn)無光澤外觀。然而，由具有大粒徑的運樣的顆粒形成的墨接收層由于因顆粒引起 的光散射的影響而不具有充分的透明性。當使用作為滲透至墨接收層的結果而固定的染料 墨時，所形成的圖像的顯色性劣化。換言之，在當使用染料墨時形成的圖像的顯色性與記錄 介質的無光澤外觀之間存在折衷關系。因而，發(fā)現(xiàn)，通過將具有高透明性的小顆粒W適合的 量添加至接收層可改善圖像的顯色性而不損害無光澤外觀。另外，通過將小顆粒嵌入大顆 粒之間，改善顆粒之間的粘著性，運可抑制落粉現(xiàn)象。
[0011] 還發(fā)現(xiàn)，通過配置含有平均粒徑為50nmW下的無機顆粒的墨接收層（第二墨接收 層）作為配置在基材上的層W與含有平均粒徑為1.0ymW上的無定形二氧化娃的墨接收 層（第一墨接收層）相鄰，對于染料墨實現(xiàn)了圖像的高度顯色性同時維持期望的無光澤外 觀。 陽〇1引[記錄介質]
[0013] 根據(jù)本發(fā)明實施方案的記錄介質包括基材和第一墨接收層。第二墨接收層可W配 置在基材與第一墨接收層之間。根據(jù)本發(fā)明實施方案的記錄介質特別地是用于噴墨記錄法 中的記錄介質，即噴墨記錄介質。下文中，將描述根據(jù)本發(fā)明實施方案的記錄介質的各構 件。
[0014] < 基材〉
[0015] 基材是例如，僅由原紙構成的基材、或包括原紙和樹脂層的基材，即包括用樹脂涂 覆的原紙的基材。在本發(fā)明的實施方案中，可W使用包括原紙和樹脂層的基材，即樹脂涂覆 的基材。在該情況下，樹脂層可W配置在原紙的僅一個表面上，但是期望配置在原紙的兩個 表面上。
[0016] 原紙主要由木漿制成，任選地包含諸如聚丙締等合成漿和諸如尼龍或聚醋等合成 纖維。木漿的實例包括闊葉樹漂白牛皮紙漿（LBKP)、闊葉樹漂白亞硫酸鹽紙漿（LBSP)、針 葉樹漂白牛皮紙漿（NBKP)、針葉樹漂白亞硫酸鹽紙漿（NBSP)、闊葉樹溶解紙漿（LD巧、針葉 樹溶解紙漿（ND巧、闊葉樹未漂牛皮紙漿（LUK巧和針葉樹未漂牛皮紙漿（NUKP)。它們可 W適當?shù)貑为毣騑兩種W上的組合來使用。運些木漿中，特別地使用包含大量短纖維組分 的LBKP、NBSP、LBSP、NDP和LDP。紙漿特別地是僅包含少量雜質的化學紙漿（硫酸鹽紙漿 或亞硫酸鹽紙漿）。也可使用通過進行漂白處理使白色度改善的紙漿。紙基材可適當?shù)匕?含施膠劑、白色顏料、紙強度增強劑（paperstrengtheningagent)、巧光增白劑、水分保持 劑、分散劑、和軟化劑等。 陽017]在本發(fā)明的實施方案中，原紙的JISP8118中規(guī)定的紙密度優(yōu)選為0.6g/cm3W上且1. 2g/cm3W下，并且更優(yōu)選0. 7g/cm3W上且1. 2g/cm3W下。 陽01引在本發(fā)明的實施方案中，當基材包括樹脂層時，樹脂層的厚度例如為，IOymW上 且60ymW下。在本發(fā)明的實施方案中，樹脂層的厚度通過下述方法來計算。通過用切片 機切出記錄介質來使記錄介質的截面暴露，并用掃描電子顯微鏡觀察截面。在任意選擇的 100個W上的點處測量樹脂層的厚度，并且將厚度的平均值定義為樹脂層的厚度。在本發(fā)明 的實施方案中，其他層的厚度也通過相同的方法來計算。
[0019] 用于樹脂層的樹脂例如為，熱塑性樹脂。熱塑性樹脂的實例包括丙締酸類樹脂、丙 締酸類娃酬樹脂、聚締控樹脂和苯乙締-下二締共聚物。其中，特別地使用聚締控樹脂。在 本發(fā)明的實施方案中，聚締控樹脂是指使用締控作為單體的聚合物。締控樹脂的具體實例 包括乙締、丙締和異下締等的聚合物和共聚物。聚締控樹脂可W適當?shù)貑为毣騑兩種W上 的組合來使用。其中，特別地使用聚乙締。聚乙締例如是，低密度聚乙締（LDP巧或高密度 聚乙締化D陽）。樹脂層可包含例如，白色顏料、巧光增白劑或群青藍（ultramarineblue) W控制不透明度、白色度和色相。其中，可包含白色顏料W改善不透明度。白色顏料的實例 包括金紅石型氧化鐵和銳鐵礦型氧化鐵。
[0020] 在本發(fā)明的實施方案中，在基材的第一墨接收層側的表面的JISB0601:2001中 規(guī)定的粗糖度輪廓單元Crou曲ness profile element)的均方根斜率RAq優(yōu)選為0.1 W 上，并且更優(yōu)選0.3W上。均方根斜率RAq優(yōu)選為2.0W下，并且更優(yōu)選1.0W下。
[0021] <墨接收層〉
[0022] 在本發(fā)明的實施方案中，墨接收層可W配置于基材的僅一個表面或兩個表面上。 墨接收層的厚度例如為，18ymW上且55ymW下。在本發(fā)明的實施方案中，墨接收層可W 由單一層或兩層W上的層構成，但是期望的是第二墨接收層配置在基材與第一墨接收層之 間，并且第二墨接收層包含平均粒徑為50nmW下的無機顆粒。在下面的描述中，第一墨接 收層也稱為上層，第二墨接收層也稱為下層。
[0023] 在本發(fā)明的實施方案中，墨接收層的干燥涂布量優(yōu)選為18. OgAi2W上且55. Og/m2 W下，并且更優(yōu)選18. OgAi2W上且50.0 g/m2W下。當墨接收層由多個層構成時，墨接收層 的干燥涂布量是指所有層的總的干燥涂布量。下文中，將描述可包含于墨接收層中的材料。
[0024] (上層：第一墨接收層）
[00巧]在本發(fā)明的實施方案中，當作上層的第一墨接收層的厚度優(yōu)選為LOymW上且 30.OymW下，并且更優(yōu)選2.OymW上且20.OymW下。第一墨接收層的涂布量優(yōu)選為 0. 5g/m2W上且15.0旨/1]12從下，并且更優(yōu)選1. 0g/m2W上且10. 0g/m2W下。
[0026] (1)平挽粒巧為1. 0 Um Pi h的無定形二氣化巧
[0027] 在本發(fā)明的實施方案中，第一墨接收層包含平均粒徑為LOymW上的無定形二 氧化娃。無定形二氧化娃的平均粒徑優(yōu)選為1. 0ymW上且15. 0ymW下，并且更優(yōu)選 1. 0ymW上且10.0ymW下。在本發(fā)明的實施方案中，平均粒徑是指具有當用掃描電子 顯微鏡（SEM)觀察記錄介質的截面時辨認為顆粒的最大單元的顆粒的直徑的平均值。更 具體而言，用掃描電子顯微鏡（SEM)觀察記錄介質的截面，測量任意選擇的100個顆粒 的直徑，并且計算直徑的數(shù)量平均值。在無定形二氧化娃中，觀察通過一次顆粒的締合 (association)而形成的二次顆粒。因此，"無定形二氧化娃的平均粒徑"是指"無定形二 氧化娃的平均二次粒徑"。無定形二氧化娃的一次粒徑優(yōu)選為InmW上且SOnmW下，并且 更優(yōu)選2nmW上且70nmW下。如果一次粒徑小于Inm，則有時不充分地實