本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示基板、顯示面板及其驅(qū)動方法、顯示裝置。

背景技術(shù)：

發(fā)光二極管(例如，有機(jī)發(fā)光二極管(organiclightemittingdiode，簡稱oled)、微型發(fā)光二極管(microlight-emittingdiode，簡稱mic-led))作為一種電流型發(fā)光器件，以其主動發(fā)光、快響應(yīng)速度、廣視角、色彩豐富、高亮度、低功耗等眾多優(yōu)點(diǎn)而被廣泛應(yīng)用于顯示領(lǐng)域中。但是本申請的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，發(fā)光二極管的閾值電壓會隨著時間而變化，進(jìn)而使得發(fā)光二極管的發(fā)光效率會隨著時間而退化，即隨著時間的推移，在相同的電流下發(fā)光二極管的發(fā)光亮度逐漸降低，影響發(fā)光二極管顯示面板的顯示效果。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示基板、顯示面板及其驅(qū)動方法、顯示裝置，用于對發(fā)光二極管的閾值電壓進(jìn)行補(bǔ)償，改善顯示面板的顯示效果。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示基板，所述顯示基板包括襯底基板，所述襯底基板包括顯示區(qū)域和圍繞所述顯示區(qū)域的周邊區(qū)域；

所述顯示區(qū)域內(nèi)設(shè)置有陣列排布的多個像素單元；每個像素單元內(nèi)設(shè)置有發(fā)光二極管，所述發(fā)光二極管包括沿遠(yuǎn)離所述襯底基板依次設(shè)置的第一電極、發(fā)光層和第二電極，不同列的所述發(fā)光二極管對應(yīng)的第二電極相互分立，同一列的所述發(fā)光二極管對應(yīng)的第二電極相互電連接；

所述周邊區(qū)域內(nèi)設(shè)置有至少一條顯示走線、至少一條測試走線和集成電路；

所述顯示走線的第一端與所述集成電路電連接，所述測試走線的第一端與所述集成電路電連接，每列所述發(fā)光二極管的第二電極均與所述顯示走線的第二端電連接，每列所述發(fā)光二極管的第二電極還均與所述測試走線的第二端電連接。

第二方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示面板，所述顯示面板包括以上所述的顯示基板。

第三方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示裝置，所述顯示裝置包括以上所述的顯示基板。

第四方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示面板的驅(qū)動方法，所述顯示面板的驅(qū)動方法與以上所述的顯示面板相對應(yīng)，所述顯示面板的驅(qū)動方法包括：

將所述顯示面板的驅(qū)動過程劃分為電流測試階段和顯示階段；

在所述電流測試階段內(nèi)，所述集成電路通過所述測試走線逐行向所述發(fā)光二極管的第二電極輸入測試電極信號，且所述集成電路逐行向所述發(fā)光二極管的第一電極輸入測試數(shù)據(jù)信號，并對流經(jīng)所述測試走線的電流進(jìn)行測試，根據(jù)測試電流計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值；

在所述顯示階段內(nèi)，所述集成電路通過所述顯示走線逐行向所述發(fā)光二極管的第二電極輸入顯示電極信號，且所述集成電路逐行向所述發(fā)光二極管的第一電極輸入使用所述補(bǔ)償值補(bǔ)償后的顯示數(shù)據(jù)信號。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示基板、顯示面板及其驅(qū)動方法、顯示裝置，其中，顯示基板包括襯底基板，襯底基板包括顯示區(qū)域和圍繞顯示區(qū)域的周邊區(qū)域，顯示區(qū)域內(nèi)設(shè)置有陣列排布的多個像素單元，每個像素單元內(nèi)設(shè)置有發(fā)光二極管，發(fā)光二極管包括沿遠(yuǎn)離襯底基板依次設(shè)置的第一電極、發(fā)光層和第二電極，不同列的發(fā)光二極管對應(yīng)的第二電極相互分立，同一列的發(fā)光二極管對應(yīng)的第二電極相互電連接；周邊區(qū)域內(nèi)設(shè)置有至少一條顯示走線、至少一條測試走線和集成電路，顯示走線的第一端與集成電路電連接，測試走線的第一端與集成電路電連接，每列發(fā)光二極管的第二電極均與顯示走線的第二端電連接，每列發(fā)光二極管的第二電極還均與測試走線的第二端電連接，從而使得集成電路可以通過測試走線逐行向發(fā)光二極管的第二電極輸入測試電極信號，且集成電路逐行向發(fā)光二極管的第一電極輸入測試數(shù)據(jù)信號，并對流經(jīng)測試走線的電流進(jìn)行測試，進(jìn)而可以根據(jù)測試電流計(jì)算得出發(fā)光二極管的閾值電壓，并可根據(jù)該閾值電壓計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值，進(jìn)而在包括該顯示基板的顯示面板的顯示過程中集成電路可以通過顯示走線逐行向發(fā)光二極管的第二電極輸入顯示電極信號，且集成電路逐行向發(fā)光二極管的第一電極輸入使用補(bǔ)償值補(bǔ)償后的顯示數(shù)據(jù)信號，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了對發(fā)光二極管的閾值電壓的補(bǔ)償，改善了顯示面板的顯示效果。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的一種俯視圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的圖1沿a-a’方向的截面示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的又一種俯視圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的又一種俯視圖；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的又一種俯視圖；

圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的又一種俯視圖；

圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的顯示區(qū)域的俯視圖；

圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的像素電路的電路圖；

圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的圖3沿a-a’方向的截面示意圖；

圖10為本發(fā)明實(shí)施例提供的圖4沿a-a’方向的截面示意圖；

圖11為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的截面示意圖；

圖12為本發(fā)明實(shí)施例提供的有機(jī)發(fā)光顯示面板的截面示意圖；

圖13為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示裝置的俯視圖；

圖14為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的驅(qū)動方法的時序圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示基板，如圖1所示，圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的一種俯視圖，該顯示基板1包括襯底基板10，襯底基板10包括顯示區(qū)域11和圍繞顯示區(qū)域11的周邊區(qū)域12。

具體地，如圖1所示，顯示區(qū)域11內(nèi)設(shè)置有陣列排布的多個像素單元111；每個像素單元111內(nèi)設(shè)置有發(fā)光二極管112，如圖2所示，圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的圖1沿a-a’方向的截面示意圖，發(fā)光二極管112包括沿遠(yuǎn)離襯底基板10依次設(shè)置的第一電極112a、發(fā)光層112b和第二電極112c，如圖3和圖4所示，圖3和圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的另外兩種俯視圖，不同列的發(fā)光二極管112對應(yīng)的第二電極112c相互分立，同一列的發(fā)光二極管112對應(yīng)的第二電極112c相互電連接。

如圖5和圖6所示，圖5和圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的另外兩種俯視圖，為清楚起見圖5和圖6中僅示出一個像素單元111但像素單元111的個數(shù)并不局限與此，周邊區(qū)域12內(nèi)設(shè)置有至少一條顯示走線121、至少一條測試走線122和集成電路ic，其中，顯示走線121的第一端與集成電路ic電連接，測試走線122的第一端與集成電路ic電連接，每列發(fā)光二極管112的第二電極112c均與顯示走線121的第二端電連接，每列發(fā)光二極管112的第二電極112c還均與測試走線122的第二端電連接。

其中，周邊區(qū)域12內(nèi)設(shè)置的顯示走線121的條數(shù)可以根據(jù)每條顯示走線121對應(yīng)的發(fā)光二極管112的列數(shù)進(jìn)行確定，例如，各條顯示走線121與各列發(fā)光二極管112一一對應(yīng)，或者，一條顯示走線121與多列發(fā)光二極管112對應(yīng)，或者，一條顯示走線121與所有列發(fā)光二極管112對應(yīng)。類似地，周邊區(qū)域12內(nèi)設(shè)置的測試走線122的條數(shù)可以根據(jù)以上方式進(jìn)行確定。本發(fā)明實(shí)施例對此不進(jìn)行限定。

基于本發(fā)明實(shí)施例中的顯示基板1具有上述結(jié)構(gòu)，從而使得可將包括該顯示基板1的顯示面板的驅(qū)動過程分為電流測試階段和顯示階段，在電流測試階段中，集成電路ic可以通過測試走線122逐行向發(fā)光二極管112的第二電極112c輸入測試電極信號，且集成電路ic逐行向發(fā)光二極管112的第一電極輸入測試數(shù)據(jù)信號，并對流經(jīng)測試走線122的電流進(jìn)行測試，進(jìn)而可以根據(jù)測試電流計(jì)算得出發(fā)光二極管112的閾值電壓，并可根據(jù)該閾值電壓計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值，在顯示階段中，集成電路ic可以通過顯示走線121逐行向發(fā)光二極管112的第二電極112c輸入顯示電極信號，且集成電路ic逐行向發(fā)光二極管112的第一電極輸入使用補(bǔ)償值補(bǔ)償后的顯示數(shù)據(jù)信號，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了對發(fā)光二極管112的閾值電壓的補(bǔ)償，提高了顯示面板的顯示效果。

另外，由于在電流測試階段中，集成電路ic通過測試走線122逐行向發(fā)光二極管112的第二電極112c輸入測試電極信號，且集成電路ic逐行向發(fā)光二極管112的第一電極輸入測試數(shù)據(jù)信號，從而使得在電流測試階段中，同一列中的各發(fā)光二極管112依次打開進(jìn)行測試，同一行中的各發(fā)光二極管112同時打開進(jìn)行測試，測試效率高，有助于降低測試成本。

本發(fā)明實(shí)施例中的發(fā)光二極管可以為有機(jī)發(fā)光二極管或者微型發(fā)光二極管?，F(xiàn)有技術(shù)中，若顯示基板上設(shè)置有多個有機(jī)發(fā)光二極管時，顯示基板上設(shè)置的有機(jī)發(fā)光二極管包括依次層疊設(shè)置于襯底基板上的陽極、發(fā)光層和陰極，其中，每個有機(jī)發(fā)光二極管的陽極均相互分立，所有有機(jī)發(fā)光二極管的陰極為一整層結(jié)構(gòu)。類似地，若顯示基板上設(shè)置有多個微型發(fā)光二極管時，顯示基板上設(shè)置的微型發(fā)光二極管包括依次層疊設(shè)置于襯底基板上的下電極、發(fā)光層和上電極，每個微型發(fā)光二極管的下電極均相互獨(dú)立，所有微型發(fā)光二極管包括的上電極為一整層結(jié)構(gòu)。

由以上所述可知，現(xiàn)有技術(shù)中的陰極和上電極相當(dāng)于本發(fā)明實(shí)施例中的第二電極，現(xiàn)有技術(shù)中的陰極和上電極均為一整層結(jié)構(gòu)，而如圖3和圖4所示，本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案中不同列的發(fā)光二極管112對應(yīng)的第二電極112c是相互分立的，與現(xiàn)有技術(shù)存在明顯區(qū)別，因此，本申請的發(fā)明人是在打破了現(xiàn)有技術(shù)的思維局限，進(jìn)行了認(rèn)真的思考和研究，付出了一系列創(chuàng)造性勞動之后，才構(gòu)思出本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案的提出過程也是具有創(chuàng)造性的。

本發(fā)明實(shí)施例中的顯示基板可以應(yīng)用無源矩陣驅(qū)動(passivematrixdriving)方式進(jìn)行驅(qū)動，也可以應(yīng)用有源矩陣驅(qū)動(activematrixdriving)方式進(jìn)行驅(qū)動，本發(fā)明實(shí)施例對此不進(jìn)行限定。

示例性地，本發(fā)明實(shí)施例中的顯示基板應(yīng)用無源矩陣驅(qū)動方式進(jìn)行驅(qū)動時，如圖7所示，圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的顯示區(qū)域的俯視圖，第一電極112a沿行方向延伸，第二電極112c沿列方向延伸，二者相交位置為一個像素單元111，顯示階段中，向各行第一電極112a中依次施加信號，且向各列第二電極112c依次施加信號，其中，同時施加信號的第一電極112a和第二電極112c相交位置對應(yīng)的像素單元111中的發(fā)光二極管112發(fā)光。

示例性地，本發(fā)明實(shí)施例中的顯示基板應(yīng)用有源矩陣驅(qū)動方式進(jìn)行驅(qū)動時，如圖5和圖6所示，顯示區(qū)域11內(nèi)還設(shè)置有多條沿發(fā)光二極管112的行方向延伸的柵線113，以及多條沿發(fā)光二極管112的列方向延伸的數(shù)據(jù)線114；多條柵線113和多條數(shù)據(jù)線114限定出多個像素單元111，每個像素單元111內(nèi)還設(shè)置有與發(fā)光二極管112對應(yīng)電連接的像素電路，進(jìn)而可通過柵線113、數(shù)據(jù)線114以及像素電路的共同作用下，使得發(fā)光二極管112發(fā)光。需要說明的是，為了清楚地示出像素單元111中的發(fā)光二極管112、像素電路、柵線113和數(shù)據(jù)線114之間的連接關(guān)系，圖5和圖6中僅示出一個像素單元111、一條柵線113和一條數(shù)據(jù)線114。

可選地，如圖8所示，圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的像素電路的電路圖，上述像素電路采用“2t1c”的結(jié)構(gòu)，其中，t1為選擇晶體管，t2為驅(qū)動晶體管，當(dāng)柵線上的掃描信號vselect輸入時，選擇晶體管t1導(dǎo)通，數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)信號vdata傳輸?shù)津?qū)動晶體管t2的柵極，并同時給存儲電容cs充電。而后驅(qū)動晶體管t2導(dǎo)通，使得pvdd和pvee之間有驅(qū)動電流通過，該驅(qū)動電流流經(jīng)發(fā)光二極管，發(fā)光二極管在驅(qū)動電流的作用下發(fā)光。由于存儲電容cs的保持作用，驅(qū)動晶體管t2的柵極電壓在整個顯示時間段內(nèi)保持不變，使得驅(qū)動晶體管t2在整個顯示時間段內(nèi)導(dǎo)通狀態(tài)不變，在整個顯示時間段內(nèi)穩(wěn)定的驅(qū)動電流均可從pvdd流經(jīng)發(fā)光二極管到

pvee，進(jìn)而保證微發(fā)光二極管在整個顯示時間段內(nèi)均能正常發(fā)光。當(dāng)然，上述像素電路的電路圖只是舉例說明，本發(fā)明實(shí)施例提供的像素單元中的像素電路也可以采用其他電路圖。

需要說明的是，由于像素電路中的驅(qū)動晶體管t2通常由非晶硅、多晶硅或金屬氧化物等半導(dǎo)體材料制成，受限于制造工藝，像素電路的驅(qū)動晶體管t2也會出現(xiàn)閾值電壓漂移的現(xiàn)象，從而使得流經(jīng)發(fā)光二極管112的電流還會隨著驅(qū)動晶體管t2的閾值電壓的變化而變化，即在相同的pvdd和pvee的信號下，流過發(fā)光二極管112的電流發(fā)生會偏差，使得發(fā)光二極管112的亮度發(fā)生變化，影響顯示面板的顯示效果。

當(dāng)本發(fā)明實(shí)施例中的顯示基板具有如上所述的結(jié)構(gòu)時，在電流測試階段中，流經(jīng)測試走線122的電流同時流經(jīng)了驅(qū)動晶體管t2和發(fā)光二極管112，因此，對該電流進(jìn)行測試，根據(jù)測試電流計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值包含了對驅(qū)動晶體管t2的閾值電壓的補(bǔ)償值和對發(fā)光二極管112的閾值電壓的補(bǔ)償值，從而使得在顯示階段中，集成電路ic向發(fā)光二極管112的第一電極112a輸入的使用補(bǔ)償值補(bǔ)償后的顯示數(shù)據(jù)信號，可以同時對驅(qū)動晶體管t2的閾值電壓以及發(fā)光二極管112的閾值電壓進(jìn)行補(bǔ)償，即通過一次測試即可同時對驅(qū)動晶體管t2的閾值電壓以及發(fā)光二極管112的閾值電壓進(jìn)行補(bǔ)償，使得測試方式簡單、測試效率高，且補(bǔ)償效果好。

另外，顯示走線121的第一端與集成電路ic電連接，測試走線122的第一端與集成電路ic電連接，每列發(fā)光二極管112的第二電極112c均與顯示走線121的第二端電連接，每列發(fā)光二極管112的第二電極112c還均與測試走線122的第二端電連接時，集成電路ic在電流測試階段內(nèi)通過測試走線122逐行向發(fā)光二極管112的第二電極112c輸入測試電極信號，在顯示階段內(nèi)通過顯示走線121逐行向發(fā)光二極管112的第二電極112c輸入顯示電極信號的實(shí)現(xiàn)方式可以有多種：

在第一個例子中，集成電路ic的第一輸出端與顯示走線121的第一端電連接，集成電路ic的第二輸出端與測試走線122的第一端電連接，從而可以在顯示階段內(nèi)，集成電路ic的第二輸出端通過顯示走線121逐行向發(fā)光二極管112的第二電極112c輸入顯示電極信號，在電流測試階段內(nèi)，集成電路ic的第一輸出端通過測試走線122逐行向發(fā)光二極管112的第二電極112c輸入測試電極信號。

在第二個例子中，集成電路ic的一個輸出端既與顯示走線121的第一端電連接，又與測試走線122的第一端電連接，以簡化集成電路ic的結(jié)構(gòu)。此時，則需要使該輸出端與顯示走線121的第一端電連接的時間段，與該輸出端與測試走線122的第一端電連接的時間段區(qū)分開來，或者，使顯示走線121的第二端與每列發(fā)光二極管112電連接的時間段，與測試走線122的第二端與每列發(fā)光二極管112電連接的時間段區(qū)分開來。

可選地，在輸出端與顯示走線121的第一端之間串聯(lián)一個開關(guān)單元，在該輸出端與測試走線122的第一端之間串聯(lián)另一個開關(guān)單元，通過在顯示階段內(nèi)，使輸出端與顯示走線121的第一端之間串聯(lián)的開關(guān)單元閉合，輸出端與測試走線122的第一端之間串聯(lián)的開關(guān)單元斷開，在電流測試階段內(nèi)，使輸出端與顯示走線121的第一端之間串聯(lián)的開關(guān)單元斷開，輸出端與測試走線122的第一端之間串聯(lián)的開關(guān)單元閉合的方式，使該輸出端輸出的信號在顯示階段內(nèi)作為顯示電極信號，在電流測試階段內(nèi)作為測試電極信號。

可選地，如圖5和圖6所示，周邊區(qū)域12內(nèi)還設(shè)置有至少一個第一開關(guān)單元sw1和至少一個第二開關(guān)單元sw2，第一開關(guān)單元sw1串聯(lián)于每列發(fā)光二極管112的第二電極112c與顯示走線121的第二端之間，第二開關(guān)單元sw2串聯(lián)于每列發(fā)光二極管112的第二電極112c與測試走線122的第二端之間，通過在顯示階段內(nèi)，使第一開關(guān)單元sw1閉合，第二開關(guān)單元sw2斷開，在電流測試階段內(nèi)，使第一開關(guān)單元sw1斷開，第二開關(guān)單元sw2閉合的方式，使該輸出端輸出的信號在顯示階段內(nèi)作為顯示電極信號，在電流測試階段內(nèi)作為測試電極信號。

需要說明的是，第一開關(guān)單元sw1可以與各列發(fā)光二極管112一一對應(yīng)，一個第一開關(guān)單元sw1可以與多列發(fā)光二極管112對應(yīng)，或者，一個第一開關(guān)單元sw1可以與所有列發(fā)光二極管112對應(yīng)，第二開關(guān)單元sw2與發(fā)光二極管112之間也可以有類似的對應(yīng)方式，本發(fā)明實(shí)施例對此不進(jìn)行限定。另外，對于第一開關(guān)單元sw1和第二開關(guān)單元sw2的具體結(jié)構(gòu)的選擇，只要能實(shí)現(xiàn)開關(guān)功能即可，本發(fā)明實(shí)施例對此也不進(jìn)行限定。

可選地，如圖5和圖6所示，至少一個第一開關(guān)單元sw1為第一薄膜晶體管，至少一個第二開關(guān)單元sw2為第二薄膜晶體管。示例性地，第一薄膜晶體管的源極和漏極電連接于每列發(fā)光二極管112的第二電極112c與顯示走線121的第二端之間，柵極與集成電路ic的另一輸出端電連接，第二薄膜晶體管的源極和漏極電連接于每列發(fā)光二極管112的第二電極112c與測試走線122的第二端之間，柵極與集成電路ic的又一輸出端電連接，進(jìn)而可通過集成電路ic控制第一薄膜晶體管和第二薄膜晶體管的導(dǎo)通和截止，有利于簡化顯示基板1的結(jié)構(gòu)。

例如，所有第一開關(guān)單元sw1均為第一薄膜晶體管，所有第二開關(guān)單元sw2均為第二薄膜晶體管；或者，一部分第一開關(guān)單元sw1為第一薄膜晶體管，另一部分第一開關(guān)單元sw1為具有開關(guān)功能的其他結(jié)構(gòu)，一部分第二開關(guān)單元sw2為第二薄膜晶體管，另一部分第二開關(guān)單元sw2為具有開關(guān)功能的其他結(jié)構(gòu)。

本申請的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，流經(jīng)第一薄膜晶體管的電流要遠(yuǎn)大于流經(jīng)第二薄膜晶體管的電流，具體原因如下：以所有第一開關(guān)單元sw1均為第一薄膜晶體管，所有第二開關(guān)單元sw2均為第二薄膜晶體管，且第一開關(guān)單元sw1與各列發(fā)光二極管112一一對應(yīng)，第二開關(guān)單元sw2與各列發(fā)光二極管112一一對應(yīng)為例，由于第一薄膜晶體管在顯示階段內(nèi)導(dǎo)通，顯示階段內(nèi)，一列發(fā)光二極管112均同時發(fā)光，流經(jīng)第一薄膜晶體管的電流為該列中所有發(fā)光二極管112對應(yīng)的電流，使得流經(jīng)第一薄膜晶體管的電流較大，第二薄膜晶體管在電流測試階段內(nèi)導(dǎo)通，電流測試階段內(nèi)，同一時刻內(nèi)一列發(fā)光二極管112中僅一個發(fā)光二極管112發(fā)光，流經(jīng)第二薄膜晶體管的電流為該發(fā)光二極管112對應(yīng)的電流，流經(jīng)第二薄膜晶體管的電流較小。

因此，為了保證第一薄膜晶體管能夠滿足電流大小的需求，本發(fā)明實(shí)施例提供幾種可選的方式：可選地，第一薄膜晶體管的有源層的材質(zhì)為具有高載流子遷移率的金屬氧化物半導(dǎo)體或者多晶硅，示例性地，上述金屬氧化物半導(dǎo)體可以為izo(氧化銦鋅)或者igzo(氧化銦鎵鋅)；可選地，第一薄膜晶體管的溝道的寬長比，與第二薄膜晶體管的溝道的寬長比之間的比值大于100，需要說明的是，上述寬長比的比值的具體數(shù)值本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)發(fā)光二極管112的行數(shù)、漏電流的大小、制作難度和邊框?qū)挾鹊纫蛩鼐C合進(jìn)行選擇。

可選地，如圖5所示，第一開關(guān)單元sw1和顯示走線121設(shè)置于周邊區(qū)域12的第一側(cè)內(nèi)，第二開關(guān)單元sw2和測試走線122設(shè)置于周邊區(qū)域12的第二側(cè)內(nèi)，第一側(cè)和第二側(cè)為相對設(shè)置的兩側(cè)，且第一側(cè)或者第二側(cè)為設(shè)置有集成電路ic的一側(cè)，圖5中以第二側(cè)為設(shè)置有集成電路ic的一側(cè)為例。如此設(shè)置可以使得周邊區(qū)域12的第一側(cè)的寬度和第二側(cè)的寬度較為一致，顯示面板的美觀程度較好。此時，未設(shè)置在集成電路ic所在側(cè)的走線(顯示走線121或者測試走線122)可通過連接線與集成電路ic電連接。需要說明的是，上述“第一側(cè)”、“第二側(cè)”以及“設(shè)置有集成電路ic的一側(cè)”均指的是周邊區(qū)域12包括的子區(qū)域。

可選地，如圖6所示，第一開關(guān)單元sw1、第二開關(guān)單元sw2、顯示走線121和測試走線122均設(shè)置于周邊區(qū)域12的集成電路ic所在側(cè)內(nèi)。如此設(shè)置可以使得集成電路ic與第一開關(guān)單元sw1、第二開關(guān)單元sw2、顯示走線121和測試走線122的連接方式較簡單，連接電阻較小，信號傳輸過程中的損失較小。

需要補(bǔ)充的是，“不同列的發(fā)光二極管112對應(yīng)的第二電極112c相互分立，同一列的發(fā)光二極管112對應(yīng)的第二電極112c相互電連接”的實(shí)現(xiàn)方式也可以有多種：

可選地，如圖3和圖9所示，圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的圖3沿a-a’方向的截面示意圖，每列發(fā)光二極管112對應(yīng)設(shè)置的n個第二電極112c為一整體結(jié)構(gòu)，該整體結(jié)構(gòu)為沿發(fā)光二極管112的列方向延伸的條狀結(jié)構(gòu)，n為每列發(fā)光二極管112中發(fā)光二極管112的總個數(shù)。

可選地，如圖4和圖10所示，圖10為本發(fā)明實(shí)施例提供的圖4沿a-a’方向的截面示意圖，每列發(fā)光二極管112對應(yīng)設(shè)置的n個第二電極112c為相互分立的塊狀結(jié)構(gòu)，n為每列發(fā)光二極管112中發(fā)光二極管112的總個數(shù)，同一列的n個第二電極112c通過位于其對應(yīng)列的發(fā)光二極管112一側(cè)的連接線115相互電連接。

可選地，襯底基板10上設(shè)置有相互絕緣的柵極金屬層和源漏極金屬層，連接線115位于源漏極金屬層或者柵極金屬層，以使得連接線115可以通過顯示基板1上的已有膜層制作形成，不會額外增加顯示基板的制作工藝和成本。其中，柵極金屬層中可以設(shè)置有驅(qū)動晶體管和開關(guān)晶體管的柵極以及掃描線，源漏極金屬層中可以設(shè)置有驅(qū)動晶體管和開關(guān)晶體管的源極、漏極和數(shù)據(jù)線。

當(dāng)發(fā)光二極管112為有機(jī)發(fā)光二極管時，各發(fā)光二極管112之間由像素定義層間隔開，當(dāng)發(fā)光二極管112為微型發(fā)光二極管時，各發(fā)光二極管112之間由平坦化層間隔開，平坦化層的材質(zhì)可以為有機(jī)物。

其中，當(dāng)發(fā)光二極管為微型發(fā)光二極管時，通常微型發(fā)光二極管是先在生長襯底上制備，然后轉(zhuǎn)移至顯示基板上的，生長襯底上制備的微型發(fā)光二極管包括兩層電極層和位于中間的發(fā)光層，在轉(zhuǎn)移之前的顯示基板上形成有矩陣設(shè)置的多個第一金屬導(dǎo)電結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)移過程中使微型發(fā)光二極管的一層電極層與第一金屬導(dǎo)電結(jié)構(gòu)接觸，轉(zhuǎn)移之后再在顯示基板上形成多個第二金屬導(dǎo)電結(jié)構(gòu)，多個第二金屬導(dǎo)電結(jié)構(gòu)與微型發(fā)光二極管的另一層電極層接觸，此時，第一金屬導(dǎo)電結(jié)構(gòu)以及與其接觸的電極層共同作為微型發(fā)光二極管的第一電極，第二金屬導(dǎo)電結(jié)構(gòu)以及與其接觸的電極層共同作為微型發(fā)光二極管的第二電極，第二金屬導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的形狀即為微型發(fā)光二極管的第二電極的形狀。

另外，當(dāng)發(fā)光二極管為微型發(fā)光二極管時，微型發(fā)光二極管的發(fā)光層耐水、氧和高溫，因此，可以通過在顯示基板上蒸鍍一層第二電極對應(yīng)材質(zhì)的膜層，對該膜層進(jìn)行圖形化，以使不同列的發(fā)光二極管對應(yīng)的陰極相互分立。上述圖形化包括涂布光刻膠、曝光、顯影、刻蝕和剝離光刻膠的步驟。

當(dāng)發(fā)光二極管為有機(jī)發(fā)光二極管時，由于有機(jī)發(fā)光二極管的發(fā)光層對水、氧敏感，無法采用以上圖形化的方法使第二電極形成分立結(jié)構(gòu)，下面本發(fā)明實(shí)施例提供兩種使第二電極形成分立結(jié)構(gòu)的方式：

第一種，本發(fā)明實(shí)施例中，如圖11所示，圖11為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示基板的截面示意圖，相互分立的第二電極112c之間設(shè)置有第二電極截?cái)嘟Y(jié)構(gòu)116，第二電極截?cái)嘟Y(jié)構(gòu)116的橫截面為倒梯形。在制作顯示基板的過程中，先形成第二電極截?cái)嘟Y(jié)構(gòu)116，從而使得在蒸鍍形成第二電極112c時，沉積在第二電極截?cái)嘟Y(jié)構(gòu)116上的膜層，與沉積在第二電極112c對應(yīng)區(qū)域上的膜層斷開，沉積在第二電極112c對應(yīng)區(qū)域上的膜層作為第二電極112c，以使不同列的發(fā)光二極管112對應(yīng)的第二電極112c相互分立?？蛇x地，為了充分保證沉積在第二電極截?cái)嘟Y(jié)構(gòu)116上的膜層，與沉積在第二電極112c對應(yīng)區(qū)域上的膜層斷開，第二電極截?cái)嘟Y(jié)構(gòu)116的高度為第二電極112c的厚度的至少10倍。通常第二電極112c的厚度為2000a，則第二電極截?cái)嘟Y(jié)構(gòu)116的高度應(yīng)大于或等于20000a。第二電極截?cái)嘟Y(jié)構(gòu)116的材質(zhì)可以為有機(jī)物，例如負(fù)性光阻，負(fù)性光阻曝光、顯影即可形成倒梯形結(jié)構(gòu)。

第二種，在沉積形成第二電極的過程中，首先使用精細(xì)掩膜板覆蓋顯示基板，精細(xì)掩膜板上在第二電極對應(yīng)位置處設(shè)置有開口，然后蒸鍍第二電極對應(yīng)的材料，材料穿過精細(xì)掩膜版上的開口到達(dá)第二電極對應(yīng)位置處，進(jìn)而形成多個第二電極，且不同列的發(fā)光二極管對應(yīng)的第二電極相互分立。

本發(fā)明實(shí)施例還提供一種顯示面板，該顯示面板包括以上任一項(xiàng)所述的顯示基板?？蛇x地，顯示面板還包括覆蓋于顯示基板上的發(fā)光二極管上的封裝結(jié)構(gòu)。

需要說明的是，當(dāng)顯示面板為有機(jī)發(fā)光顯示面板時，其對封裝效果的要求較高。如圖12所示，圖12為本發(fā)明實(shí)施例提供的有機(jī)發(fā)光顯示面板的截面示意圖，該有機(jī)發(fā)光顯示面板還包括覆蓋于顯示基板1上的發(fā)光二極管112上的封裝結(jié)構(gòu)2。示例性地，若有機(jī)發(fā)光顯示面板為非柔性，則封裝結(jié)構(gòu)2可以為封裝玻璃，顯示基板1的邊緣與封裝玻璃的邊緣通過玻璃膠封裝方式進(jìn)行封裝，雖然玻璃膠的成本較高，但可以有效阻隔外界的水、氧，避免因水、氧與顯示基板1上的發(fā)光層接觸，而造成的發(fā)光層失效，有利于保證有機(jī)發(fā)光顯示面板的正常發(fā)光。但本申請不限于此，在其他實(shí)現(xiàn)方式中，還可以是采用uv(ultraviolet，紫外線)固化膠等其他的封裝方式。若顯示面板為柔性，則封裝結(jié)構(gòu)2可以為封裝層，可選地，封裝層包括多層薄膜，通常為無機(jī)+有機(jī)+無機(jī)的三層或者五層結(jié)構(gòu)，其中，無機(jī)層的作用在于阻隔水氧，有機(jī)層的作用在于緩解彎折應(yīng)力，無機(jī)層的材質(zhì)可以為氮化硅或者氧化硅等，厚度為1微米左右，可以采用鍍膜的方式形成，有機(jī)層的材質(zhì)可以為有機(jī)硅化合物、芳香族、二基苯、苯乙烯等，厚度為10微米左右，可以采用噴墨打印的方式形成。

本發(fā)明實(shí)施例還提供一種顯示裝置，如圖13所示，圖13為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示裝置的俯視圖，該顯示裝置包括以上所述的顯示面板600。本申請實(shí)施例提供的顯示裝置可以是例如智能手機(jī)、可穿戴式智能手表、智能眼鏡、平板電腦、電視機(jī)、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導(dǎo)航儀、車載顯示器、電子書等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。本申請實(shí)施例提供的顯示面板和顯示裝置可以為柔性，也可以為非柔性，本申請對此不做限定。

本發(fā)明實(shí)施例還提供一種顯示面板的驅(qū)動方法，與之前所述的顯示面板相對應(yīng)，顯示面板的驅(qū)動方法包括：

將顯示面板的驅(qū)動過程劃分為電流測試階段和顯示階段；

在電流測試階段內(nèi)，集成電路通過測試走線逐行向發(fā)光二極管的第二電極輸入測試電極信號，且集成電路逐行向發(fā)光二極管的第一電極輸入測試數(shù)據(jù)信號，并對流經(jīng)測試走線的電流進(jìn)行測試，根據(jù)測試電流計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值；

在顯示階段內(nèi)，集成電路通過顯示走線逐行向發(fā)光二極管的第二電極輸入顯示電極信號，且集成電路逐行向發(fā)光二極管的第一電極輸入使用補(bǔ)償值補(bǔ)償后的顯示數(shù)據(jù)信號。

可選地，本發(fā)明實(shí)施例中僅在包括顯示面板的顯示裝置開機(jī)時，執(zhí)行電流測試階段，這樣即實(shí)現(xiàn)了對發(fā)光二極管的閾值電壓的補(bǔ)償，又不會影響顯示面板的正常顯示。當(dāng)然也可以在根據(jù)需要選擇在其他時間段執(zhí)行電流測試階段，本發(fā)明實(shí)施例對此不進(jìn)行限定。由于在電流測試階段中，需要逐行對發(fā)光二極管進(jìn)行測試，因此，電流測試階段的持續(xù)時間應(yīng)為所有行測試完成的時間，其與一幀時間相同，通常為1/60s，或1/120s。

示例性地，當(dāng)顯示面板的驅(qū)動方式為有源矩陣驅(qū)動時，在電流測試階段內(nèi)，柵線逐行掃描，測試走線輸入測試電極信號，數(shù)據(jù)線輸入測試數(shù)據(jù)信號，并對流經(jīng)測試走線的電流進(jìn)行測試，根據(jù)測試電流計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值；在顯示階段內(nèi)，柵線逐行掃描，顯示走線輸入顯示電極信號，數(shù)據(jù)線輸入使用補(bǔ)償值補(bǔ)償后的顯示數(shù)據(jù)信號。

下面本發(fā)明實(shí)施例以第n行、第m列像素單元111中的發(fā)光二極管112為例，結(jié)合時序圖對顯示面板的驅(qū)動方法進(jìn)行說明。

示例性地，如圖5和圖6所示，顯示基板1的周邊區(qū)域12內(nèi)設(shè)置有至少一個第一開關(guān)單元sw1和至少一個第二開關(guān)單元sw2，第一開關(guān)單元sw1串聯(lián)于每列發(fā)光二極管112的第二電極112c與顯示走線121的第二端之間，第二開關(guān)單元sw2串聯(lián)于每列發(fā)光二極管112的第二電極112c與測試走線122的第二端之間，且第一開關(guān)單元sw1和第二開關(guān)單元sw2均為n型薄膜晶體管?；陲@示基板具有上述結(jié)構(gòu)，如圖14所示，圖14為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的驅(qū)動方法的時序圖，在電流測試階段內(nèi)，控制第一開關(guān)單元sw1的控制信號(圖14中表示為sw1)為低電平，控制第二開關(guān)單元sw2的控制信號(圖14中表示為sw2)為高電平，第一開關(guān)單元sw1斷開，第二開關(guān)單元sw2閉合，第n條柵線上輸出掃描信號(圖14中表示為gn)，測試走線輸入測試電極信號(圖14中表示為pvee)，數(shù)據(jù)線輸入測試數(shù)據(jù)信號(圖14中表示為dm)，并對流經(jīng)測試走線的電流進(jìn)行測試，根據(jù)測試電流計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值；在顯示階段內(nèi)，控制第一開關(guān)單元sw1的控制信號(圖14中表示為sw1)為高電平，控制第二開關(guān)單元sw2的控制信號(圖14中表示為sw2)為第電平，第一開關(guān)單元sw1閉合，第二開關(guān)單元sw2斷開，第n條柵線上輸出掃描信號(圖14中表示為gn)，顯示走線輸入顯示電極信號(由于顯示電極信號和測試電極信號為同一輸出端在不同時間段輸出的信號，因此圖14中也表示為pvee)，數(shù)據(jù)線輸入使用補(bǔ)償值補(bǔ)償后的顯示數(shù)據(jù)信號(圖14中表示為dm)。

需要說明的是，如圖5和圖6所示，測試走線122和顯示走線121連接集成電路ic的同一輸出端，因此，上述測試電極信號和顯示電極信號為相同的信號，因此，在圖14中測試電極信號和顯示電極信號均以pvee表示，但二者出現(xiàn)的時間段不同。

由之前所述可知，像素電路中存在存儲電容，存儲電容用以維持發(fā)光二極管的發(fā)光，因此，在電流測試階段內(nèi)，針對已經(jīng)測試完成的發(fā)光二極管，在其對應(yīng)的存儲電容的作用下，會繼續(xù)發(fā)光，進(jìn)而使得通過其的驅(qū)動電流也會流經(jīng)測試走線，進(jìn)而使得通過對流經(jīng)測試走線的電流進(jìn)行測試無法準(zhǔn)確反應(yīng)正在測試的發(fā)光二極管對應(yīng)的驅(qū)動電流，為了解決上述問題，本發(fā)明實(shí)施例提供以下方案，當(dāng)然，以下解決方案僅是舉例，并非限定。

示例性地，電流測試階段包括多個子階段，每個子階段與一行發(fā)光二極管相對應(yīng)，每個子階段均包括測試子階段和位于測試子階段之后的復(fù)位子階段。

如圖14所示，為清楚起見圖14中僅示出與第n行發(fā)光二極管對應(yīng)的一個子階段，與其他行發(fā)光二極管對應(yīng)的子階段與其類似，在測試子階段內(nèi)，集成電路向?qū)?yīng)行的發(fā)光二極管的第一電極輸入測試數(shù)據(jù)信號(圖14中表示為dm)，測試數(shù)據(jù)信號(圖14中表示為dm)為高電平，選擇晶體管導(dǎo)通，測試數(shù)據(jù)信號到達(dá)驅(qū)動晶體管的柵極，驅(qū)動晶體管導(dǎo)通，驅(qū)動電流流經(jīng)發(fā)光二極管，并流經(jīng)測試走線，進(jìn)而可對流經(jīng)測試走線的電流進(jìn)行測試，根據(jù)測試電流計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值；在復(fù)位子階段內(nèi)，集成電路向?qū)?yīng)行的發(fā)光二極管的第一電極輸入復(fù)位信號(由于復(fù)位信號和測試數(shù)據(jù)信號為同一輸出端在不同時間段輸出的信號，因此圖14中也表示為dm)，復(fù)位數(shù)據(jù)信號為低電平，選擇晶體管依然導(dǎo)通，復(fù)位數(shù)據(jù)信號到達(dá)驅(qū)動晶體管的柵極，驅(qū)動晶體管截止，無驅(qū)動電流流經(jīng)對應(yīng)行的發(fā)光二極管，對應(yīng)行的發(fā)光二極管結(jié)束發(fā)光。需要說明的是，以上均以驅(qū)動晶體管和選擇晶體管為n型薄膜晶體管為例進(jìn)行描述。

其中，上述復(fù)位信號和測試數(shù)據(jù)信號可以通過對數(shù)據(jù)線上的脈沖信號的時間寬度進(jìn)行合理設(shè)置的方式實(shí)現(xiàn)，例如，使數(shù)據(jù)線上脈沖信號的時間寬度小于選擇晶體管導(dǎo)通的時間，使得在選擇晶體管導(dǎo)通的一部分時間內(nèi)數(shù)據(jù)線上為脈沖信號，該脈沖信號作為測試數(shù)據(jù)信號，選擇晶體管導(dǎo)通的另外一部分時間內(nèi)數(shù)據(jù)線上無脈沖信號，即相當(dāng)于數(shù)據(jù)線上輸出低電平信號，該低電平信號作為復(fù)位數(shù)據(jù)信號。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示基板、顯示面板及其驅(qū)動方法、顯示裝置，其中，顯示基板包括襯底基板，襯底基板包括顯示區(qū)域和圍繞顯示區(qū)域的周邊區(qū)域，顯示區(qū)域內(nèi)設(shè)置有陣列排布的多個像素單元，每個像素單元內(nèi)設(shè)置有發(fā)光二極管，發(fā)光二極管包括沿遠(yuǎn)離襯底基板依次設(shè)置的第一電極、發(fā)光層和第二電極，不同列的發(fā)光二極管對應(yīng)的第二電極相互分立，同一列的發(fā)光二極管對應(yīng)的第二電極相互電連接；周邊區(qū)域內(nèi)設(shè)置有至少一條顯示走線、至少一條測試走線和集成電路，顯示走線的第一端與集成電路電連接，測試走線的第一端與集成電路電連接，每列發(fā)光二極管的第二電極均與顯示走線的第二端電連接，每列發(fā)光二極管的第二電極還均與測試走線的第二端電連接，從而使得集成電路可以通過測試走線逐行向發(fā)光二極管的第二電極輸入測試電極信號，且集成電路逐行向發(fā)光二極管的第一電極輸入測試數(shù)據(jù)信號，并對流經(jīng)測試走線的電流進(jìn)行測試，進(jìn)而可以根據(jù)測試電流計(jì)算得出發(fā)光二極管的閾值電壓，并可根據(jù)該閾值電壓計(jì)算得出對顯示數(shù)據(jù)信號進(jìn)行補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償值，進(jìn)而在包括該顯示基板的顯示面板的顯示過程中集成電路可以通過顯示走線逐行向發(fā)光二極管的第二電極輸入顯示電極信號，且集成電路逐行向發(fā)光二極管的第一電極輸入使用補(bǔ)償值補(bǔ)償后的顯示數(shù)據(jù)信號，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了對發(fā)光二極管的閾值電壓的補(bǔ)償，提高了顯示面板的顯示效果。

最后應(yīng)說明的是：以上各實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述各實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解：其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的范圍。