本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種陣列基板測(cè)試電路。

背景技術(shù)：

隨著顯示技術(shù)的發(fā)展，液晶顯示器(liquidcrystaldisplay，lcd)等平面顯示裝置因具有高畫質(zhì)、省電、機(jī)身薄及應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)，而被廣泛的應(yīng)用于手機(jī)、電視、個(gè)人數(shù)字助理、數(shù)字相機(jī)、筆記本電腦、臺(tái)式計(jì)算機(jī)等各種消費(fèi)性電子產(chǎn)品，成為顯示裝置中的主流。

通常液晶顯示面板由彩膜基板(cf，colorfilter)、薄膜晶體管基板(tft，thinfilmtransistor)、夾于彩膜基板與薄膜晶體管基板之間的液晶(lc，liquidcrystal)及密封膠框(sealant)組成，其成型工藝一般包括：前段陣列(array)制程(薄膜、黃光、蝕刻及剝膜)、中段成盒(cell)制程(tft基板與cf基板貼合)及后段模組組裝制程(驅(qū)動(dòng)ic與印刷電路板壓合)。其中，前段array制程主要是形成tft基板，以便于控制液晶分子的運(yùn)動(dòng)；中段cell制程主要是在tft基板與cf基板之間添加液晶；后段模組組裝制程主要是驅(qū)動(dòng)ic壓合與印刷電路板的整合，進(jìn)而驅(qū)動(dòng)液晶分子轉(zhuǎn)動(dòng)，顯示圖像。

陣列基板測(cè)試(arraytest)電路，是用于液晶顯示面板array制程中用來(lái)測(cè)試陣列基板側(cè)電性情況的電路，對(duì)于產(chǎn)品良率的提升具有很重要的作用。如圖1及圖2所示，arraytest電路通常位于面板顯示區(qū)的上部，包括：多個(gè)驅(qū)動(dòng)單元，每一個(gè)驅(qū)動(dòng)單元均包括：多個(gè)陣列測(cè)試點(diǎn)(arraytestpad)100、與所述多個(gè)陣列測(cè)試點(diǎn)100電性連接的多路復(fù)用電路(demux)200、以及測(cè)試使能電路300，其中所述多路復(fù)用電路200包括：一個(gè)第一多路復(fù)用模塊201、以及四個(gè)第二多路復(fù)用模塊202；所述第一多路復(fù)用模塊201包括四個(gè)第一薄膜晶體管t1，所述每一個(gè)第二多路復(fù)用模塊202包括六個(gè)第二薄膜晶體管t2，所述測(cè)試使能電路300包括二十四個(gè)第三薄膜晶體管t3；所述四個(gè)第一薄膜晶體管t1的柵極分別電性連接第一、第二、第三、及第四控制信號(hào)atc1～atc4，所述四個(gè)第一薄膜晶體管t1的源極均接入數(shù)據(jù)信號(hào)data，所述四個(gè)第一薄膜晶體管t1的漏極分別對(duì)應(yīng)電性連接一個(gè)第二多路復(fù)用模塊202；所述六個(gè)第二薄膜晶體管t2的柵極分別電性連接第五、第六、第七、第八、第九、及第十控制信號(hào)atc5～atc10，所述六個(gè)第二薄膜晶體管t2的源極均電性連接其所在的第二多路復(fù)用模塊202對(duì)應(yīng)的一個(gè)第一薄膜晶體管t1的漏極，所述六個(gè)第二薄膜晶體管t2的漏極電性連接測(cè)試使能電路300，所述二十四個(gè)第三薄膜晶體管t3的柵極均接入測(cè)試使能信號(hào)aten，所述二十四個(gè)第三薄膜晶體管t3的源極分別電性連接一個(gè)第二薄膜晶體管t2的漏極，所述二十四個(gè)第三薄膜晶體管t3的漏極分別電性連接一條數(shù)據(jù)線，如圖2所示，陣列測(cè)試時(shí)，所述第一至第十控制信號(hào)atc1～atc10、測(cè)試使能信號(hào)aten、及數(shù)據(jù)信號(hào)data均通過(guò)對(duì)應(yīng)的陣列測(cè)試點(diǎn)100輸入到相應(yīng)到薄膜晶體管中，但是測(cè)試完成之后，在面板正常工作時(shí)，陣列測(cè)試點(diǎn)上不再有信號(hào)輸入，電路不工作，第一至第十控制信號(hào)atc1～atc10處于置空(floating)狀態(tài)，導(dǎo)致所述多路復(fù)用器100中的各個(gè)薄膜晶體管也處于置空的狀態(tài)，導(dǎo)致面板處于一種未知的狀態(tài)，對(duì)面板的顯示造成不確定性，影響面板顯示的穩(wěn)定性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種陣列基板測(cè)試電路，能夠保證多路復(fù)用器中的開(kāi)關(guān)元件在液晶顯示面板正常顯示保持關(guān)閉狀態(tài)，避免多路復(fù)用器中的開(kāi)關(guān)元件處于置空狀態(tài)，提升液晶顯示面板的工作穩(wěn)定性。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種陣列基板測(cè)試電路，包括：至少一個(gè)第一多路復(fù)用模塊、一使能信號(hào)輸入點(diǎn)、多個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、多條數(shù)據(jù)線、多個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件、多個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件、以及一反相器；

每一個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件對(duì)應(yīng)一個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件，每一個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)，輸入端均接入數(shù)據(jù)信號(hào)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的使能開(kāi)關(guān)元件的輸入端；

每一個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件對(duì)應(yīng)一條數(shù)據(jù)線，每一個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接使能信號(hào)輸入點(diǎn)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一數(shù)據(jù)線；

每一個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)，每一個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接所述反相器的輸出端，輸入端均接入測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)；

所述使能信號(hào)輸入點(diǎn)用于在陣列基板測(cè)試時(shí)接收高電位的使能信號(hào)，使得所述使能開(kāi)關(guān)元件打開(kāi)且所述防置空開(kāi)關(guān)元件關(guān)閉，在液晶顯示面板正常顯示時(shí)接收低電位的使能信號(hào)，使得所述使能開(kāi)關(guān)元件關(guān)閉且所述防置空開(kāi)關(guān)元件打開(kāi)；

所述測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)用于在陣列基板測(cè)試時(shí)接收測(cè)控信號(hào)，使得所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件打開(kāi)，在液晶顯示面板正常顯示時(shí)接收測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)，使得所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件關(guān)閉。

所述防置空開(kāi)關(guān)元件為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極為所述防置空開(kāi)關(guān)元件的控制端，源極為所述防置空開(kāi)關(guān)元件的輸入端，漏極為所述防置空開(kāi)關(guān)元件的輸出端。

所述防置空開(kāi)關(guān)元件為傳輸門，所述傳輸門的高電位控制端為所述防置空開(kāi)關(guān)元件的控制端，輸入端為所述防置空開(kāi)關(guān)元件的輸入端，輸出端為所述防置空開(kāi)關(guān)元件的輸出端，所述傳輸門的低電位控制端電性連接所述使能信號(hào)輸入點(diǎn)。

所述多個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)包括：第一測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第二測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第三測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第四測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第五測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第六測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)；

所述第一多路復(fù)用模塊的數(shù)量為四個(gè)，每一個(gè)第一多路復(fù)用模塊均包括六個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件，同一個(gè)第一多路復(fù)用模塊中的六個(gè)測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的控制端分別接入第一測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第二測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第三測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第四測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第五測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第六測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)。

還包括：一第二多路復(fù)用模塊、第七測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第八測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第九測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、及第十測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)，所述第一多路復(fù)用模塊從第二多路復(fù)用模塊獲取數(shù)據(jù)信號(hào)；

所述第二多路復(fù)用模塊包括：四個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件，每一個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件對(duì)應(yīng)一個(gè)第一多路復(fù)用模塊，每一個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的輸出端均與其對(duì)應(yīng)的第一多路復(fù)用模塊中的各個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的輸入端電性連接；所述四個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的控制端分別電性連接第七測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第八測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第九測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、第十測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)，所述四個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的輸入端均接入數(shù)據(jù)信號(hào)。

還包括：一數(shù)據(jù)信號(hào)輸入點(diǎn)，所述數(shù)據(jù)信號(hào)輸入點(diǎn)用于向所述第二多路復(fù)用模塊提供數(shù)據(jù)信號(hào)。

所述使能開(kāi)關(guān)元件為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極為所述使能開(kāi)關(guān)元件的控制端，源極為所述使能開(kāi)關(guān)元件的輸入端，漏極為所述使能開(kāi)關(guān)元件的輸出端。

所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極為所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的控制端，源極為所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的輸入端，漏極為所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的輸出端

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明提供一種陣列基板測(cè)試電路，包括：至少一個(gè)第一多路復(fù)用模塊、一使能信號(hào)輸入點(diǎn)、多個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、多條數(shù)據(jù)線、多個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件、多個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件、以及一反相器；每一個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)，輸入端均接入數(shù)據(jù)信號(hào)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一使能開(kāi)關(guān)元件的輸入端；每一個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接使能信號(hào)輸入點(diǎn)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一數(shù)據(jù)線；每一個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接所述反相器的輸出端，輸入端均接入測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)；通過(guò)在液晶顯示面板顯示時(shí)打開(kāi)所述防置空開(kāi)關(guān)元件，將所述測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)輸入測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)，可保證多路復(fù)用器中的開(kāi)關(guān)元件在液晶顯示面板正常顯示保持關(guān)閉狀態(tài)，避免多路復(fù)用器中的開(kāi)關(guān)元件處于置空狀態(tài)，提升液晶顯示面板的工作穩(wěn)定性。

附圖說(shuō)明

為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明與附圖，然而附圖僅提供參考與說(shuō)明用，并非用來(lái)對(duì)本發(fā)明加以限制。

附圖中，

圖1為現(xiàn)有的陣列基板測(cè)試電路的電路圖；

圖2為現(xiàn)有的陣列基板測(cè)試電路的陣列測(cè)試點(diǎn)處的示意圖；

圖3為本發(fā)明的陣列基板測(cè)試電路的第一實(shí)施例的電路圖；

圖4為本發(fā)明的陣列基板測(cè)試電路的第二實(shí)施例中防置空開(kāi)關(guān)元件處的局部放大圖。

具體實(shí)施方式

為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。

請(qǐng)參閱圖3，本發(fā)明提供一種陣列基板測(cè)試電路，包括：至少一個(gè)第一多路復(fù)用模塊1、一使能信號(hào)輸入點(diǎn)2、多個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3、多條數(shù)據(jù)線4、多個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件5、多個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件6、以及一反相器7；

每一個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11對(duì)應(yīng)一個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件5，每一個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11的控制端均電性連接一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3，輸入端均接入數(shù)據(jù)信號(hào)data，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的使能開(kāi)關(guān)元件5的輸入端；

每一個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件5對(duì)應(yīng)一條數(shù)據(jù)線4，每一個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件5的控制端均電性連接使能信號(hào)輸入點(diǎn)2，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一數(shù)據(jù)線4；

每一個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件6對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3，每一個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件6的控制端均電性連接所述反相器7的輸出端，輸入端均接入測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)vgl，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3；

所述使能信號(hào)輸入點(diǎn)2用于在陣列基板測(cè)試時(shí)接收高電位的使能信號(hào)aten，使得所述使能開(kāi)關(guān)元件5打開(kāi)且所述防置空開(kāi)關(guān)元件6關(guān)閉，在液晶顯示面板正常顯示時(shí)接收低電位的使能信號(hào)aten，使得所述使能開(kāi)關(guān)元件5關(guān)閉且所述防置空開(kāi)關(guān)元件6打開(kāi)；

所述測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3用于在陣列基板測(cè)試時(shí)接收測(cè)控信號(hào)atc，使得所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11打開(kāi)，在液晶顯示面板正常顯示時(shí)接收測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)vgl，使得所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11關(guān)閉。

具體地，如圖3所示，在本發(fā)明的第一實(shí)施例中，所述防置空開(kāi)關(guān)元件6為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極為所述防置空開(kāi)關(guān)元件6的控制端，源極為所述防置空開(kāi)關(guān)元件6的輸入端，漏極為所述防置空開(kāi)關(guān)元件6的輸出端。

具體地，如圖4所示，在本發(fā)明的第二實(shí)施例中，所述防置空開(kāi)關(guān)元件6為傳輸門，所述傳輸門的高電位控制端為所述防置空開(kāi)關(guān)元件6的控制端，輸入端為所述防置空開(kāi)關(guān)元件6的輸入端，輸出端為所述防置空開(kāi)關(guān)元件6的輸出端，所述傳輸門的低電位控制端電性連接所述使能信號(hào)輸入點(diǎn)2。

優(yōu)選地，所述低電位的使能信號(hào)aten的電位為-7v，所述測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)vgl的電位為-7v。

具體實(shí)施時(shí)，如圖3所示，可選擇所述多個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3包括：第一測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)31、第二測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)32、第三測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)33、第四測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)34、第五測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)35、第六測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)36；

所述第一多路復(fù)用模塊1的數(shù)量為四個(gè)，每一個(gè)第一多路復(fù)用模塊1均包括六個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11，同一個(gè)第一多路復(fù)用模塊1中的六個(gè)測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11的控制端分別接入第一測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)31、第二測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)32、第三測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)33、第四測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)34、第五測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)35、第六測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)36。

具體實(shí)施時(shí)，如圖3所示，所述陣列基板測(cè)試電路還可以進(jìn)一步的包括：一第二多路復(fù)用模塊8、第七測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)37、第八測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)38、第九測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)39、及第十測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)310，所述第一多路復(fù)用模塊1從第二多路復(fù)用模塊8獲取數(shù)據(jù)信號(hào)data。

所述第二多路復(fù)用模塊8包括：四個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件81，每一個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件81對(duì)應(yīng)一個(gè)第一多路復(fù)用模塊1，每一個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件81的輸出端均與其對(duì)應(yīng)的第一多路復(fù)用模塊1中的各個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11的輸入端電性連接；所述四個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件81的控制端分別電性連接第七測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)37、第八測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)38、第九測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)39、第十測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)310，所述四個(gè)第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件81的輸入端均接入數(shù)據(jù)信號(hào)。

具體地，上述的實(shí)施方案中，所述陣列基板測(cè)試電路還可以包括：一數(shù)據(jù)信號(hào)輸入點(diǎn)9，所述數(shù)據(jù)信號(hào)輸入點(diǎn)9用于向所述第二多路復(fù)用模塊8提供數(shù)據(jù)信號(hào)data。

優(yōu)選地，所述使能開(kāi)關(guān)元件5為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極為所述使能開(kāi)關(guān)元件5的控制端，源極為所述使能開(kāi)關(guān)元件5的輸入端，漏極為所述使能開(kāi)關(guān)元件5的輸出端。所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11為薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極為所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11的控制端，源極為所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11的輸入端，漏極為所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11的輸出端。

需要說(shuō)明的是，本發(fā)明的陣列基板測(cè)試電路的工作過(guò)程包括：進(jìn)行陣列基板測(cè)試，各個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3分別接收不同的測(cè)控信號(hào)atc，使得所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11和第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件81打開(kāi)，所述數(shù)據(jù)信號(hào)data從所述多路復(fù)用模塊中輸出，所述使能信號(hào)輸入點(diǎn)2接收高電位的使能信號(hào)aten，所述使能開(kāi)關(guān)元件5均打開(kāi)，所述數(shù)據(jù)信號(hào)data寫入數(shù)據(jù)線4進(jìn)行陣列基板測(cè)試，同時(shí)高電位的使能信號(hào)aten經(jīng)過(guò)反相后變?yōu)榈碗娢?，所述防置空開(kāi)關(guān)元件6關(guān)閉，所述測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)vgl無(wú)法寫入測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3，避免對(duì)陣列基板測(cè)試造成影響，陣列基板測(cè)試結(jié)束后，液晶顯示面板正常顯示，各個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3分別不再接收測(cè)控信號(hào)atc，所述使能信號(hào)輸入點(diǎn)2接收低電位的使能信號(hào)aten，所述使能開(kāi)關(guān)元件5均關(guān)閉，同時(shí)低電位的使能信號(hào)aten經(jīng)過(guò)反相后變?yōu)楦唠娢?，所述防置空開(kāi)關(guān)元件6打開(kāi)，所述測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)vgl寫入測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)3，使得所述第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件11和第二測(cè)控開(kāi)關(guān)元件81均關(guān)閉，相比現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示面板正常顯示時(shí)多路復(fù)用器中的開(kāi)關(guān)元件處于置空狀態(tài)，本發(fā)明的陣列基板測(cè)試電路能夠保證液晶顯示面板正常顯示時(shí)，多路復(fù)用器中的開(kāi)關(guān)元件在液晶顯示面板正常顯示保持關(guān)閉狀態(tài)，以提升液晶顯示面板的工作穩(wěn)定性。

綜上所述，本發(fā)明提供一種陣列基板測(cè)試電路，包括：至少一個(gè)第一多路復(fù)用模塊、一使能信號(hào)輸入點(diǎn)、多個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)、多條數(shù)據(jù)線、多個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件、多個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件、以及一反相器；每一個(gè)第一測(cè)控開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)，輸入端均接入數(shù)據(jù)信號(hào)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一使能開(kāi)關(guān)元件的輸入端；每一個(gè)使能開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接使能信號(hào)輸入點(diǎn)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一數(shù)據(jù)線；每一個(gè)防置空開(kāi)關(guān)元件的控制端均電性連接所述反相器的輸出端，輸入端均接入測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)，輸出端均電性連接與其對(duì)應(yīng)的一個(gè)測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)；通過(guò)在液晶顯示面板顯示時(shí)打開(kāi)所述防置空開(kāi)關(guān)元件，將所述測(cè)控開(kāi)關(guān)關(guān)閉信號(hào)輸入測(cè)控信號(hào)輸入點(diǎn)，可保證多路復(fù)用器中的開(kāi)關(guān)元件在液晶顯示面板正常顯示保持關(guān)閉狀態(tài)，避免多路復(fù)用器中的開(kāi)關(guān)元件處于置空狀態(tài)，提升液晶顯示面板的工作穩(wěn)定性。

以上所述，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。