基板電路及顯示面板的信號測試電路的制作方法
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種基于LTPS (Low-τemperaturePoly-Si)面板的基板電路及顯示面板，特別適用于信號測試。
【【背景技術(shù)】】
[0002]隨著低溫多晶硅(LTPS)半導體薄膜晶體管的發(fā)展以及LTPS半導體本身超高載流子迀移率的特性，面板周邊集成電路成為業(yè)界關(guān)注的焦點。出現(xiàn)大量關(guān)于System onPanel (SOP)的研究，使SOP逐步成為現(xiàn)實。
[0003]在一般面板設計的過程中，畫素測試(Cell Test)電路只局限于面板成盒后的測試，利用率較低。
[0004]利用傳統(tǒng)的畫素測試電路進行驅(qū)動信號量測的過程中，面板GOA的負載會嚴重影響驅(qū)動信號的RC負載，影響IC側(cè)經(jīng)過WOA區(qū)域后的低RC負載波形的量測。
[0005]如圖1所示，一傳統(tǒng)的顯示面板的基板電路的示意圖。所述基板包括:主動區(qū)(Active) 11、基板柵極驅(qū)動電路區(qū)(Gate On Array, GOA) 18、外部連接區(qū)(Fanout) 12、基板導線區(qū)(Wire On Array, W0A) 13，芯片區(qū)(Integrated Chip, IC) 14、軟板區(qū)(FlexiblePrinted Circuit, FPC) 15及畫素測試區(qū)(Cell Test Reg1n) 16。主動區(qū)11用于像素的顯示?；鍠艠O驅(qū)動電路區(qū)18用于產(chǎn)生所述面板內(nèi)的薄膜晶體管的柵極驅(qū)動信號。外部連接區(qū)12用于芯片區(qū)14與主動區(qū)11之間數(shù)據(jù)線的走線連接；畫素測試區(qū)16包括多個測試墊17，畫素測試區(qū)16用于測試畫素的顯示效果，過程管理是在芯片區(qū)14連接之前?；鍖Ь€區(qū)13用于面板周圍走線的連接。芯片區(qū)14用于芯片的連接，通過芯片驅(qū)動面板內(nèi)的電路和薄膜晶體管。軟板區(qū)15用于連接一主板。
[0006]如圖2所示，圖1中的畫素測試電路的連接示意圖。其中，在進行畫素測試時，芯片區(qū)14是沒有連接上去的。此時，信號從所述多個測試墊17輸入到基板導線區(qū)13的走線之中，然后經(jīng)由基板導線區(qū)13走線連接至基板柵極驅(qū)動電路區(qū)18，再驅(qū)動所述主動區(qū)11。由圖可以看出，在面板設計當中，信號線也要從芯片區(qū)14側(cè)引出，跟畫素測試區(qū)16的信號線相互對應，以便于芯片區(qū)14連接之后通過芯片區(qū)14來進行面板10的驅(qū)動控制。
[0007]在傳統(tǒng)面板中，只通過圖2所示所述多個測試墊17量測信號，此時量測的信號是經(jīng)過所述基板導線區(qū)13和所述基板柵極驅(qū)動電路區(qū)18的高RC負載之后輸出的波形，如果RC負載出現(xiàn)問題，則不能確定是所述基板導線區(qū)13的問題，還是所述基板柵極驅(qū)動電路區(qū)18的問題。
[0008]故，有必要提出一種技術(shù)方案以解決上述問題。
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【發(fā)明內(nèi)容】
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[0009]本發(fā)明提供一種利用信號測試墊進行面板驅(qū)動信號測量的方法，提高了畫素測試電路的有效利用率。本發(fā)明提供的電路在輸入到GOA模塊的信號線之前添加了 TFT的控制模塊，用于控制輸入到GOA內(nèi)部的信號，實現(xiàn)對于面板驅(qū)動信號的有效控制。
[0010]本發(fā)明提供的電路設計不僅能夠?qū)崿F(xiàn)芯片區(qū)經(jīng)過基板導線區(qū)和基板柵極驅(qū)動電路區(qū)的高RC負載之后輸出的波形，也能夠?qū)崿F(xiàn)芯片區(qū)的信號經(jīng)過基板導線區(qū)后低RC負載的波形準確的監(jiān)控和量測。當量測的高Re負載信號不能夠滿足柵極線的驅(qū)動時，通過比對低Re負載和高RC負載的波形，很容易發(fā)現(xiàn)RC異常的區(qū)域(W0A或G0A)，為產(chǎn)品設計提供有力的參考。
[0011]本發(fā)明的目的在于提供一種基板電路，設置于一基板，特別適用于信號測試。
[0012]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種用于基板電路。所術(shù)基板電路包括一芯片區(qū)、多個基板導線區(qū)、多個基板柵極驅(qū)動電路區(qū)及多個開關(guān)。
[0013]所述多個基板導線區(qū)包括多條基板導線，所述多條基板導線與所述芯片區(qū)電氣連接。所述多個基板柵極驅(qū)動電路區(qū)包括多條柵極線，每一所述柵極線與所述基板導線之一電氣連接。每一所述開關(guān)連接于一條所述柵極線與一條所述基板導線之間。
[0014]在一實施例中，所述基板電路還包含一主動區(qū)，連接所述多個基板柵極驅(qū)動電路區(qū)。所述主動區(qū)包括多個畫素單元，所述畫素單元連接所述多個基板柵極驅(qū)動電路區(qū)及所述芯片區(qū)的多條數(shù)據(jù)線。
[0015]在一實施例中，所述基板為一玻璃基板。
[0016]在一實施例中，所述基板電路還包括一軟板區(qū)，用于連接所述芯片區(qū)至一外部組件。
[0017]在一實施例中，所述基板電路還包括一外部連接區(qū)，用于收容連接所述主動區(qū)與所述芯片區(qū)的多條數(shù)據(jù)線。
[0018]在一實施例中，各所述開關(guān)包含一薄膜晶體管，所述薄膜晶體管包括一第一端、一第二端及一控制端，所述第一端連接一條所述基板導線，所述第二端連接一條所述柵極線。
[0019]在一實施例中，所述基板電路還包括多個畫素測試區(qū)，每一所述畫素測試區(qū)包括第一測試墊及多個第二測試墊。所述第一測試墊電氣連接所述薄膜晶體管的所述控制端及所述芯片區(qū)。所述多個第二測試墊分別電氣連接所述薄膜晶體管的第一端。
[0020]在一實施例中，所述第一端是源極、所述第二端是汲極及所述控制端是柵極。
[0021]在一實施例中，所述芯片區(qū)發(fā)出一控制信號，用于選擇性導通/斷開所述開關(guān)。
[0022]本發(fā)明的另一目的在于提供一種顯示面板。
[0023]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種包括上述其中之一的基板電路及一主板的顯示面板。該主板與該基板電路連接并提供所述基板電路所需顯示信息。
[0024]通過本發(fā)明的上述技術(shù)方案，產(chǎn)生的有益技術(shù)效果在于:
[0025]1.提高了畫素測試電路的有效利用率。
[0026]2.通過比對低RC負載和高RC負載的波形，很容易發(fā)現(xiàn)RC異常的區(qū)域(W0A或G0A)，為產(chǎn)品設計提供有力的參考。
【【附圖說明】】
[0027]圖1為一傳統(tǒng)的顯不面板的基板電路的不意圖。
[0028]圖2為圖1中的畫素測試電路的連接示意圖。
[0029]圖3為本發(fā)明的顯不面板的基板電路的不意圖。
[0030]圖4為圖3中的畫素測試電路的連接示意圖。
[0031]圖5為圖3的基板電路在實際操作時的工作時序圖。
【【具體實施方式】】
[0032]以下各實施例的說明是參考附加的圖式，用以例示本發(fā)明可用以實施的特定實施例。本發(fā)明所提到的方向用語，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「內(nèi)」、「外」、「側(cè)面」等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用