本發(fā)明涉及測試設(shè)備領(lǐng)域，特別是涉及一種陣列基板測試電路和陣列基板。

背景技術(shù)：

隨著LCD(Liquid Crystal Display，液晶顯示器)顯示技術(shù)的不斷發(fā)展，LTPS(Low Temperature Poly-silicon，低溫多晶硅技術(shù))工藝面板被認為是目前全球高端應用市場最具發(fā)展前景的主流顯示技術(shù)之一。但因LTPS工藝面板中的陣列制程復雜導致產(chǎn)品良率不高，出貨需求缺口大。而陣列測試(Array Tester，縮寫ATS)檢查可以監(jiān)控LTPS制程，反饋產(chǎn)線，達到不斷提高良率之目的。所以大多產(chǎn)都會對產(chǎn)品進行ATS檢查。

現(xiàn)有技術(shù)中ATS檢查中主要采用全接腳探針(Full-Pin Contact Probing)方式進行。請參閱圖1，現(xiàn)有技術(shù)中測試電路主要包括子像素31、源極信號源32、開關(guān)控制電路33和開關(guān)34。開關(guān)控制電路33控制開關(guān)34的導通，從而控制源極信號到達子像素31，從而進行測試。這種ATS測試電路的缺點在于，需要占用面板的邊框空間，會影響產(chǎn)品設(shè)計架構(gòu)。尤其對于窄邊框產(chǎn)品的邊框較小，因此無法放置測試所需要的測試電路，造成制程無法監(jiān)控的現(xiàn)象。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供陣列基板測試電路，該測試電路的排布可以充分利用陣列基板的長度方向的空間，從而該測試電路可以適應窄邊框陣列基板的設(shè)計要求。

本發(fā)明的另一目的在于提供采用上述測試電路的陣列基板。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施方式提供如下技術(shù)方案：

本發(fā)明提供一種陣列基板測試電路，包括測試單元和多個切換控制單元，所述測試單元包括源極信號源、多個第一開關(guān)單元和與所述多個第一開關(guān)單元一一對應對應的多個子像素，每個所述子像素經(jīng)一所述第一開關(guān)單元連接至所述源極信號源，所述源極信號源與所述多個切換控制單元沿第一方向排布，所述多個切換控制單元、所述多個第一開關(guān)單元一一對應，所述切換控制單元控制對應的第一開關(guān)單元導通，以使得源極信號傳輸至對應的所述子像素。

其中，所述測試單元的數(shù)量為多個，所述多個切換控制單元與每一所述測試單元中的多個第一開關(guān)單元一一對應，所述切換控制單元控制每一測試單元中對應的第一開關(guān)單元導通，以使得每一測試單元中的源極信號傳輸至對應的子像素。

其中，所述多個測試單元中的多個源極信號源沿所述第一方向依次排布。

其中，所述多個切換控制單元均勻分布于所述多個源極信號源中。

其中，所述陣列基板測試電路還包括開關(guān)電路，所述測試單元還包括第二開關(guān)單元，所述第二開關(guān)單元連接在所述源極信號源和所述第一開關(guān)單元之間，所述開關(guān)電路控制所述第二開關(guān)單元的導通，以使得源極信號傳輸至所述第一開關(guān)單元。

本發(fā)明還提供一種陣列基板，包括測試電路，所述測試電路包括測試單元和多個切換控制單元，所述測試單元包括源極信號源、多個第一開關(guān)單元和多個子像素，每個所述子像素經(jīng)一所述第一開關(guān)單元連接至所述源極信號源，所述源極信號源與所述多個切換控制單元沿第一方向排布，所述多個切換控制單元、所述多個第一開關(guān)單元及所述多個子像素電極一一對應，所述切換控制單元控制對應的第一開關(guān)單元導通，以使得源極信號傳輸至對應的所述子像素。

其中，所述測試單元的數(shù)量為多個，所述多個切換控制單元與每一所述測試單元中的多個第一開關(guān)單元一一對應，所述切換控制單元控制每一測試單元中對應的第一開關(guān)單元導通，以使得每一測試單元中的源極信號傳輸至對應的子像素。

其中，所述多個測試單元中的多個源極信號源沿所述第一方向依次排布。

其中，所述多個切換控制單元均勻分布于所述多個源極信號源中。

其中，所述陣列基板測試電路還包括開關(guān)電路，所述測試單元還包括第二開關(guān)單元，所述第二開關(guān)單元連接在所述源極信號源和所述第一開關(guān)單元之間，所述開關(guān)電路控制所述第二開關(guān)單元的導通，以使得源極信號傳輸至所述第一開關(guān)單元。

本發(fā)明實施例具有如下優(yōu)點或有益效果：

本發(fā)明的實施例中，源極信號源S、所述第一開關(guān)單元(Q1-Qn)和所述子像素依次連接，所述源極信號源S與所述多個切換控制單元(sw1-swn)沿第一方向排布，所述多個切換控制單元(sw1-swn)、所述多個第一開關(guān)單元(Q1-Qn)及所述多個子像素電極21一一對應，實現(xiàn)對子像素的測試，該測試電路的排布可以充分利用Array Test區(qū)域11的長度方向的空間，從而可以節(jié)省Array Test區(qū)域11寬度方向的空間，從而該測試電路可以適應窄邊框陣列基板的設(shè)計要求。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是現(xiàn)有技術(shù)陣列基板測試電路結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本發(fā)明所述的陣列基板結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3是圖2所述的陣列基板中的測試電路的一種結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4是圖2所述的陣列基板中的測試電路的另一種結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明的一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

此外，以下各實施例的說明是參考附加的圖示，用以例示本發(fā)明可用以實施的特定實施例。本發(fā)明中所提到的方向用語，例如，“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“內(nèi)”、“外”、“側(cè)面”等，僅是參考附加圖式的方向，因此，使用的方向用語是為了更好、更清楚地說明及理解本發(fā)明，而不是指示或暗指所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。

在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸地連接，或者一體地連接；可以是機械連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。

此外，在本發(fā)明的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上。若本說明書中出現(xiàn)“工序”的用語，其不僅是指獨立的工序，在與其它工序無法明確區(qū)別時，只要能實現(xiàn)該工序所預期的作用則也包括在本用語中。另外，本說明書中用“～”表示的數(shù)值范圍是指將“～”前后記載的數(shù)值分別作為最小值及最大值包括在內(nèi)的范圍。在附圖中，結(jié)構(gòu)相似或相同的用相同的標號表示。

請參閱圖2。圖2為本發(fā)明的陣列基板結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明的陣列基板包括：測試電路區(qū)域11(也即Array Test區(qū)域)、顯示區(qū)域12(AA區(qū))，GOA(Gate On Array)區(qū)域13、多路復用選擇(Demux)區(qū)域14、扇出(Fanout)區(qū)域15、WOA(Wire On Array)區(qū)域16、驅(qū)動芯片(IC)區(qū)域17、柔性連接器(FPC)區(qū)域18。其中，Array Test區(qū)域11用于在陣列(Array)基板制作完成之后，對Array基板的電性進行測試，本發(fā)明的陣列基板測試電路除子像素外都位于Array Test區(qū)域11；AA區(qū)12包括多個像素單元，每個像素單元包括紅色子像素、藍色子像素、綠色子像素，AA區(qū)用于像素的顯示；GOA區(qū)域13，用于產(chǎn)生顯示區(qū)域內(nèi)的TFT的柵極驅(qū)動信號；Fanout區(qū)域15，用于實現(xiàn)IC與AA區(qū)的數(shù)據(jù)線之間的走線連接；Demux區(qū)域14，用于將從IC側(cè)引出的輸出端進行拆分，以實現(xiàn)多條Dataline的驅(qū)動；WOA區(qū)域16，用于面板周圍走線的連接；IC區(qū)域17，用于IC的粘合(Bonding)，該驅(qū)動芯片用于提供AA區(qū)域的數(shù)據(jù)信號；FPC區(qū)域18，用于FPC的Bonding，通過FPC連接電路板。其中測試電路區(qū)域11通過連接線與IC區(qū)域17連接，以向測試電路提供測試控制信號(ATEN)，具體地，在測試電路工作時，測試控制信號為高電平，當測試電路測試完成之后，測試控制信號為低電平，也即將測試電路關(guān)閉，防止測試電路對于AA區(qū)顯示影響。

請結(jié)合參閱圖3。圖3是圖2所述的陣列基板中的測試電路的一種結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明的陣列基板測試電路包括測試單元20和多個切換控制單元(即圖3中的sw1-swn)。具體的，所述測試單元20包括源極信號源S、多個第一開關(guān)單元(即圖2中的Q1-Qn)和多個子像素21。每個所述子像素21經(jīng)一所述第一開關(guān)單元連接至所述源極信號源S，所述源極信號源S用于提供測試所需的源極信號。所述源極信號源S、所述第一開關(guān)單元(Q1-Qn)和所述子像素21大致沿第二方向的趨勢(即圖1和圖2中的Y方向)依次連接?？梢岳斫獾氖牵龅诙较虼笾聻樗鯝rray Test區(qū)域11的寬度方向。所述源極信號源S與所述多個切換控制單元(Q1-Qn)沿第一方向(即圖1和圖2中的X方向)排布?？梢岳斫獾氖?，所述第一方向大致為所述Array Test區(qū)域11的長度方向。所述多個切換控制單元(sw1-swn)、所述多個第一開關(guān)單元(Q1-Qn)及所述多個子像素電極21一一對應，每個切換控制單元控制一個第一開關(guān)單元的導通或斷開，從而控制源極信號源S發(fā)出的信號是否到達對應的子像素，完成子像素的測試過程。

可以理解的是，在其他實施方式中，所述第一方向X還可以為其他不與第二方向Y平行的方向。

可以理解的是，上文中n可以為1、2、3、4、5……

本實施方式中，源極信號源S、所述第一開關(guān)單元(Q1-Qn)和所述子像素21大致沿第二方向趨勢依次連接；所述源極信號源S與所述多個切換控制單元(sw1-swn)沿第一方向(即圖1和圖2中的X方向)排布，所述多個切換控制單元(sw1-swn)、所述多個第一開關(guān)單元(Q1-Qn)及所述多個子像素電極21一一對應，實現(xiàn)對子像素的測試，該測試電路的排布可以充分利用Array Test區(qū)域11的長度方向的空間，從而可以減少占用Array Test區(qū)域11寬度方向的空間，從而該測試電路可以適應窄邊框陣列基板的設(shè)計要求。

請參閱圖4。圖4是圖2所述的陣列基板中的測試電路的另一種結(jié)構(gòu)示意圖。在本實施方式中，所述測試單元20的數(shù)量為多個?？梢岳斫獾氖牵緦嵤┓绞街械臏y試單元20及切換控制單元與上一實施方式的測試單元結(jié)構(gòu)大致相同，此處不再贅述。需要說明的是，本實施方式中為了方便表示，每個測試單元中包括6個第一開關(guān)單元(即Q1-Q6)及6個子像素。相應的，本實施方式中，切換控制單元的數(shù)量也為6個(即sw1-sw6)。在其他實施方式中，第一開關(guān)單元及子像素的數(shù)量還可以為1、2、3、4、5、7、8、9……此處不以為限。

本實施方式中，切換控制單元sw1控制每一測試單元20中第一開關(guān)單元Q1的狀態(tài)(導通/斷開)，也就是說控制單元sw1同時控制多個第一開關(guān)單元Q1的狀態(tài)；切換控制單元sw2控制每一測試單元20中第一開關(guān)單元Q2的狀態(tài)(導通/斷開)，也就是說切換控制單元sw1同時控制多個第一開關(guān)單元Q1的狀態(tài)；依此類推，切換控制單元sw6控制每一測試單元20中第一開關(guān)單元Q6的狀態(tài)(導通/斷開)。換而言之，所述多個切換控制單元與每一所述測試單元20中的多個第一開關(guān)單元一一對應，所述切換控制單元控制每一測試單元20中對應的第一開關(guān)單元導通，以使得每一測試單元中的源極信號傳輸至對應的子像素。

本發(fā)明一種可能的實現(xiàn)方式中，所述多個測試單元20沿第一方向X排布，從而減小測試電路占用的Array Test區(qū)域11寬度方向(及第二方向Y)的空間。優(yōu)選的，所述多個源極信號源S沿所述第一方向X依次排布。

可以理解的是，所述多個測試單元20及所述多個切換控制單元均沿所述第一方向X排布。優(yōu)選的，所述多個切換控制單元均勻分布于所述多個源極信號源S中。通常來說，在陣列基板測試電路中，測試單元20的數(shù)量遠大于切換控制單元的數(shù)量。因此，可以將多個切換控制單元均勻分布于多個測試單元20之間。具體的，多個測試單元20可以沿所述第一方向X依次排布呈一條直線。換而言之，所述多個源極信號源S沿所述第一方向排列呈直線，所述多個切換控制單元穿插在多個源極信號源S形成的直線中，相鄰兩個切換控制單元之間間隔相同數(shù)量的測試單元20(源極信號源S)。將多個切換控制單元穿插設(shè)置于多個測試單元20之間，使得切換控制單元與第一開關(guān)單元間的連線可以穿插分布在源極信號源的走線中，使得布線更加緊湊，減小了對Array Test區(qū)域11空間的占用，特別是寬度方向的空間。此外，將所述多個切換控制單元均勻分布于所述多個源極信號源S中，是為了盡量使得切換控制單元與測試單元20的平均距離大致相同，避免多個切換控制單元過度集中，造成部分位置的測試單元接收到的切換信號延時，影響測試結(jié)果的準確性。

本發(fā)明一種可能的實現(xiàn)方式中，所述陣列基板測試電路還包括開關(guān)電路(圖未示出)，所述測試單元還包括第二開關(guān)單元22，所述第二開關(guān)單元22連接在所述源極信號源S和所述第一開關(guān)單元之間，所述開關(guān)電路控制所述第二開關(guān)單元22的導通，以使得源極信號傳輸至所述第一開關(guān)單元。從而控制源極信號的通斷。

在本說明書的描述中，參考術(shù)語“一個實施例”、“一些實施例”、“示例”、“具體示例”或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點包含于本發(fā)明的至少一個實施例或示例中。在本說明書中，對上述術(shù)語的示意性表述不一定指的是相同的實施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或特點可以在任何的一個或多個實施例或示例中以合適的方式結(jié)合。

以上所述的實施方式，并不構(gòu)成對該技術(shù)方案保護范圍的限定。任何在上述實施方式的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進等，均應包含在該技術(shù)方案的保護范圍之內(nèi)。