本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例涉及顯示設(shè)備。

背景技術(shù)：

通常，顯示面板包括被布置在與掃描線和數(shù)據(jù)線的交叉區(qū)域相對(duì)應(yīng)的位置處的多個(gè)像素。當(dāng)掃描信號(hào)被逐步地提供給掃描線時(shí)，響應(yīng)于掃描信號(hào)，數(shù)據(jù)信號(hào)經(jīng)由數(shù)據(jù)線被提供給像素。像素顯示與所提供的數(shù)據(jù)信號(hào)相對(duì)應(yīng)的圖像。

隨著顯示設(shè)備的分辨率增加，顯示面板中的線路被更緊密地布置。因此，可能由于物理沖擊而出現(xiàn)顯示面板中的裂紋，并且可能出現(xiàn)線路之間的短路。在這種情況下，過電流可能由于短路而流過線路。顯示面板可能被損壞或者可能在顯示設(shè)備中引發(fā)火災(zāi)。

為了解決這個(gè)問題，顯示設(shè)備可以包括圍繞像素部分的裂紋檢測(cè)線，以探測(cè)顯示設(shè)備中的裂紋。然而，在這種情況下，可能難以探測(cè)像素部分內(nèi)部的裂紋，并且因?yàn)樘砑恿烁郊泳€(即，裂紋檢測(cè)線)，因此非顯示區(qū)域的尺寸可能增加。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

示例性實(shí)施例的方面涉及能夠探測(cè)顯示面板中的裂紋的顯示設(shè)備。

根據(jù)一些示例性實(shí)施例，一種顯示設(shè)備可以包括：顯示面板，包括被配置為將來自第一基準(zhǔn)電壓線的第一基準(zhǔn)電壓施加到多條讀出線的基準(zhǔn)電壓提供部分以及具有連接至讀出線的多個(gè)像素的像素部分；被配置為經(jīng)由多條掃描線將掃描信號(hào)提供給像素的掃描驅(qū)動(dòng)器；被配置為經(jīng)由多條數(shù)據(jù)線將數(shù)據(jù)信號(hào)提供給像素的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器；被配置為將讀出線的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的讀出電路；以及被配置為基于數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)切斷電力的控制器。

在示例性實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓提供部分可以包括：多個(gè)檢測(cè)晶體管，每個(gè)檢測(cè)晶體管包括聯(lián)接至掃描線中的一條的柵電極、聯(lián)接至第一基準(zhǔn)電壓線的第一電極以及連接至讀出線中的一條的第二電極。

在示例性實(shí)施例中，掃描驅(qū)動(dòng)器可以包括彼此非獨(dú)立地連接并且可以被配置為逐步輸出掃描信號(hào)的第0級(jí)至第n級(jí)，其中n是大于0的整數(shù)。第0級(jí)可以被配置為將掃描信號(hào)提供給基準(zhǔn)電壓提供部分。第1級(jí)至第n級(jí)可以被配置為將掃描信號(hào)提供給像素部分。

在示例性實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓提供部分可以連接至讀出線的第一端子。讀出電路可以連接至讀出線的第二端子。

在示例性實(shí)施例中，讀出電路可以包括：被配置為將讀出線中的一條的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器；位于模數(shù)轉(zhuǎn)換器與讀出線中的一條讀出線之間的第一開關(guān)；以及位于第二基準(zhǔn)電源與讀出線中的該條讀出線之間的第二開關(guān)。

在示例性實(shí)施例中，讀出電路可以被配置為在第一基準(zhǔn)電壓被施加到讀出線的裂紋檢測(cè)時(shí)段期間接通第一開關(guān)并斷開第二開關(guān)。

在示例性實(shí)施例中，讀出電路可以被配置為在像素顯示圖像的顯示時(shí)段期間斷開第一開關(guān)并接通第二開關(guān)。

在示例性實(shí)施例中，讀出電路可以被配置為在像素的劣化數(shù)據(jù)被測(cè)量的劣化檢測(cè)時(shí)段期間接通第一開關(guān)并斷開第二開關(guān)。

在示例性實(shí)施例中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器可以包括：被配置為采樣和保持讀出線中的一條的電壓從而輸出讀出電壓的采樣保持電路；以及被配置為將讀出電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器。

在示例性實(shí)施例中，控制器可以包括：劣化數(shù)據(jù)計(jì)算器，被配置為將從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)推導(dǎo)出的像素的當(dāng)前劣化檢測(cè)電壓與先前劣化檢測(cè)電壓進(jìn)行比較，以計(jì)算像素的劣化數(shù)據(jù)；被配置為基于劣化數(shù)據(jù)補(bǔ)償輸入圖像數(shù)據(jù)的劣化補(bǔ)償器；裂紋探測(cè)器，被配置為將從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)推導(dǎo)出的當(dāng)前裂紋檢測(cè)電壓與閾值進(jìn)行比較，以生成斷電信號(hào)；以及控制信號(hào)生成器，被配置為基于斷電信號(hào)生成控制信號(hào)以切斷電力。

在示例性實(shí)施例中，裂紋探測(cè)器可以被配置為在當(dāng)前裂紋檢測(cè)電壓和存儲(chǔ)在存儲(chǔ)設(shè)備中的先前裂紋檢測(cè)電壓之間的電壓差大于閾值時(shí)生成斷電信號(hào)。

在示例性實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓提供部分可以包括：多個(gè)檢測(cè)晶體管，每個(gè)檢測(cè)晶體管包括聯(lián)接至控制線的柵電極、聯(lián)接至第一基準(zhǔn)電壓線的第一電極以及連接至讀出線中的一條的第二電極。

在示例性實(shí)施例中，控制器可以被配置為將檢測(cè)控制信號(hào)提供給控制線，并且檢測(cè)控制信號(hào)可以與用于驅(qū)動(dòng)掃描驅(qū)動(dòng)器的掃描開始信號(hào)基本相同。

在示例性實(shí)施例中，控制器可以被配置為在像素顯示圖像的顯示時(shí)段期間導(dǎo)通檢測(cè)晶體管。

在示例性實(shí)施例中，像素中的每一個(gè)可以包括：包括連接至第一節(jié)點(diǎn)的柵電極、聯(lián)接至第一電源線的第一電極以及連接至第二節(jié)點(diǎn)的第二電極的第一晶體管；包括連接至掃描線中的一條的柵電極、連接至數(shù)據(jù)線中的一條的第一電極以及連接至第一節(jié)點(diǎn)的第二電極的第二晶體管；包括連接至掃描線中的一條的柵電極、連接至第二節(jié)點(diǎn)的第一電極以及連接至讀出線中的一條的第二電極的第三晶體管；連接在第一節(jié)點(diǎn)與第二節(jié)點(diǎn)之間的存儲(chǔ)電容器；以及包括連接至第二節(jié)點(diǎn)的第一電極以及選擇性地聯(lián)接至第一電源線或第二電源線的第二電極的有機(jī)發(fā)光二極管(oled)。

在示例性實(shí)施例中，oled的第二電極可以被配置為在顯示時(shí)段期間聯(lián)接至第二電源線并且可以被配置為在劣化檢測(cè)時(shí)段期間聯(lián)接至第一電源線。

根據(jù)一些示例性實(shí)施例，一種顯示設(shè)備可以包括：顯示面板，包括被配置為將來自第一基準(zhǔn)電壓線的第一基準(zhǔn)電壓施加到讀出線的基準(zhǔn)電壓提供部分以及具有多個(gè)像素的像素部分；被配置為經(jīng)由多條掃描線將掃描信號(hào)提供給像素的掃描驅(qū)動(dòng)器；被配置為經(jīng)由多條數(shù)據(jù)線將數(shù)據(jù)信號(hào)提供給像素的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器；以及被配置為將讀出線的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的讀出電路。像素中的至少兩個(gè)可以連接至掃描線中的一條并且連接至讀出線。

在示例性實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓提供部分可以包括：包括聯(lián)接至掃描線中的一條的柵電極、聯(lián)接至第一基準(zhǔn)電壓線的第一電極以及連接至讀出線的第二電極的檢測(cè)晶體管。

在示例性實(shí)施例中，掃描驅(qū)動(dòng)器可以包括彼此非獨(dú)立地連接并且被配置為逐步輸出掃描信號(hào)的第0級(jí)至第n級(jí)，其中n是大于0的整數(shù)。第0級(jí)可以被配置為將掃描信號(hào)提供給基準(zhǔn)電壓提供部分。第1級(jí)至第n級(jí)可以被配置為將掃描信號(hào)提供給像素部分。

在示例性實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓提供部分可以連接至讀出線中的第一端子。讀出電路可以連接至讀出線的第二端子。

因此，根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備包括響應(yīng)于從第0級(jí)接收的掃描信號(hào)而將基準(zhǔn)電壓施加到讀出線的第一端子的基準(zhǔn)電壓提供部分以及將讀出線的第二端子的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的讀出電路。顯示設(shè)備可以使用用于補(bǔ)償像素的劣化的讀出電路和讀出線來探測(cè)顯示面板中的裂紋。從而，因?yàn)闉榱颂綔y(cè)裂紋僅僅添加了基準(zhǔn)電壓提供部分，因此可以以簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)顯示設(shè)備。

另外，當(dāng)探測(cè)到顯示面板中的裂紋時(shí)，顯示設(shè)備切斷電力，從而防止或基本上防止由過電流引起的問題(例如，加熱問題、火災(zāi)問題等)。

附圖說明

在下文中將參考其中示出了各種實(shí)施例的附圖更全面地描述示例性實(shí)施例。

圖1是示出根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備的框圖。

圖2是示出了包括在圖1的顯示設(shè)備中的掃描驅(qū)動(dòng)器的示例的框圖。

圖3是示出了包括在圖2的掃描驅(qū)動(dòng)器中的級(jí)的示例的電路圖。

圖4是示出了包括在圖1的顯示設(shè)備中的基準(zhǔn)電壓提供部分和像素部分的示例的電路圖。

圖5是示出了包括在圖1的顯示設(shè)備中的讀出電路的示例的電路圖。

圖6是示出了在裂紋檢測(cè)時(shí)段和顯示時(shí)段期間驅(qū)動(dòng)圖1的顯示設(shè)備的示例的波形圖。

圖7是示出了在劣化檢測(cè)時(shí)段期間驅(qū)動(dòng)圖1的顯示設(shè)備的示例的波形圖。

圖8是示出了包括在圖1的顯示設(shè)備中的控制器的示例的框圖。

圖9是示出了根據(jù)另一示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備的框圖。

圖10是示出了包括在圖9的顯示設(shè)備中的基準(zhǔn)電壓提供部分和像素部分的示例的電路圖。

圖11是示出了在劣化檢測(cè)時(shí)段期間驅(qū)動(dòng)圖10的顯示設(shè)備的示例的波形圖。

圖12是示出了根據(jù)又一示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備的框圖。

圖13是示出了包括在圖12的顯示設(shè)備中的基準(zhǔn)電壓提供部分和像素部分的示例的電路圖。

圖14是示出了包括在圖12的顯示設(shè)備中的讀出電路的示例的電路圖。

圖15是示出了在裂紋檢測(cè)時(shí)段和顯示時(shí)段期間驅(qū)動(dòng)圖12的顯示設(shè)備的示例的波形圖。

具體實(shí)施方式

在下文中將參考其中示出了各種實(shí)施例的附圖更全面地描述示例性實(shí)施例。

應(yīng)當(dāng)理解，雖然術(shù)語“第一”、“第二”、“第三”等可在本文中用來描述各個(gè)元件、組件、區(qū)域、層和/或部分，但是這些元件、組件、區(qū)域、層和/或部分不應(yīng)該受這些術(shù)語的限制。這些術(shù)語用來區(qū)分一個(gè)元件、組件、區(qū)域、層或部分與另一個(gè)元件、組件、區(qū)域、層或部分。因此，下面討論的第一元件、組件、區(qū)域、層或部分可以被稱為第二元件、組件、區(qū)域、層或部分，而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。

根據(jù)在本文中描述的本發(fā)明的實(shí)施例的相關(guān)設(shè)備或組件(或相關(guān)的多個(gè)設(shè)備或多個(gè)組件)可以利用任何合適的硬件(例如專用集成電路)、固件(例如dsp或fpga)、軟件、或軟件、固件和硬件的適當(dāng)組合來實(shí)現(xiàn)。例如，相關(guān)設(shè)備(或多個(gè)設(shè)備)的各種組件可以被形成在一個(gè)集成電路(ic)芯片上或單獨(dú)的ic芯片上。此外，相關(guān)設(shè)備(或多個(gè)設(shè)備)的各種組件可以在柔性印刷電路膜、帶載封裝(tcp)、印刷電路板(pcb)上實(shí)現(xiàn)，或者與一個(gè)或多個(gè)電路和/或其它設(shè)備形成在相同的基板上。此外，相關(guān)設(shè)備(或多個(gè)設(shè)備)的各種組件可以是在一個(gè)或多個(gè)處理器上運(yùn)行的進(jìn)程或線程，其中處理器位于一個(gè)或多個(gè)計(jì)算設(shè)備中，用于執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序指令并與其它系統(tǒng)組件交互以執(zhí)行本文中描述的各種功能。計(jì)算機(jī)程序指令被存儲(chǔ)在可被實(shí)現(xiàn)在利用標(biāo)準(zhǔn)存儲(chǔ)設(shè)備的計(jì)算設(shè)備中的存儲(chǔ)器中，例如隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram)。計(jì)算機(jī)程序指令還可以被存儲(chǔ)在其它的非臨時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中，例如cd-rom、閃存驅(qū)動(dòng)器等。此外，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)認(rèn)識(shí)到，各個(gè)計(jì)算設(shè)備的功能可以被組合或集成到單個(gè)計(jì)算設(shè)備，或特定計(jì)算設(shè)備的功能可以被分布在一個(gè)或多個(gè)其它計(jì)算設(shè)備之間，而不脫離本發(fā)明的示例性實(shí)施例的精神和范圍。

此外，還應(yīng)當(dāng)理解，當(dāng)一個(gè)元件、組件、區(qū)域、層和/或部分被稱為在兩個(gè)元件、組件、區(qū)域、層和/或部分“之間”時(shí)，它可以是在這兩個(gè)元件、組件、區(qū)域、層和/或部分之間的唯一元件、組件、區(qū)域、層和/或部分，或者也可以存在一個(gè)或多個(gè)中間元件、組件、區(qū)域、層和/或部分。

本文使用的術(shù)語用于描述特定的實(shí)施例，并不旨在限制本發(fā)明。如本文所用，單數(shù)形式“一”旨在也包括復(fù)數(shù)形式，除非上下文另有明確說明。將進(jìn)一步理解的是，當(dāng)在此說明書中使用時(shí)，術(shù)語“包括”和“包含”表明存在所陳述的特征、整數(shù)、步驟、操作、元件和/組件，但不排除存在或添加一個(gè)或多個(gè)其它特征、整數(shù)、步驟、操作、元件、組件和/或它們的組。

如本文所用，術(shù)語“和/或”包括相關(guān)聯(lián)的所列項(xiàng)目中的一個(gè)或多個(gè)的任意和所有組合。諸如“……中的至少一個(gè)”的表述在放在一列元件之后時(shí)修飾的是整列元件，而不是修飾該列中的單獨(dú)元件。此外，當(dāng)描述本發(fā)明的實(shí)施例時(shí)，使用“可以”指的是“本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例”。此外，術(shù)語“示例性”意指示例或例示。

應(yīng)當(dāng)理解，當(dāng)一元件或?qū)颖环Q為在另一元件或?qū)印吧稀薄ⅰ斑B接至”、“聯(lián)接至”或“鄰近于”另一元件或?qū)?、與另一元件或?qū)印斑B接”、“聯(lián)接”時(shí)，它可以“直接”在另一元件或?qū)印吧稀?，“直接連接至”、“直接聯(lián)接至”或“直接鄰近于”另一元件或?qū)?，與另一元件或?qū)印爸苯舆B接”或“直接聯(lián)接”，或者可以存在一個(gè)或多個(gè)中間元件或中間層。此外，如本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解的那樣，“連接”、“連接至”等取決于使用這些術(shù)語的上下文也可以指“電連接”、“電連接至”等。當(dāng)元件或?qū)颖环Q為“直接在”另一元件或?qū)印吧稀?、“直接連接至”、“直接聯(lián)接至”或“緊鄰”另一元件或?qū)?、與另一元件或?qū)印爸苯舆B接”或“直接聯(lián)接”時(shí)，不存在中間元件或中間層。

如本文所用，術(shù)語“基本上”、“大約”和類似術(shù)語被用作近似的術(shù)語，而不是作為程度的術(shù)語，并且旨在考慮本領(lǐng)域普通技術(shù)人員公認(rèn)的在測(cè)量或計(jì)算的值中的固有公差。

如本文所用，術(shù)語“使用”和“被使用”可以被認(rèn)為分別與術(shù)語“利用”和“被利用”同義。

關(guān)于本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例描述的特征可用于與本發(fā)明的其它實(shí)施例的特征結(jié)合使用。例如，第一實(shí)施例中描述的特征可以與第二實(shí)施例中描述的特征組合以形成第三實(shí)施例，即使在本文中可能沒有具體描述第三實(shí)施例。

圖1是示出了根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備的框圖。

參考圖1，顯示設(shè)備1000a可以包括顯示面板100a、掃描驅(qū)動(dòng)器300、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器400、讀出電路500a、電源600和控制器700。

顯示面板100a可以包括基準(zhǔn)電壓提供部分120a和像素部分140a。

基準(zhǔn)電壓提供部分120a可以將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到多條讀出線rl1至rlm。這里，第一基準(zhǔn)電壓vref1是用于探測(cè)顯示面板100a中的裂紋的電壓。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓提供部分120a可以包括多個(gè)檢測(cè)晶體管。每個(gè)檢測(cè)晶體管可以包括用于接收掃描信號(hào)的柵電極、用于接收第一基準(zhǔn)電壓vref1的第一電極以及連接至讀出線rl1至rlm中的一條的第二電極。例如，每個(gè)檢測(cè)晶體管可以響應(yīng)于經(jīng)由第0掃描線sl0從掃描驅(qū)動(dòng)器300接收的掃描信號(hào)而將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到讀出線。

基準(zhǔn)電壓提供部分120a可以連接至讀出線rl1至rlm的第一端子。讀出電路500a可以連接至讀出線rl1至rlm的第二端子。因此，像素部分140a可以位于基準(zhǔn)電壓提供部分120a與讀出電路500a之間。因此，基準(zhǔn)電壓提供部分120a可以將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到讀出線rl1至rlm的第一端子，并且讀出電路500a可以檢測(cè)讀出線rl1至rlm的第二端子的電壓作為裂紋檢測(cè)電壓，從而探測(cè)像素部分140a中的裂紋。

像素部分140a可以包括連接至讀出線rl1至rlm的多個(gè)像素px。例如，像素部分140a可以包括被布置在與多條掃描線sl1至sln和多條數(shù)據(jù)線dl1至dlm的交叉區(qū)域相對(duì)應(yīng)的位置處的n×m個(gè)像素px。

掃描驅(qū)動(dòng)器300可以基于第一控制信號(hào)ctl1經(jīng)由掃描線sl1至sln向像素px提供掃描信號(hào)。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，掃描驅(qū)動(dòng)器300可以包括基于包括在第一控制信號(hào)ctl1中的掃描開始信號(hào)和掃描時(shí)鐘信號(hào)逐步輸出掃描信號(hào)的多個(gè)級(jí)。掃描驅(qū)動(dòng)器300可以經(jīng)由第0掃描線sl0將掃描信號(hào)提供給基準(zhǔn)電壓提供部分120a，并且可以經(jīng)由第1掃描線sl1至第n掃描線sln將掃描信號(hào)提供給像素部分140a。

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器400可以基于第二控制信號(hào)ctl2經(jīng)由數(shù)據(jù)線dl1至dlm將數(shù)據(jù)信號(hào)ds提供給像素px。

讀出電路500a可以連接至讀出線rl1至rlm，并且可以基于第三控制信號(hào)ctl3測(cè)量裂紋檢測(cè)電壓或劣化檢測(cè)電壓。

讀出電路500a可以將讀出線rl1至rlm的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，并且可以將轉(zhuǎn)換后的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb作為裂紋檢測(cè)電壓或劣化檢測(cè)電壓提供給控制器700。這里，裂紋檢測(cè)電壓是用于確認(rèn)顯示面板100a中是否出現(xiàn)裂紋的電壓。因此，當(dāng)?shù)谝换鶞?zhǔn)電壓vref1被施加到讀出線的第一端子時(shí)，裂紋檢測(cè)電壓是讀出線的第二端子的電壓。此外，劣化檢測(cè)電壓可以與包括在像素px中的驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓相對(duì)應(yīng)。

例如，在裂紋檢測(cè)時(shí)段期間，讀出電路500a可以將讀出線rl1至rlm的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，并且可以將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb作為裂紋檢測(cè)電壓提供給控制器700。此外，在劣化檢測(cè)時(shí)段期間，讀出電路500a可以將讀出線rl1至rlm的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，并且可以將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb作為劣化檢測(cè)電壓提供給控制器700。

電源600可以基于第四控制信號(hào)ctl4將電源電壓提供給顯示面板100a。電源600可以將第一電源電壓elvdd、第二電源電壓elvss和第一基準(zhǔn)電壓vref1提供給顯示面板100a。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，電源600可以經(jīng)由第一基準(zhǔn)電壓線將第一基準(zhǔn)電壓vref1提供給顯示面板100a。

在一個(gè)示例性實(shí)施例中，電源600可以在顯示時(shí)段期間經(jīng)由第二電源線將第二電源電壓elvss提供給有機(jī)發(fā)光二極管(oled)的第二電極，并且可以在劣化檢測(cè)時(shí)段期間經(jīng)由第一電源線將第一電源電壓elvdd提供給oled的第二電極。

控制器700可以接收輸入控制信號(hào)ctl，并且可以基于輸入控制信號(hào)ctl生成用于控制掃描驅(qū)動(dòng)器300、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器400、讀出電路500a和電源600的第一控制信號(hào)ctl1至第四控制信號(hào)ctl4。另外，控制器700可以從讀出電路500a接收數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb?？刂破?00可以基于從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb推導(dǎo)出的像素px的劣化檢測(cè)電壓將輸入圖像數(shù)據(jù)idata轉(zhuǎn)換為輸出圖像數(shù)據(jù)odata。此外，控制器700可以基于從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb推導(dǎo)出的裂紋檢測(cè)電壓來切斷電力，以便防止或基本上防止過電流流過顯示面板100a。

因此，基準(zhǔn)電壓提供部分120a響應(yīng)于掃描信號(hào)將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到讀出線的第一端子，并且讀出電路500a將讀出線的第二端子的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb。因此，顯示設(shè)備1000a可以探測(cè)顯示面板100a中的裂紋。讀出電路500a和讀出線rl1至rlm可以用來探測(cè)顯示面板100a中的裂紋以及補(bǔ)償像素的劣化，從而減小其上不顯示圖像的非顯示區(qū)域或無效區(qū)域的尺寸。

圖2是示出了包括在圖1的顯示設(shè)備1000a中的掃描驅(qū)動(dòng)器300的示例的框圖。圖3是示出了包括在圖2的掃描驅(qū)動(dòng)器300中的級(jí)的示例的電路圖。

參考圖2和圖3，掃描驅(qū)動(dòng)器300可以包括基于包括在第一控制信號(hào)ctl1中的掃描開始信號(hào)stv和掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1和clk2逐步輸出掃描信號(hào)的第0級(jí)stg0至第n級(jí)stgn，其中n是大于0的整數(shù)。第0級(jí)stg0可以經(jīng)由第0掃描線sl0將掃描信號(hào)提供給基準(zhǔn)電壓提供部分120a。第1級(jí)stg1至第n級(jí)stgn可以經(jīng)由第1掃描線sl1至第n掃描線sln將掃描信號(hào)提供給像素部分140a。

如圖2所示，掃描驅(qū)動(dòng)器300的每一級(jí)可以包括第一時(shí)鐘端子ck1、第二時(shí)鐘端子ck2、輸入端子in、第一電壓端子vgh、第二電壓端子vgl和輸出端子out。

具有不同時(shí)序的第一掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1和第二掃描時(shí)鐘信號(hào)clk2可以被施加到每一級(jí)的第一時(shí)鐘端子ck1和第二時(shí)鐘端子ck2。例如，第二掃描時(shí)鐘信號(hào)clk2可以是與第一掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1反相的信號(hào)。在相鄰級(jí)中，可以以相反的順序施加第一掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1和第二掃描時(shí)鐘信號(hào)clk2。例如，在偶數(shù)級(jí)(例如，stg0、stg2等)中，第一掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1可以作為第一時(shí)鐘信號(hào)被施加到第一時(shí)鐘端子ck1，并且第二掃描時(shí)鐘信號(hào)clk2可以作為第二時(shí)鐘信號(hào)被施加到第二時(shí)鐘端子ck2。相反，在奇數(shù)級(jí)(例如，stg1、stg3等)中，第二掃描時(shí)鐘信號(hào)clk2可以作為第一時(shí)鐘信號(hào)被施加到第一時(shí)鐘端子ck1，并且第一掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1可以作為第二時(shí)鐘信號(hào)被施加到第二時(shí)鐘端子ck2。

第一電壓vdd可以被提供給第一電壓端子vgh。例如，第一電壓vdd可以與高電平電壓相對(duì)應(yīng)。

第二電壓vss可以被提供給第二電壓端子vgl。例如，第二電壓vss可以與低電平電壓相對(duì)應(yīng)。

掃描開始信號(hào)stv或從先前級(jí)中的一個(gè)接收的先前掃描信號(hào)可以作為輸入信號(hào)被施加到輸入端子in。例如，掃描開始信號(hào)stv可以被施加到第0級(jí)stg0的輸入端子in。先前掃描信號(hào)可以被分別施加到第1級(jí)stg1至第n級(jí)stgn的輸入端子in。因?yàn)榈?級(jí)stg1至第n級(jí)stgn中的每一個(gè)可以取決于前一級(jí)的先前掃描信號(hào)，因此第0級(jí)stg0至第n級(jí)stgn可以被認(rèn)為非獨(dú)立地連接。

掃描信號(hào)可以經(jīng)由輸出端子out被輸出到掃描線。例如，來自偶數(shù)級(jí)(例如，stg0、stg2等)的輸出端子out的掃描信號(hào)可以與第二掃描時(shí)鐘信號(hào)clk2的高信號(hào)同步地輸出。此外，來自奇數(shù)級(jí)(例如，stg1、stg3等)的輸出端子out的掃描信號(hào)可以與第一掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1的高信號(hào)同步地輸出。

如圖3所示，每一級(jí)stgk可以包括第一輸入電路310、第一輸出電路320、第二輸入電路330、第二輸出電路340、穩(wěn)定電路360和保持電路370。輸入信號(hào)可以被提供給輸入端子in。第一時(shí)鐘信號(hào)可以被提供給第一時(shí)鐘端子ck1。第二時(shí)鐘信號(hào)可以被提供給第二時(shí)鐘端子ck2。第一電壓vdd可以被提供給第一電壓端子vgh。第二電壓vss可以被提供給第二電壓端子vgl。

在一個(gè)示例性實(shí)施例(例如，圖2)中，當(dāng)級(jí)stgk對(duì)應(yīng)于偶數(shù)級(jí)時(shí)，第一時(shí)鐘信號(hào)對(duì)應(yīng)于第一掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1，并且第二時(shí)鐘信號(hào)對(duì)應(yīng)于第二掃描時(shí)鐘信號(hào)clk2。當(dāng)級(jí)stgk對(duì)應(yīng)于奇數(shù)級(jí)時(shí)，第一時(shí)鐘信號(hào)對(duì)應(yīng)于第二掃描時(shí)鐘信號(hào)clk2，并且第二時(shí)鐘信號(hào)對(duì)應(yīng)于第一掃描時(shí)鐘信號(hào)clk1。每一級(jí)stgk經(jīng)由輸出端子out輸出掃描信號(hào)。

第一輸入電路310可以包括第一晶體管m1。第一晶體管m1可以包括用于接收第一時(shí)鐘信號(hào)的柵電極、用于接收輸入信號(hào)的第一電極以及連接至第一節(jié)點(diǎn)q的第二電極。

第一輸出電路320可以包括第七晶體管m7和第一電容器c1。第七晶體管m7可以包括連接至第一節(jié)點(diǎn)q的柵電極、用于接收第二時(shí)鐘信號(hào)的第一電極以及連接至向其輸出掃描信號(hào)的輸出端子out的第二電極。第一電容器c1可以包括連接至第一節(jié)點(diǎn)q的第一電極和連接至輸出端子out的第二電極。

第二輸入電路330可以包括第四晶體管m4。第四晶體管m4可以包括連接至第一節(jié)點(diǎn)q的柵電極、用于接收第一時(shí)鐘信號(hào)的第一電極以及連接至第二節(jié)點(diǎn)qb的第二電極。

第二輸出電路340可以包括第六晶體管m6和第二電容器c2。第六晶體管m6可以包括連接至第二節(jié)點(diǎn)qb的柵電極、用于接收第二電壓vss的第一電極以及連接至輸出端子out的第二電極。第二電容器c2可以包括連接至第二節(jié)點(diǎn)qb的第一電極和連接至第二電壓端子vgl的第二電極。

穩(wěn)定電路360可以包括彼此串聯(lián)連接的第二晶體管m2和第三晶體管m3。第二晶體管m2可以包括連接至第二節(jié)點(diǎn)qb的柵電極、用于接收第二電壓vss的第一電極以及連接至第三晶體管m3的第一電極的第二電極。第三晶體管m3可以包括用于接收第二時(shí)鐘信號(hào)的柵電極、連接至第二晶體管m2的第二電極的第一電極以及連接至第一節(jié)點(diǎn)q的第二電極。

保持電路370可以包括第五晶體管m5。第五晶體管m5可以包括用于接收第一時(shí)鐘信號(hào)的柵電極、用于接收第一電壓vdd的第一電極以及連接至第二節(jié)點(diǎn)qb的第二電極。

盡管圖2和圖3的示例性實(shí)施例描述了掃描驅(qū)動(dòng)器的級(jí)接收兩個(gè)掃描時(shí)鐘信號(hào)并且逐步輸出掃描信號(hào)，不過掃描驅(qū)動(dòng)器可以以將掃描信號(hào)逐步輸出到掃描線的各種其它合適的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)。

盡管圖2和圖3的示例性實(shí)施例描述了掃描驅(qū)動(dòng)器從第0級(jí)stg0至第n級(jí)stgn逐步輸出掃描信號(hào)，但是不限于此。例如，掃描驅(qū)動(dòng)器可以從第n級(jí)stgn至第0級(jí)stg0逐步輸出掃描信號(hào)。

圖4是示出了包括在圖1的顯示設(shè)備中的基準(zhǔn)電壓提供部分和像素部分的示例的電路圖。

參考圖4，顯示面板可以包括基準(zhǔn)電壓提供部分120a和像素部分140a。

基準(zhǔn)電壓提供部分120a可以響應(yīng)于掃描信號(hào)將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到多條讀出線?；鶞?zhǔn)電壓提供部分120a可以包括多個(gè)檢測(cè)晶體管tc。每個(gè)檢測(cè)晶體管tc可以包括用于接收掃描信號(hào)的柵電極、用于接收第一基準(zhǔn)電壓vref1的第一電極以及連接至讀出線中的一條的第二電極。例如，檢測(cè)晶體管tc可以響應(yīng)于經(jīng)由第0掃描線sl0從掃描驅(qū)動(dòng)器300接收的掃描信號(hào)而將第一基準(zhǔn)電壓vref1提供給讀出線rlj。

基準(zhǔn)電壓提供部分120a可以連接至讀出線rl1至rlm的第一端子。讀出電路500a可以連接至讀出線rl1至rlm的第二端子。因此，基準(zhǔn)電壓提供部分120a可以位于與讀出電路500a相對(duì)的位置，基準(zhǔn)電壓提供部分120a與讀出電路500a之間具有像素部分140a。因此，當(dāng)?shù)谝换鶞?zhǔn)電壓vref1被施加到讀出線rlj的第一端子時(shí)，如果由于物理沖擊在像素部分140a中出現(xiàn)裂紋，則讀出線rlj的第二端子處的檢測(cè)電壓可以改變。因此，讀出電路500a可以檢測(cè)讀出線rlj的第二端子的電壓作為裂紋檢測(cè)電壓，以確認(rèn)在像素部分140a中是否出現(xiàn)裂紋。

像素部分140a中的每個(gè)像素可以包括第一晶體管t1至第三晶體管t3、存儲(chǔ)電容器cst和oled。第一晶體管t1可以包括連接至第一節(jié)點(diǎn)n1的柵電極、用于接收第一電源電壓elvdd的第一電極以及連接至第二節(jié)點(diǎn)n2的第二電極。第二晶體管t2可以包括連接至掃描線sli的柵電極、連接至數(shù)據(jù)線dlj的第一電極以及連接至第一節(jié)點(diǎn)n1的第二電極。第三晶體管t3可以包括連接至掃描線sli的柵電極、連接至第二節(jié)點(diǎn)n2的第一電極以及連接至讀出線rlj的第二電極。存儲(chǔ)電容器cst可以連接在第一節(jié)點(diǎn)n1與第二節(jié)點(diǎn)n2之間。數(shù)據(jù)線dlj可以經(jīng)由數(shù)模轉(zhuǎn)換器dacj接收數(shù)據(jù)信號(hào)ds。

oled可以包括連接至第二節(jié)點(diǎn)n2的第一電極和選擇性地接收第一電源電壓elvdd或第二電源電壓elvss的第二電極。oled的第二電極可以在顯示時(shí)段期間接收第二電源電壓elvss，使得驅(qū)動(dòng)電流流過oled。oled的第二電極可以在劣化檢測(cè)時(shí)段期間接收第一電源電壓elvdd，以便測(cè)量驅(qū)動(dòng)晶體管(即，第一晶體管t1)的閾值電壓。

在使用讀出電路補(bǔ)償像素變化的顯示設(shè)備中，連接至數(shù)據(jù)線dlj的第二晶體管t2和連接至讀出線rlj的第三晶體管t3響應(yīng)于從單條掃描線接收的掃描信號(hào)而導(dǎo)通，以增加顯示面板的開口率。在這種情況下，為了在顯示設(shè)備被驅(qū)動(dòng)的同時(shí)探測(cè)顯示面板中的裂紋，在掃描驅(qū)動(dòng)器300中添加第0級(jí)，并且基準(zhǔn)電壓提供部分120a響應(yīng)于從第0掃描線sl0接收的掃描信號(hào)而將第一基準(zhǔn)電壓vref1提供給讀出線rlj。以這種方式，可以在驅(qū)動(dòng)顯示設(shè)備的同時(shí)探測(cè)顯示面板中的裂紋，并且在沿著掃描線排列的方向逐步顯示圖像(即，以逐步發(fā)射方式驅(qū)動(dòng))的顯示設(shè)備中可以減少或最小化非顯示時(shí)段。

圖5是示出了包括在圖1的顯示設(shè)備中的讀出電路的示例的電路圖。

參考圖5，讀出電路500a可以包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器550、第一開關(guān)sw1和第二開關(guān)sw2。模數(shù)轉(zhuǎn)換器550可以將讀出線rlj的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb。第二開關(guān)sw2可以位于第二基準(zhǔn)電源與讀出線rlj之間。第一開關(guān)sw1可以位于模數(shù)轉(zhuǎn)換器550與讀出線rlj之間。

在一個(gè)示例性實(shí)施例中，在裂紋檢測(cè)時(shí)段期間，第一開關(guān)sw1可以接通，并且第二開關(guān)sw2可以斷開。因此，在裂紋檢測(cè)時(shí)段期間，基準(zhǔn)電壓提供部分120a可以將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到讀出線rlj的第一端子，并且模數(shù)轉(zhuǎn)換器550可以經(jīng)由接通的第一開關(guān)sw1接收讀出線rlj的第二端子的電壓，并且可以將讀出線rlj的第二端子的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，以確認(rèn)顯示面板中是否出現(xiàn)裂紋。

在一個(gè)示例性實(shí)施例中，在顯示時(shí)段期間，第一開關(guān)sw1可以斷開，并且第二開關(guān)sw2可以接通。因此，在顯示時(shí)段期間，第二基準(zhǔn)電壓vref2可以被施加到讀出線rlj和oled的第一電極。因此，驅(qū)動(dòng)電流可以流過oled。

在一個(gè)示例性實(shí)施例中，在劣化檢測(cè)時(shí)段期間，第一開關(guān)sw1可以接通，并且第二開關(guān)sw2可以斷開。因此，在劣化檢測(cè)時(shí)段期間，模數(shù)轉(zhuǎn)換器550可以經(jīng)由接通的第一開關(guān)sw1接收讀出線rlj的第二端子的電壓，并且可以將讀出線rlj的第二端子的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，以測(cè)量像素中的驅(qū)動(dòng)晶體管的特性(例如，閾值電壓)。

在一個(gè)示例性實(shí)施例中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器550可以包括采樣保持電路552和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路554。采樣保持電路552可以采樣并保持讀出線rlj的電壓，以便輸出讀出電壓。例如，采樣保持電路552可以包括電容器、用于將讀出線rlj的電壓充入到電容器的輸入開關(guān)以及輸出充入到電容器中的讀出電壓的輸出開關(guān)。模數(shù)轉(zhuǎn)換電路554可以將讀出電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb。

雖然圖5的示例性實(shí)施例描述了讀出電路500a測(cè)量驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓作為像素的劣化數(shù)據(jù)，但是不限于此。例如，讀出電路500a可以進(jìn)一步包括可以使用積分器來測(cè)量驅(qū)動(dòng)晶體管的遷移率的電流-電壓轉(zhuǎn)換器。

圖6是示出了在裂紋檢測(cè)時(shí)段和顯示時(shí)段期間驅(qū)動(dòng)圖1的顯示設(shè)備的示例的波形圖。

參考圖2、圖4、圖5和圖6，可以在顯示時(shí)段dp之間插入裂紋檢測(cè)時(shí)段cp。因此，可以在驅(qū)動(dòng)顯示設(shè)備的同時(shí)探測(cè)顯示面板中的裂紋。

在裂紋檢測(cè)時(shí)段cp中，掃描驅(qū)動(dòng)器的第0級(jí)可以接收掃描開始信號(hào)stv，并且基于掃描開始信號(hào)stv將掃描信號(hào)輸出到第0掃描線sl0?；鶞?zhǔn)電壓提供部分120a可以從第0掃描線接收掃描信號(hào)，并且可以將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到讀出線的第一端子。第一開關(guān)sw1可以接通，并且第二開關(guān)sw2可以斷開。讀出電路500a可以將讀出線的第二端子的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，以測(cè)量裂紋檢測(cè)電壓。

在顯示時(shí)段dp中，掃描驅(qū)動(dòng)器的第1級(jí)可以從第0級(jí)接收輸出信號(hào)(即，先前掃描信號(hào))，并且第1級(jí)至第n級(jí)可以逐步將掃描信號(hào)輸出到第1掃描線sl1至第n掃描線sln。當(dāng)掃描信號(hào)被逐步提供給掃描線時(shí)，像素經(jīng)由數(shù)據(jù)線接收數(shù)據(jù)信號(hào)ds。第二開關(guān)sw2可以接通，并且第一開關(guān)sw1可以斷開。第二基準(zhǔn)電壓vref2可以經(jīng)由讀出線被施加到驅(qū)動(dòng)晶體管與oled之間的節(jié)點(diǎn)，并且像素可以顯示與數(shù)據(jù)信號(hào)ds相對(duì)應(yīng)的圖像。

圖7是示出了在劣化檢測(cè)時(shí)段期間驅(qū)動(dòng)圖1的顯示設(shè)備的示例的波形圖。

參考圖4、圖5和圖7，像素在劣化檢測(cè)時(shí)段pv期間從掃描線sli接收掃描信號(hào)并接收第一數(shù)據(jù)電壓vdata作為數(shù)據(jù)信號(hào)ds。

在劣化檢測(cè)時(shí)段pv的第一時(shí)段pv1期間，第一開關(guān)sw1可以斷開，并且第二開關(guān)sw2可以接通。因此，第二基準(zhǔn)電壓vref2可以被施加到讀出線rlj，并且讀出線rlj可以在第一時(shí)段pv1期間被初始化。

在劣化檢測(cè)時(shí)段pv的第二時(shí)段pv2期間，第一開關(guān)sw1和第二開關(guān)sw2可以接通。因此，第二基準(zhǔn)電壓vref2可以被施加到模數(shù)轉(zhuǎn)換器550的采樣保持電路552，并且采樣保持電路552可以在第二時(shí)段pv2中被初始化。

在劣化檢測(cè)時(shí)段pv的第三時(shí)段pv3期間，第一開關(guān)sw1可以接通，并且第二開關(guān)sw2可以斷開。在像素中，從第一晶體管t1流出的電流可以經(jīng)由導(dǎo)通的第三晶體管t3和讀出線rlj輸出。讀出線rlj的電壓可以與從第一晶體管t1流出的電流成比例地增加。當(dāng)存儲(chǔ)電容器cst的電壓達(dá)到第一晶體管t1的閾值電壓vth時(shí)，讀出線rlj的電壓可以在第一數(shù)據(jù)電壓vdata與第一晶體管t1的閾值電壓vth之間的電壓差vdata-vth處飽和。此時(shí)，可以通過對(duì)讀出線rlj的電壓vdata-vth(參見圖7中的vadc)進(jìn)行采樣來推導(dǎo)出第一晶體管t1(即，驅(qū)動(dòng)晶體管)的閾值電壓vth。

圖8是示出了包括在圖1的顯示設(shè)備中的控制器的示例的框圖。

參考圖8，控制器700可以包括存儲(chǔ)設(shè)備710、劣化數(shù)據(jù)計(jì)算器720、劣化補(bǔ)償器730、裂紋探測(cè)器740和控制信號(hào)生成器750。

存儲(chǔ)設(shè)備710可以存儲(chǔ)劣化檢測(cè)電壓作為劣化數(shù)據(jù)。例如，存儲(chǔ)設(shè)備710可以存儲(chǔ)與在初始驅(qū)動(dòng)時(shí)間測(cè)量的驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓相對(duì)應(yīng)的初始化劣化檢測(cè)電壓。另外，存儲(chǔ)設(shè)備710可以存儲(chǔ)裂紋檢測(cè)電壓。例如，在初始驅(qū)動(dòng)時(shí)間將第一基準(zhǔn)電壓施加到讀出線的第一端子，并且檢測(cè)讀出線的第二端子的電壓，以推導(dǎo)出初始裂紋檢測(cè)電壓。

在一個(gè)示例性實(shí)施例中，存儲(chǔ)設(shè)備710可以包括非易失性存儲(chǔ)設(shè)備。非易失性存儲(chǔ)設(shè)備可以具有各種特征，例如在不提供電力的同時(shí)保持所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的能力、存儲(chǔ)大量數(shù)據(jù)的能力、低成本等。例如，存儲(chǔ)設(shè)備710可以包括閃存、可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(eprom)、電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(eeprom)、相變隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(pram)、阻變隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(rram)、納米浮柵存儲(chǔ)器(nfgm)、聚合物隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(poram)、磁隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(mram)、鐵電隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(fram)等。

在一個(gè)示例性實(shí)施例中，存儲(chǔ)設(shè)備710可以存儲(chǔ)像素組的劣化檢測(cè)電壓和裂紋檢測(cè)電壓。例如，單個(gè)像素組可以由包括在4×4矩陣中的相鄰像素組成。特別是在高分辨率顯示設(shè)備中，因?yàn)橄噜徬袼氐牧踊潭瓤赡鼙舜讼嗨?，因此可以推?dǎo)出并存儲(chǔ)像素組的劣化檢測(cè)電壓，以提高存儲(chǔ)設(shè)備710的效率。

劣化數(shù)據(jù)計(jì)算器720可以將從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb推導(dǎo)出的像素的當(dāng)前劣化檢測(cè)電壓與先前劣化檢測(cè)電壓進(jìn)行比較，以計(jì)算像素的劣化數(shù)據(jù)。例如，劣化數(shù)據(jù)計(jì)算器720可以從存儲(chǔ)設(shè)備710接收在初始驅(qū)動(dòng)時(shí)間處檢測(cè)到的先前劣化檢測(cè)電壓pd。此后，劣化數(shù)據(jù)計(jì)算器720可以從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb中的當(dāng)前劣化檢測(cè)電壓和先前劣化檢測(cè)電壓pd之間的電壓差推導(dǎo)出像素的劣化數(shù)據(jù)dd，并且可以輸出劣化數(shù)據(jù)dd。

劣化補(bǔ)償器730可以基于劣化數(shù)據(jù)dd補(bǔ)償輸入圖像數(shù)據(jù)idata。例如，劣化補(bǔ)償器730可以使用查找表推導(dǎo)出與當(dāng)前劣化檢測(cè)電壓和先前劣化檢測(cè)電壓pd之間的電壓差相對(duì)應(yīng)的調(diào)整值。劣化補(bǔ)償器730可以通過對(duì)輸入圖像數(shù)據(jù)idata和調(diào)整值求和來生成輸出圖像數(shù)據(jù)odata。

裂紋探測(cè)器740可將從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb推導(dǎo)出的當(dāng)前裂紋檢測(cè)電壓與閾值進(jìn)行比較，以生成斷電信號(hào)cd。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，在當(dāng)前裂紋檢測(cè)電壓在電壓范圍(例如，預(yù)定電壓范圍)之外時(shí)，裂紋探測(cè)器740可以生成斷電信號(hào)cd。在另一示例性實(shí)施例中，在當(dāng)前裂紋檢測(cè)電壓與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)設(shè)備710中的先前裂紋檢測(cè)電壓之間的電壓差大于閾值時(shí)，裂紋探測(cè)器740可以生成斷電信號(hào)cd。

控制信號(hào)生成器750可以接收輸入控制信號(hào)ctl，并且可以基于輸入控制信號(hào)ctl生成用于控制掃描驅(qū)動(dòng)器300、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器400、讀出電路500a和電源600的第一控制信號(hào)ctl1至第四控制信號(hào)ctl4。當(dāng)控制信號(hào)生成器750接收到斷電信號(hào)cd時(shí)，控制信號(hào)生成器750可以控制被提供給電源的第四控制信號(hào)ctl4，以切斷用于驅(qū)動(dòng)顯示設(shè)備的電力。

由于外部沖擊，第一電源線和第二電源線之間可能出現(xiàn)短路。在這種情況下，過電流可能流過顯示面板，并且顯示面板可能被損壞或者在顯示設(shè)備中可能引發(fā)火災(zāi)。因此，控制器700可以通過使用裂紋檢測(cè)電壓探測(cè)像素部分中的裂紋來穩(wěn)定地驅(qū)動(dòng)顯示面板。

圖9是示出了根據(jù)另一示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備的框圖。圖10是示出了包括在圖9的顯示設(shè)備中的基準(zhǔn)電壓提供部分和像素部分的示例的電路圖。圖11是示出了在劣化檢測(cè)時(shí)段期間驅(qū)動(dòng)圖10的顯示設(shè)備的示例的波形圖。

參考圖9至圖11，顯示設(shè)備1000b可以包括顯示面板100b、掃描驅(qū)動(dòng)器300、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器400、讀出電路500b、電源600和控制器700。除了連接至同一掃描線的兩個(gè)相鄰像素共享一條讀出線之外，根據(jù)本示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備1000b與圖1中描述的示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備基本相似。因此，相同的附圖標(biāo)記可以用于指代與圖1的先前示例性實(shí)施例中描述的部件相同或相似的部件，并且可以省略關(guān)于上述元件(或組件)的任何重復(fù)說明。

顯示面板100b可以包括基準(zhǔn)電壓提供部分120b和像素部分140b。

基準(zhǔn)電壓提供部分120b可以將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到多條讀出線rl1至rl(m/2)。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓提供部分120b可以包括多個(gè)檢測(cè)晶體管。每個(gè)檢測(cè)晶體管可以包括用于接收掃描信號(hào)的柵電極、用于接收第一基準(zhǔn)電壓vref1的第一電極以及連接至讀出線rl1至rl(m/2)中的一條的第二電極。例如，檢測(cè)晶體管tc可以響應(yīng)于經(jīng)由第0掃描線sl0從掃描驅(qū)動(dòng)器300接收的掃描信號(hào)而將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到讀出線。

基準(zhǔn)電壓提供部分120b可以連接至讀出線rl1至rl(m/2)的第一端子。讀出電路500b可以連接至讀出線rl1至rl(m/2)的第二端子。因此，像素部分140b可以位于基準(zhǔn)電壓提供部分120b和讀出電路500b之間。

像素部分140b可以包括連接至讀出線rl1至rl(m/2)的多個(gè)像素px。例如，像素部分140b可以包括被布置在與多條掃描線sl1至sln和多條數(shù)據(jù)線dl1至dlm的交叉區(qū)域相對(duì)應(yīng)的位置處的n×m個(gè)像素px。連接至同一掃描線的至少兩個(gè)相鄰像素可以共享一條讀出線，以增加顯示面板100b的開口率。

掃描驅(qū)動(dòng)器300可以基于第一控制信號(hào)ctl1經(jīng)由掃描線sl1至sln向像素px提供掃描信號(hào)。掃描驅(qū)動(dòng)器300可以經(jīng)由第0掃描線sl0將掃描信號(hào)提供給基準(zhǔn)電壓提供部分120b，并且可以經(jīng)由第1掃描線sl1至第n掃描線sln將掃描信號(hào)提供給像素部分140b。

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器400可以基于第二控制信號(hào)ctl2經(jīng)由數(shù)據(jù)線dl1至dlm將數(shù)據(jù)信號(hào)ds提供給像素px。

讀出電路500b可以連接至讀出線rl1至rl(m/2)，并且可以基于第三控制信號(hào)ctl3測(cè)量裂紋檢測(cè)電壓或劣化檢測(cè)電壓。讀出電路500b可以將讀出線rl1至rl(m/2)的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，并且可以將轉(zhuǎn)換后的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb作為裂紋檢測(cè)電壓或劣化檢測(cè)電壓提供給控制器700。

電源600可以基于第四控制信號(hào)ctl4將電源電壓提供給顯示面板100b。

控制器700可以基于輸入控制信號(hào)ctl生成第一控制信號(hào)ctl1至第四控制信號(hào)ctl4。另外，控制器700可以從讀出電路500b接收數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb。當(dāng)基于包括在數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb中的裂紋檢測(cè)電壓探測(cè)到顯示面板100b中的裂紋時(shí)，控制器700可以切斷電力。

如圖10所示，第一像素px1以及與第一像素px1相鄰的第二像素px2可以連接至一條讀出線rl(j/2)。讀出電路500b可以在裂紋檢測(cè)時(shí)段期間將讀出線rl(j/2)的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb作為裂紋檢測(cè)電壓，以確認(rèn)在像素部分140b中是否出現(xiàn)裂紋。讀出電路500b可以在顯示時(shí)段期間經(jīng)由讀出線rl(j/2)將第二基準(zhǔn)電壓vref2提供給包括在第一像素px1和第二像素px2中的每一個(gè)中的驅(qū)動(dòng)晶體管與oled之間的每個(gè)節(jié)點(diǎn)。另外，讀出電路500b可以在劣化檢測(cè)時(shí)段期間將讀出線rl(j/2)的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，作為第一像素px1和第二像素px2的劣化檢測(cè)電壓。這里，劣化檢測(cè)電壓可以對(duì)應(yīng)于每個(gè)像素中的驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓。

如圖11所示，共享讀出線rl(j/2)的第一像素px1和第二像素px2可以在劣化檢測(cè)時(shí)段pv期間從連接的掃描線sli接收掃描信號(hào)。在劣化檢測(cè)時(shí)段pv期間經(jīng)由讀出線rl(j/2)，第一像素px1可以接收第一數(shù)據(jù)電壓vdata(例如，預(yù)定的第一數(shù)據(jù)電壓vdata)作為數(shù)據(jù)信號(hào)ds，并且第二像素px2可以接收對(duì)應(yīng)于黑色的第二數(shù)據(jù)電壓black作為數(shù)據(jù)信號(hào)ds，以測(cè)量一個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管(即，第一像素px1的驅(qū)動(dòng)晶體管)的閾值電壓。

因?yàn)轱@示設(shè)備在具有第一時(shí)段pv1至第三時(shí)段pv3的劣化檢測(cè)時(shí)段pv期間的驅(qū)動(dòng)操作在上面進(jìn)行了描述，因此重復(fù)描述可被省略。

圖12是示出了根據(jù)又一示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備的框圖。圖13是示出了包括在圖12的顯示設(shè)備中的基準(zhǔn)電壓提供部分和像素部分的示例的電路圖。

參考圖12和圖13，顯示設(shè)備1000c可以包括顯示面板100c、掃描驅(qū)動(dòng)器300、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器400、讀出電路500c、電源600和控制器700。除了顯示面板100c的基準(zhǔn)電壓提供部分120c響應(yīng)于從控制器700接收的檢測(cè)控制信號(hào)而將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到讀出線之外，根據(jù)本示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備1000c與圖1中描述的示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備基本相似。因此，相同的附圖標(biāo)記可以用于指代與圖1的先前示例性實(shí)施例中描述的部件相同或相似的部件，并且可以省略關(guān)于上述元件(或組件)的任何重復(fù)說明。

顯示面板100c可以包括基準(zhǔn)電壓提供部分120c和像素部分140c。

基準(zhǔn)電壓提供部分120c可以響應(yīng)于檢測(cè)控制信號(hào)而將第一基準(zhǔn)電壓vref1施加到多條讀出線rl1至rlm。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，基準(zhǔn)電壓提供部分120c可以包括多個(gè)檢測(cè)晶體管。每個(gè)檢測(cè)晶體管可以包括用于接收檢測(cè)控制信號(hào)的柵電極、用于接收第一基準(zhǔn)電壓vref1的第一電極以及連接至讀出線rl1至rlm中的一條的第二電極。

在一個(gè)示例性實(shí)施例中，檢測(cè)控制信號(hào)可以與用于驅(qū)動(dòng)掃描驅(qū)動(dòng)器300的掃描開始信號(hào)基本相同。在這種情況下，因?yàn)榛鶞?zhǔn)電壓提供部分120c中的檢測(cè)晶體管可以響應(yīng)于掃描開始信號(hào)導(dǎo)通，因此掃描驅(qū)動(dòng)器300不需要添加附加級(jí)(例如，圖1和圖9中描述的示例性實(shí)施例的第0級(jí))。在另一示例性實(shí)施例中，檢測(cè)控制信號(hào)可以在像素顯示圖像的顯示時(shí)段期間被提供給基準(zhǔn)電壓提供部分120c，以導(dǎo)通檢測(cè)晶體管。在這種情況下，第一基準(zhǔn)電壓vref1可以被用作在顯示時(shí)段期間為了使驅(qū)動(dòng)電流流過oled而被施加到像素(例如，驅(qū)動(dòng)晶體管和oled之間的節(jié)點(diǎn))的基準(zhǔn)電壓、以及用于在裂紋檢測(cè)時(shí)段期間確認(rèn)在像素部分140c中是否出現(xiàn)裂紋的基準(zhǔn)電壓。

像素部分140c可以包括連接至讀出線rl1至rlm的多個(gè)像素px。像素部分140c可以位于基準(zhǔn)電壓提供部分120c和讀出電路500c之間。

掃描驅(qū)動(dòng)器300可以基于第一控制信號(hào)ctl1經(jīng)由掃描線sl1至sln將掃描信號(hào)提供給像素px。

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器400可以基于第二控制信號(hào)ctl2經(jīng)由數(shù)據(jù)線dl1至dlm將數(shù)據(jù)信號(hào)ds提供給像素px。

讀出電路500c可以連接至讀出線rl1至rlm。讀出電路500c可以將讀出線的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb，并且可以基于第三控制信號(hào)ctl3將轉(zhuǎn)換后的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb作為裂紋檢測(cè)電壓或劣化檢測(cè)電壓提供給控制器700。

電源600可以基于第四控制信號(hào)ctl4將電源電壓提供給顯示面板100c。

控制器700可以基于輸入控制信號(hào)ctl生成第一控制信號(hào)ctl1至第四控制信號(hào)ctl4?？刂破?00可以在裂紋檢測(cè)時(shí)段中經(jīng)由控制線cl將檢測(cè)控制信號(hào)提供給基準(zhǔn)電壓提供部分120c。另外，控制器700可以從讀出電路500c接收數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb。當(dāng)基于從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)fb推導(dǎo)出的裂紋檢測(cè)電壓探測(cè)到顯示面板100c中的裂紋時(shí)，控制器700可以切斷電力。

圖14是示出了包括在圖12的顯示設(shè)備中的讀出電路的示例的電路圖。圖15是示出了在裂紋檢測(cè)時(shí)段和顯示時(shí)段期間驅(qū)動(dòng)圖12的顯示設(shè)備的示例的波形圖。

參考圖14和圖15，檢測(cè)控制信號(hào)可以在裂紋檢測(cè)時(shí)段cp和顯示時(shí)段dp期間被提供給基準(zhǔn)電壓提供部分120c，使得檢測(cè)晶體管導(dǎo)通。

如圖15所示，在裂紋檢測(cè)時(shí)段cp期間，第一基準(zhǔn)電壓vref1可以被施加到讀出線的第一端子，并且讀出電路500c可以經(jīng)由接通的第一開關(guān)sw1檢測(cè)讀出線的第二端子的電壓作為裂紋檢測(cè)電壓，以確認(rèn)像素部分中是否出現(xiàn)裂紋。

另外，在其中掃描信號(hào)被逐步輸出到第1掃描線至第n掃描線的顯示時(shí)段dp期間，第一基準(zhǔn)電壓vref1可以經(jīng)由讀出線被施加到每個(gè)像素中的驅(qū)動(dòng)晶體管與oled之間的節(jié)點(diǎn)，使得驅(qū)動(dòng)電流流過oled。因此，如圖14所示，讀出電路500c包括第一開關(guān)sw1和模數(shù)轉(zhuǎn)換器550，但不包括將第二基準(zhǔn)電壓施加到讀出線的電路(例如，圖5中描述的示例性實(shí)施例的第二開關(guān)sw2)。

盡管已經(jīng)參考各圖描述了根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示設(shè)備，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員將容易地理解，可以在實(shí)質(zhì)上不脫離本發(fā)明構(gòu)思的新穎教導(dǎo)和特征的情況下對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行許多修改。例如，盡管示例性實(shí)施例描述了顯示設(shè)備是有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備，但是顯示設(shè)備的類型不限于此。

本發(fā)明構(gòu)思可以被應(yīng)用到具有顯示設(shè)備的電子設(shè)備。例如，本發(fā)明構(gòu)思可以被應(yīng)用到蜂窩電話、智能電話、智能板、個(gè)人數(shù)字助理(pda)等。

前述是示例性實(shí)施例的例示，不應(yīng)被解釋為對(duì)其的限制。雖然已經(jīng)描述了幾個(gè)示例性實(shí)施例，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員將容易地理解，可以在實(shí)質(zhì)上不脫離本發(fā)明構(gòu)思的新穎教導(dǎo)和特征的情況下對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行許多修改。因此，所有這樣的修改旨在包括在如權(quán)利要求及其等同方案所限定的本發(fā)明構(gòu)思的范圍內(nèi)。