本發(fā)明涉及平板顯示技術，特別涉及一種TFT基板的測試裝置及測試方法。

背景技術：
TFT基板在制作完成后，需要利用測試裝置對TFT基板檢測以確認其是否能夠正常工作。由于剛制作完成的TFT基板還沒有與CF基板貼合，在TFT基板上也沒有液晶元件，當然也沒有設置信號連接器。因此必須通過測試裝置的探針對TFT基板輸入測試信號，并由檢測單元模擬CF基板和液晶元件，對TFT基板進行檢測。圖1為現(xiàn)有的TFT基板測試裝置的示意圖。如圖1所示，現(xiàn)有的TFT基板測試裝置100包括：載臺101、位于所述載臺101上方的檢測單元102、檢測框架103。所述載臺101用于放置待測的TFT基板。所述檢測單元102用于模擬CF基板和液晶元件。所述檢測框架103上具有一中空部分，用于暴露放置在所述載臺101上的待測TFT基板，所述探測框架103的上表面固定有多個探針104。使用上述TFT基板測試裝置進行TFT基板檢測時，通常包括如下步驟：首先，升起所述檢測框架103；接著，將待測TFT基板放置于所述載臺101上，并使待測TFT基板固定于所述載臺101上；接著，落下檢測框架103，使所述探針104與待測TFT基板上的信號接入點接觸；接著，將檢測單元102移動到待測TFT基板的上方對待測TFT基板進行檢測；檢測結束后，將檢測單元102移動到所述檢測框架103之外的區(qū)域；接下來，升起檢測框架103；最后，將待測TFT基板搬離所述載臺101?？芍趯ΜF(xiàn)有TFT基板測試裝置進行維修保養(yǎng)的時候，也要進行上述類似的動作過程。由此可知，現(xiàn)有的TFT基板測試裝置具有以下幾個缺點：首先，在對待測TFT基板進行檢測時，所述探針104與待測TFT基板上的信號接入點接觸，因此所述探針104是固定在探測框架103與TFT基板上的信號接入點對應的位置，對于不同規(guī)格的TFT基板，在TFT基板上的信號接入點 的數(shù)目以及配置位置都不同，而使用現(xiàn)有的TFT基板測試裝置要完成對不同規(guī)格TFT基板的測試，必須備有對應不同規(guī)格TFT基板的檢測框架，因此需要占用大量資金和倉儲空間；并且，測試中如果更換不同規(guī)格的TFT基板時，需更換對應規(guī)格的檢測框架，而更換檢測框架的工程復雜，需要占用比較長的時間。因此使用現(xiàn)有的TFT基板測試裝置一方面需要準備大量的不同規(guī)格的檢測框架，而且無法快速地在生產線上進行測試規(guī)格的變換。此外，在進行上述檢測和保養(yǎng)時，檢測框架103上的探針104始終處于一個位置，即能夠與待測TFT基板上的信號接入點接觸的位置，這一位置緊靠待測TFT基板的檢測區(qū)域，在使用檢測單元102對待測TFT基板進行檢測時，由于檢測單元102自身具有一定的體積，而且在檢測時，檢測單元102距離待測TFT基板的距離非常近，因此，當檢測單元102檢查到待測TFT基板的周邊區(qū)域時，非常容易碰撞到所述探針104；另外，在TFT基板測試裝置進行維修保養(yǎng)時，需要多次移動檢測單元102和檢測框架103，同樣會增加檢測單元102與檢測框架103上的探針104碰撞的機會，由于探針104是由細長的金屬針組成的，因此頻繁碰撞會導致探針104的損壞，而一旦檢測框架103上的探針104損壞，便無法完成對待測TFT基板的電信號輸入，導致檢測無法進行；并且，因為探針104是固定在檢測框架103上的，一旦探針104損壞，就要更換整個檢測框架103，整個檢測框架103的費用昂貴，而且更換整個檢測框架103的工程復雜，需要占用很長時間。

技術實現(xiàn)要素：
本發(fā)明的目的在于提供一種TFT基板的測試裝置及測試方法，解決在使用TFT基板的測試裝置時需要頻繁更換測試框架的問題，以達到快速地進行測試規(guī)格的變換的目的。本發(fā)明的另一目的在于，在進行檢測和保養(yǎng)時使探針遠離載臺，避免了探針與檢測單元的碰撞，防止探針損壞。為了解決上述技術為題，本發(fā)明提供一種TFT基板的測試裝置，包括：一載臺，所述載臺至少一個側邊設有滑動結構；一位于所述載臺上方的檢測單元；以及至少一探針單元，其中，所述探針單元包括：至少一個探針；一滑動部件，所述至少一個探針單元隨著所述滑動部件沿所述滑動結構滑動。可選的，所述探針單元還包括一連接所述至少一個探針和滑動部件的驅動裝置，所述驅動裝置用于控制所述至少一個探針旋轉?？蛇x的，所述滑動結構是設置在所述載臺側邊上且平行于所述側邊的滑動導軌。可選的，所述探針單元還包括用于將所述滑動部件固定在所述滑動導軌預定位置的緊固部件。可選的，所述滑動結構是開設在所述載臺側邊上且平行于所述側邊的滑槽?？蛇x的，所述探針單元還包括用于將所述滑動部件固定在所述滑槽預定位置的緊固部件?？蛇x的，所述驅動裝置為馬達，所述探針設置于所述馬達的轉動軸上，所述馬達通過轉動軸的轉動控制所述探針改變位置并固定于第一位置或第二位置?？蛇x的，當所述探針位于所述第一位置時，所述探針遠離所述載臺；當所述探針位于所述第二位置時，所述探針與待測TFT基板上的信號接入點接觸。可選的，所述馬達為步進式馬達?？蛇x的，所述滑動部件的斷面呈矩形或楔形?？蛇x的，所述載臺的多個側邊均設有滑動結構。可選的，所述載臺的所有側邊均設有滑動結構?？蛇x的，所述檢測單元包括：一液晶盒；設置于所述液晶盒上方的光源；以及設置于所述液晶盒上方的光學接收器?？蛇x的，所述液晶盒包括：一透明導電玻璃；一與所述透明導電玻璃相對設置的反射玻璃；以及充滿于所述透明導電玻璃和反射玻璃之間的液晶。相應的還提供一種使用TFT基板的測試裝置的測試方法，包括：將所述探針單元的探針固定于第一位置，使所述探針單元的探針遠離載臺；將待測TFT基板放置于所述載臺上；將所述探針單元沿滑動結構滑動到預定位置；將所述探針單元的探針固定于第二位置，使所述探針與待測TFT基板上的信號接入點接觸；將檢測單元移動至所述待測TFT基板的上方，并測試所述待測TFT基板?？蛇x的，所述測試方法還包括：測試結束后將所述探針單元的探針重新固定于第一位置；以及將所述待測TFT基板搬離所述載臺?？蛇x的，所述探針單元還包括一連接所述多個探針和滑動部件的驅動裝置；其中，所述驅動裝置用于控制所述多個探針旋轉?？蛇x的，所述滑動結構是設置在所述載臺側邊上且平行于所述側邊的滑動導軌?？蛇x的，所述探針單元還包括用于將所述滑動部件固定在所述滑動導軌預定位置的緊固部件?？蛇x的，所述滑動結構是開設在所述載臺側邊上且平行于所述側邊的滑槽?？蛇x的，所述探針單元還包括用于將所述滑動部件固定在所述滑槽預定位置的緊固部件。可選的，所述驅動裝置為馬達，所述探針設置于所述馬達的轉動軸上，所述馬達通過轉動軸的轉動控制探針改變位置并固定于所述第一位置或第二位置?？蛇x的，所述馬達為步進式馬達?？蛇x的，所述滑動部件呈矩形或楔形?？蛇x的，所述載臺的多個側邊均設有滑動結構?？蛇x的，所述載臺所有側邊均設有滑動結構?？蛇x的，所述檢測單元包括：一液晶盒；設置于液晶盒上方的光源；以及設置于液晶盒上方的光學接收器。可選的，所述液晶盒包括：一透明導電玻璃；一與所述透明導電玻璃相對設置的反射玻璃；以及充滿于所述透明導電玻璃和反射玻璃之間的液晶。本發(fā)明的TFT基板的測試裝置去除了測試框架，并在載臺側邊設置了滑動結構，使得探針單元能夠在滑動結構中自由滑動并可以固定在預定位置，探針單元的探針可以根據(jù)需要自由的更換，對于不同規(guī)格的TFT基板可以使用對應規(guī)格的探針單元，并將探針單元滑動到對應的不同規(guī)格TFT基板對應的位置，即可實現(xiàn)對應不同規(guī)格TFT基板的變換。即，采用本發(fā)明的TFT基板的測試裝置在可以實現(xiàn)快速變換測試規(guī)格的同時，減少測試框架的儲備量，避免了儲備測試框架對倉儲空間和資金的占有。此外，本發(fā)明通過馬達轉動軸的轉動可以控制探針改變位置并固定于第一位置或第二位置，將探針固定于第一位置時探針遠離載臺，避免了探針與檢測單元的碰撞，防止探針損壞。附圖說明圖1為現(xiàn)有的TFT基板的測試裝置的結構示意圖；圖2為本發(fā)明實施例一的TFT基板的測試裝置的結構示意圖；圖3為圖2中滑動結構的放大的剖面圖；圖4為圖2中TFT基板的測試裝置沿DD’線的的剖面圖；圖5為圖2中驅動裝置和探針的放大的結構示意圖；圖6為圖2中檢測單元的結構示意圖；圖7為圖6中液晶盒的未施加電壓時結構示意圖；圖8為圖6中液晶盒的施加電壓時結構示意圖；圖9為本發(fā)明實施例二的TFT基板的測試裝置中滑動結構的放大的剖面圖；圖10為本發(fā)明實施例三的TFT基板的測試裝置的剖面圖。具體實施方式本發(fā)明的核心思想在于去除測試框架，并在載臺側邊設置了滑動結構，使得探針單元能夠在滑動結構中自由滑動并可以固定在預定位置，探針單元的探針可以根據(jù)需要自由的更換，對于不同規(guī)格的TFT基板可以使用對應規(guī)格的探針單元，并將探針單元滑動到對應的不同規(guī)格TFT基板對應的位置，即可實現(xiàn)對應不同規(guī)格TFT基板的變換。即，采用本發(fā)明的TFT基板的測試裝置在可以實現(xiàn)快速變換測試規(guī)格的同時，減少測試框架的儲備量，避免了儲備測試框架 對倉儲空間和資金的占有。此外，本發(fā)明通過馬達轉動軸的轉動可以控制探針改變位置并固定于第一位置或第二位置，將探針固定于第一位置時探針遠離載臺，避免了探針與檢測單元的碰撞，防止探針損壞。實施例一如圖2所示，本實施例的TFT基板的測試裝置200包括：載臺201、設置于所述載臺201至少一個側邊的滑動結構202、位于所述載臺201上方的檢測單元203及至少一個探針單元204。下面依次詳細說明滑動結構、探針單元以及檢測單元?；瑒咏Y構如圖3所示，所述滑動結構202是設置在所述載臺201側邊上且平行于所述側邊的滑動導軌。本實施例中，所述滑動結構202分別設置在載臺201的兩條側邊上?？梢岳斫獾氖?，為了適應更多規(guī)格的TFT基板，也可以在所述載臺201的兩個以上多個側邊或所有側邊都設置滑動結構202。當然，只要能夠完成對待測TFT基板的測試，也可以只在載臺201的一條側邊上設置滑動結構202。探針單元結合圖2和圖4，所述探針單元204包括至少一個探針205和一滑動部件206，所述至少一個探針單元204可以隨著所述滑動部件206沿滑動結構202滑動。所述探針單元204還包括一連接至少一個探針205和滑動部件206的驅動裝置207，所述驅動裝置207用于控制所述至少一個探針205的旋轉。進一步的，所述探針單元204還包括用于將所述滑動部件206固定在所述滑動結構202內預定位置的緊固部件211。所述緊固部件211例如為螺絲。所述驅動裝置207優(yōu)選為馬達，在本實施例中所述馬達為步進式馬達。如圖5所示，所述探針205設置于所述馬達的轉動軸208上。探針205可以根據(jù)待測TFT基板的信號接入點的多少以及分布組成若干個探針組209，每組探針組209固定在一個中空的固定套210上。所述固定套210的斷面與所述轉動軸208的斷面相應，以使固定套210能夠嵌套并固定在轉動軸208上，使探針205可以繞著馬達的轉動軸208旋轉。如果變換了不同規(guī)格的待測TFT基板時，可以直接更換對應規(guī)格的探針組209即可。本實施例中是采用了固定套的方式將探針固定在馬達的轉動軸上，在其它具體實施例中也可以是用其他的 固定方式，本發(fā)明對探針在轉動軸上的固定方式不做限定。結合圖4和圖5，所述馬達通過轉動軸208的轉動控制所述探針205改變位置并固定于第一位置或第二位置。當所述探針205位于所述第一位置時，所述探針205遠離所述載臺201；當所述探針205位于所述第二位置時，所述探針205與待測TFT基板上的信號接入點接觸。所述滑動部件206位于所述滑動結構202內，可以自由的在所述滑動結構202內滑動，當滑動部件206沿著滑動結構202滑動時，能夠帶動探針205沿著所滑動結構202滑動。本實施例中，為了保證滑動部件206在滑動結構202內的穩(wěn)定性，將滑動部件206的端面設計成楔形。當然，滑動結構202的斷面也可以是其它形狀，只要其與滑動部件206的斷面形狀相配合即可。檢測單元由于剛制作完成的TFT基板還沒有與CF基板貼合，在TFT基板上也沒有液晶元件，為了能夠提前預判斷TFT基板組成液晶顯示面板以后顯示效果，由檢測單元模擬CF基板和液晶元件，對TFT基板進行檢測。如圖6所示，所述檢測單元203包括：液晶盒212、設置于所述液晶盒212上方的光源213以及設置于所述液晶盒212上方的光學接收器214。結合圖6和圖7，所述液晶盒212包括：透明導電玻璃215、與所述透明導電玻璃215相對設置的反射玻璃216以及充滿于所述透明導電玻璃215和反射玻璃216之間的液晶217。當待測TFT基板218和透明導電玻璃215都沒有電信號輸入時，液晶217的排列方向是雜亂無章的，因此當光源213的光線從垂直方向入射到液晶盒212時，光線被液晶217多次折射和反射玻璃216的反射后，從其他方向射出，這時光學接收器214接收不到出射光線。結合圖4、圖6和圖8，以正極性液晶分子為例，當探針205對待測TFT基板218輸入檢測電信號，同時在透明導電玻璃215上也輸入相應的公共電壓時，在待測TFT基板218和透明導電玻璃215之間建立起一預定電場。此處需要說明的是，該電場大小取決于施加在待測TFT基板218和透明導電玻璃215間的電壓差絕對值，與待測TFT基板218和透明導電玻璃215的電壓差值的正負沒有關系。那么，在預定電場的作用下液晶217按照統(tǒng)一的方向規(guī)則排列，當光源213的光線從垂直方向入射到液晶盒212時，光線經(jīng)過規(guī)則排列的液晶217后并經(jīng)反射玻璃216的反射垂直出射，這時光學接收器214接收到出射光線。 而且根據(jù)所施加的電壓大小，液晶分子會與水平面形成一定的傾角，射出的光線經(jīng)過該液晶分子調制后將呈現(xiàn)一定的強度，通過分析出射光線的強度可以確定待測TFT基板是否正常動作。需要說明的是，在圖8中，為了表示清楚，以垂直向下的箭頭表示入射光線，以垂直向上的箭頭表示出射光線，事實上對于垂直射入液晶盒的光線，入射光線和出射光線的傳播路徑是重合的。本發(fā)明還提供一種利用上述TFT基板的測試裝置進行測試的測試方法，結合圖2至圖6，所述測試方法包括如下步驟：首先，通過驅動裝置207將所述探針單元204的探針205固定于第一位置，使所述探針205遠離載臺201；接著，將待測TFT基板放置于所述載臺201上；接著，將所述探針單元204沿滑動結構202滑動到預定位置，所述預定位置對應不同規(guī)格TFT基板上的信號接入點的位置；接著，通過驅動裝置207改變所述探針單元204的探針205位置并將其固定于第二位置，使所述探針205與待測TFT基板上的信號接入點接觸；接著，將檢測單元203移動至所述待測TFT基板的上方，通過探針205對所述待測TFT基板施加測試電信號，同時在檢測單元203的透明導電玻璃215上施加一公共電壓，然后通過測試檢測單元203的光學接收器214的光強，確認所述待測TFT基板是否能夠正常動作；接著，上述測試結束后，通過驅動裝置207改變所述探針205位置并其重新固定于第一位置；最后，將所述待測TFT基板搬離所述載臺201。在上述測試過程中，在待測TFT基板放置和搬離時，在檢測單元203移動時，所述探針205始終位于遠離載臺201的第一位置，從而可以減少了上述移動動作對探針205造成的碰撞的可能性。在對TFT基板的測試裝置進行維修保養(yǎng)時，也可以采用類似的作業(yè)方法。首先，將所述探針單元204的探針205固定于第一位置，使所述探針205遠離載臺201；接著，對所述TFT基板的測試裝置進行維修保養(yǎng)。也就是說，在整維修保養(yǎng)期間，所述探針205始終位于遠離載臺201的第一位置，減少了維修保養(yǎng)動作可能對探針205造成的碰撞損傷。甚至，在維修保養(yǎng)期間，可以將所述探針205從所述探針單元204上拆卸下來，從根本上杜絕了探針205被碰撞 損傷的可能性。實施例二本實施例與實施例一不同之處在于，所述滑動結構202是開設在所述載臺201側邊上且平行于所述側邊的滑槽。如圖9所示，所述滑動結構202是分別設置在載臺201的兩條側邊上。可以理解的是，為了適應更多規(guī)格的TFT基板，也可以在所述載臺201的所有側邊都設置滑動結構202。當然，只要完成對待測TFT基板的測試，也可以只在載臺201的一條側邊上設置滑動結構202。實施例三如圖2所示，在實施例一中通過滑動結構202，探針205可以沿所述滑動結構202的長度方向（圖2中的Y軸方向）自由滑動，但是不能沿所述滑動結構202的寬度方向（圖2中的X軸方向，垂直于Y軸方向）移動，如果TFT基板的信號接入點在滑動結構202的寬度方向發(fā)生變化時，就無法利用上述TFT基板的測試裝置進行測試了。為此，本實施例將滑動部件206的斷面設計成矩形，保證探針205沿所述滑動結構202的寬度方向（與所述長度方向垂直的方向）也能有一定的移動范圍。如圖10所示，通過控制滑動部件206在滑動結構202內嵌入長度，可以使滑動部件206沿所述滑動結構202的寬度方向進行小范圍的移動?？芍瑒咏Y構202的斷面與滑動部件206也可以為其他任意形狀，如球形，只要滿足滑動部件206嵌入滑動結構202后能夠自由滑動，即可實現(xiàn)本發(fā)明的目的。綜上所述，在本發(fā)明TFT基板的測試裝置中去除了測試框架，通過在載臺側邊設置了滑動結構，使得探針單元能夠在滑動結構中自由滑動并可以固定在預定位置。探針單元的探針可以根據(jù)需要自由的更換，對于不同規(guī)格的TFT基板，可以使用對應規(guī)格的探針單元，并將探針單元滑動到對應的不同規(guī)格TFT基板對應的位置，即可實現(xiàn)對應不同規(guī)格TFT基板的變換。也就是說，并不需要更換整個測試框架，就可以實現(xiàn)了快速地進行測試規(guī)格的變換。而且，通過馬達轉動軸的轉動可以控制探針改變位置并固定于第一位置或第二位置，將探針固定于第一位置時，探針遠離載臺避免了探針與檢測單元的碰撞。采用本發(fā)明的TFT基板的測試裝置在可以實現(xiàn)快速變換測試規(guī)格的同時，也減少了測試 框架的儲備量，避免了儲備測試框架對倉儲空間和資金的占有。需要說明的是，本說明書中各個實施例采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似部分互相參見即可。顯然，本領域的技術人員可以對發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其等同技術的范圍之內，則本發(fā)明也意圖包括這些改動和變型在內。