本發(fā)明涉及用于檢查液晶的注射情況的方法和裝置，更具體地，涉及用于檢查以下液晶的注射情況的方法和裝置，其中，具有注射在上基板與下基板之間的液晶的液晶盒被局部擠壓并且由此擠壓度改變，使得可以基于該擠壓度來檢查液晶的注射情況。

背景技術(shù)：

通常，液晶顯示(lcd)裝置包括光源和液晶盒，并且利用液晶的雙折射來控制光的透射，從而顯示各種圖像。在制造液晶盒的過程中，提出了一種將液晶材料散布在基板上并且使用另一基板來覆蓋該基板的技術(shù)。這樣的技術(shù)顯著減少了在用于形成液晶盒的過程中所需步驟的數(shù)量，并且由此提高了制造效率。

具體地，滴下式注入(odf)法包括以下步驟。首先，向一對(duì)基板中的一個(gè)基板的整個(gè)邊緣施加密封劑以形成密封構(gòu)件，并且將液晶材料散布到該對(duì)基板中的一個(gè)基板上。在散布步驟之后，將一個(gè)基板布置在另一基板上。在這種狀態(tài)下，使密封構(gòu)件硬化。

與常規(guī)真空注射法相比，該odf法減少了使用液晶材料的量以及注射液晶材料所用的時(shí)間，從而顯著減少了液晶盒的制造成本并且提高了產(chǎn)率。

此時(shí)，更重要的是檢查液晶的注射情況，以防止當(dāng)玻璃基板變得更薄和更大并且液晶盒具有更高分辨率時(shí)液晶盒的驅(qū)動(dòng)缺陷。

現(xiàn)有技術(shù)

專利文獻(xiàn)

題為“systemfortestingaliquidcrystalandendsealoflcdcell”并于2000年1月15日公布的韓國專利第10-0279260號(hào)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

因此，構(gòu)思本發(fā)明以解決上述問題，并且本發(fā)明的一個(gè)方面是提供了一種用于檢查液晶的注射情況的方法和裝置，其中，具有注射在上基板與下基板之間的液晶的液晶盒被局部擠壓，并且由此擠壓度改變，使得可以基于該擠壓度來檢查液晶的注射情況。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式，提供了一種檢查注射在液晶盒的上基板與下基板之間的液晶的注射情況的方法，該方法包括：擠壓步驟，以預(yù)設(shè)壓力在擠壓位置處擠壓液晶盒；測量步驟，測量液晶盒在擠壓步驟中擠壓的擠壓位置處的擠壓度；以及檢查步驟，將液晶盒的擠壓度與預(yù)設(shè)參考變形度進(jìn)行比較。

檢查步驟可以包括：如果液晶盒的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍內(nèi)，則確定液晶在正常注射情況下，而如果液晶盒的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍之外，則確定液晶在不良注射情況下。

檢查液晶的注射情況的方法還可以包括改變液晶盒上的擠壓位置的位置調(diào)整步驟。

測量步驟包括：第一測量步驟，當(dāng)在擠壓步驟中擠壓該擠壓位置時(shí)測量液晶盒在擠壓位置處的凹陷；第二測量步驟，先于擠壓步驟，在擠壓該擠壓位置之前，測量液晶盒在擠壓位置處的表面位置；以及位移計(jì)算步驟，基于在第一測量步驟中測量的值與在第二測量步驟中測量的值之間的差來計(jì)算液晶盒的擠壓度。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式，提供了一種用于檢查注射在液晶盒的上基板與下基板之間的液晶的注射情況的裝置，該裝置包括：擠壓單元，用于以預(yù)設(shè)壓力在擠壓位置處擠壓液晶盒；測量單元，用于測量液晶盒在擠壓步驟中擠壓的擠壓位置處的擠壓度；以及檢查單元，用于將液晶盒的擠壓度與預(yù)設(shè)參考變形度進(jìn)行比較。

如果液晶盒的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍內(nèi)，則檢查單元確定液晶在正常注射情況下，而如果液晶盒的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍之外，則檢查單元確定液晶在不良注射情況下。

用于檢查液晶的注射情況的裝置還可以包括用于改變液晶盒上的擠壓位置的測量控制器。

測量單元可以包括：測量器，其在液晶盒上方并與液晶盒間隔開，并且測量液晶盒在擠壓位置處的擠壓度；位置調(diào)整器，其在液晶盒的上方并根據(jù)擠壓位置來移動(dòng)測量器和擠壓單元；以及位移計(jì)算器，其基于當(dāng)擠壓該擠壓位置時(shí)通過測量液晶盒在擠壓位置處的凹陷而從測量器獲得的值與在擠壓該擠壓位置之前通過測量液晶盒在擠壓位置處的表面位置而從測量器獲得的值之間的差來計(jì)算液晶盒的擠壓度。

測量單元可以包括：測量器，其在液晶盒上方并與液晶盒間隔開，并且測量液晶盒在擠壓位置處的擠壓度；位置調(diào)整器，其在液晶盒的上方并根據(jù)擠壓位置移動(dòng)測量器；以及位移計(jì)算器，其基于當(dāng)擠壓該擠壓位置時(shí)通過測量液晶盒在擠壓位置處的凹陷而從測量器獲得的值與在擠壓該擠壓位置之前通過測量液晶盒在擠壓位置處的表面位置而從測量器獲得的值之間的差來計(jì)算液晶盒的擠壓度，并且多個(gè)擠壓單元在液晶盒上方對(duì)應(yīng)于的多個(gè)擠壓位置而彼此間隔開。

測量單元可以包括：多個(gè)測量器，其在液晶盒上方對(duì)應(yīng)于多個(gè)擠壓位置而彼此間隔開，并且測量液晶在擠壓位置處的擠壓度；以及位移計(jì)算器，其基于當(dāng)擠壓該擠壓位置時(shí)通過測量液晶盒在擠壓位置處的凹陷而從測量器獲得的值與在擠壓該擠壓位置之前通過測量液晶盒在擠壓位置處的表面位置而從測量器獲得的值之間的差來計(jì)算液晶盒的擠壓度，并且多個(gè)擠壓單元在液晶盒上方對(duì)應(yīng)于多個(gè)擠壓位置而彼此間隔開。

測量單元可以包括：多個(gè)測量器，其在液晶盒上方對(duì)應(yīng)于多個(gè)擠壓位置而彼此間隔開，并且測量液晶盒在擠壓位置處的擠壓度；位置調(diào)整器，其在液晶盒的上方并根據(jù)擠壓位置來移動(dòng)擠壓單元；以及位移計(jì)算器，其基于當(dāng)擠壓該擠壓位置時(shí)通過測量液晶盒在擠壓位置處的凹陷而從測量器獲得的值與在擠壓該擠壓位置之前通過測量液晶盒在擠壓位置處的表面位置而從測量器獲得的值之間的差來計(jì)算液晶盒的擠壓度。

附圖說明

結(jié)合附圖，本發(fā)明的以上和/或其他方面將根據(jù)下面示例性實(shí)施方式的描述而變得明顯和更容易理解，在附圖中：

圖1(a)至圖1(c)是示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的液晶被注射到液晶盒中的視圖；

圖2(a)至圖2(c)是示出在用于檢查液晶的注射情況的方法和裝置中液晶盒在擠壓位置處的表面位置變化的視圖；

圖3示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于檢查液晶的注射情況的裝置；

圖4示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于檢查液晶的注射情況的裝置的替選示例；以及

圖5示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的檢查液晶的注射情況的方法。

具體實(shí)施方式

下文中，將參照附圖詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明的用于檢查液晶的注射情況的方法和裝置的實(shí)施方式。本發(fā)明不受以下實(shí)施方式的限制或約束。此外，可以省略對(duì)公知功能或元件的詳細(xì)描述以使本發(fā)明清楚。

圖1(a)至圖1(c)是示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的液晶被注射到液晶盒中的視圖，圖2(a)至圖2(c)是示出在用于檢查液晶的注射情況的方法和裝置中液晶盒在擠壓位置處的表面位置變化的視圖。

參照?qǐng)D1(a)至圖1(c)和圖2(a)至圖2(c)，通過將液晶lc注射在通過多個(gè)主間隔體mc而被間隔開預(yù)定距離的上基板gt與下基板gb之間來完成根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的液晶盒sg。此時(shí)，在主間隔體mc之間設(shè)置有子間隔體sc，從而增強(qiáng)上基板gt與下基板gb之間的間隔。

在液晶lc的正常注射情況下，如圖1(a)中所示，主間隔體mc的相對(duì)側(cè)被支承在上基板gt與下基板gb二者上。此外，液晶lc被填充在上基板gt與下基板gb之間而沒有留下任何空的空間。

在液晶lc的過量注射情況下，如圖1(b)中所示，主間隔體mc的第一端被支承在下基板gb上，而主間隔體mc的第二端由于液晶lc的過量注射而與上基板gt隔開。此時(shí)，在上基板gt與下基板gb之間沒有空的空間，但是液晶lc填充在主間隔體mc的第二端與上基板gt之間。

在液晶lc的不充足注射情況下，如圖1(c)中所示，主間隔體mc的相對(duì)端被支承在上基板gt與下基板gb二者上。雖然液晶lc被填充在上基板gt與下基板gb之間，但是由于液晶lc的不足量而會(huì)在上基板gt與下基板gb之間形成空的空間。

當(dāng)擠壓單元20以預(yù)設(shè)壓力pp擠壓液晶盒sg時(shí)，液晶盒sg因壓力pp而凹陷。

例如，在液晶lc的正常注射情況下，液晶盒sg的擠壓度pa在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍內(nèi)，即使根據(jù)擠壓位置p可能存在擠壓度pa的較小差。

此處，“pa”指當(dāng)擠壓單元20擠壓該擠壓位置p時(shí)液晶盒sg在擠壓位置p處的凹陷，而“pb”指在擠壓該擠壓位置p之前液晶盒sg在擠壓位置p處的表面位置。

換言之，如果正常注射液晶lc，則如圖2(a)中所示，液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度pa-pb等于或小于預(yù)設(shè)參考變形度的最大值ph，或者等于或大于預(yù)設(shè)參考變形度的最小值ps。

然而，如果液晶lc在不充足注射情況下，則如圖2(b)中所示，液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度pa-pb大于預(yù)設(shè)參考變形度的最大值ph。此外，如果液晶lc在過量注射情況下，則如圖2(c)中所示，液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度pa-pb小于預(yù)設(shè)參考變形度的最小值ps。

在上述說明中，液晶盒sg的擠壓度是當(dāng)擠壓該擠壓位置p時(shí)通過測量液晶盒sg在擠壓位置p處的凹陷而從測量單元30(稍后描述)獲得的值與在擠壓該擠壓位置p之前通過測量液晶盒sg在擠壓位置p處的表面位置而從測量單元30獲得的值之間的差。

像這樣，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于檢查液晶的注射情況的方法和裝置是基于以下原理：液晶盒sg的擠壓度取決于液晶lc的注射情況而變化。在下面的本發(fā)明的實(shí)施方式中，將首先描述用于檢查液晶的注射情況的裝置，接著將利用該裝置來描述檢查液晶的注射情況的方法。

下面，將描述根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于檢查液晶的注射情況的裝置。圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于檢查液晶的注射情況的裝置，而圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于檢查液晶的注射情況的裝置的替選示例；以及

參照?qǐng)D1至圖4，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于檢查液晶的注射情況的裝置對(duì)液晶盒sg的擠壓度進(jìn)行測量，從而檢查液晶lc的注射情況。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式，用于檢查液晶的注射情況的裝置包括擠壓單元20、測量單元30以及檢查單元40。

擠壓單元20以預(yù)設(shè)壓力pp在擠壓位置p處擠壓液晶盒sg。例如，擠壓單元20可以是間接擠壓型，其包括用于向擠壓位置p噴射流體的各種噴射器。替選地，擠壓單元20可以是直接擠壓型，其包括具有尖端的各種擠壓器，該尖端用于以預(yù)設(shè)壓力pp向擠壓位置p擠壓。擠壓單元20可以以預(yù)設(shè)壓力pp擠壓該擠壓位置p達(dá)一定時(shí)間段，而不用連續(xù)擠壓該擠壓位置p。

擠壓單元20可以用于執(zhí)行擠壓步驟s2(稍后描述)。

測量單元30對(duì)液晶盒sg在通過擠壓單元20擠壓的擠壓位置p處的擠壓度進(jìn)行測量。此處，對(duì)測量單元30沒有限制，并且可以使用干涉儀、相機(jī)等對(duì)液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度進(jìn)行測量。

測量單元30可以用于執(zhí)行測量步驟s3(稍后描述)。

例如，測量單元30可以包括測量器31、位置調(diào)整器32以及位移計(jì)算器33。

測量器31布置在液晶盒sg上方并與液晶盒sg隔開。測量器31對(duì)液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度進(jìn)行測量。測量器31可以通過干涉儀、相機(jī)等來測量液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度。

光泄漏測量器31可以用于執(zhí)行下面的測量步驟s3。

位置調(diào)整器32布置在液晶盒sg上方，并且將測量器31和擠壓單元20移動(dòng)至對(duì)應(yīng)于擠壓位置p的位置。對(duì)位置調(diào)整器32沒有限制，并且可以使用各種結(jié)構(gòu)來移動(dòng)測量器31和擠壓單元20。

位移計(jì)算器33基于當(dāng)擠壓該擠壓位置p時(shí)通過測量液晶盒sg在擠壓位置p處的表面位置而從測量器31獲得的值與在擠壓該擠壓位置p之前通過測量液晶盒sg在擠壓位置p處的表面位置而從測量器31獲得的值之間的差來計(jì)算液晶盒sg的擠壓度。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式，用于檢查液晶的注射情況的裝置還可以包括用于改變液晶盒sg中的擠壓位置p的測量控制器35。測量控制器35控制位置調(diào)整器32來移動(dòng)測量器31和擠壓單元20，以對(duì)應(yīng)于擠壓位置p移動(dòng)，從而改變液晶盒sg上的擠壓位置p。

替選地，測量單元30可以包括測量器31、位置調(diào)整器32以及位移計(jì)算器33。在這種情況下，位置調(diào)整器32僅移動(dòng)測量器31。由此，擠壓單元20對(duì)應(yīng)于多個(gè)擠壓位置p而彼此間隔開，并且耦接至測量支承件34，其被布置在液晶盒sg上方并且與液晶盒sg隔開。

在這種情況下，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于檢查液晶的注射情況的裝置還可以包括用于改變液晶盒sg上的擠壓位置p的測量控制器35。測量控制器35根據(jù)擠壓位置p來操作支承在測量支承件34上的擠壓單元20，并且操作位置調(diào)整器32來將測量器31移動(dòng)至對(duì)應(yīng)的擠壓位置p，從而改變液晶盒sg上的擠壓位置p。

替選地，測量單元30還可以包括測量支承件34、測量器31以及位移計(jì)算器33。

測量支承件34布置在液晶盒sg上方并且與液晶盒sg隔開。

多個(gè)測量器31對(duì)應(yīng)于多個(gè)擠壓位置p而彼此間隔開，并且耦接至測量支承件34。測量器31測量液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度。測量器31可以通過干涉儀、相機(jī)等以各種方式實(shí)現(xiàn)，以測量液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度。

位移計(jì)算器33基于當(dāng)擠壓該擠壓位置p時(shí)通過測量液晶盒sg在擠壓位置p處的表面位置而從測量器31獲得的值與在擠壓該擠壓位置p之前通過測量液晶盒sg在擠壓位置p處的表面位置而從測量器31獲得的值之間的差來計(jì)算液晶盒sg的擠壓度。

由此，多個(gè)擠壓單元20可以對(duì)應(yīng)于多個(gè)擠壓位置p而彼此間隔開，并且與測量器31一起耦接至測量支承件34。接著，測量控制器35對(duì)應(yīng)于擠壓位置p操作支承在測量支承件34上的測量器31和擠壓單元20，從而改變液晶盒sg上的擠壓位置p。

此外，擠壓單元20可以通過位置調(diào)整器32在液晶盒sg上方對(duì)應(yīng)于的多個(gè)擠壓位置p移動(dòng)。接著，測量控制器35對(duì)應(yīng)于擠壓位置p操作支承在測量支承件34上的測量器31，并且操作位置調(diào)整器32以將擠壓單元20移動(dòng)至對(duì)應(yīng)的擠壓位置p，從而改變液晶盒sg上的擠壓位置p。

檢查單元40將液晶盒sg的擠壓度與預(yù)設(shè)參考變形度進(jìn)行比較。

檢查單元40可以用于執(zhí)行檢查步驟s4(稍后描述)。

如果液晶盒sg的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍內(nèi)，則檢查單元40確定液晶lc被正常注射。另一方面，如果液晶盒sg的擠壓度超出預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍，則檢查單元40確定液晶lc在不良注射情況下。

附圖標(biāo)記“10”指示在其上裝載液晶盒sg的平臺(tái)。平臺(tái)10可以用于執(zhí)行布置步驟s1(稍后描述)。

下面，將描述根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的檢查液晶的注射情況的方法。圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的檢查液晶的注射情況的方法。

參照?qǐng)D1至圖5，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的檢查液晶的注射情況的方法測量液晶盒sg的擠壓度，以檢查液晶lc的注射情況。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的檢查液晶的注射情況的方法包括擠壓步驟s2、測量步驟s3以及檢查步驟s4。

擠壓步驟s2是以預(yù)設(shè)壓力pp在擠壓位置p處擠壓液晶盒sg。在擠壓步驟s2中，根據(jù)擠壓單元20的操作以預(yù)設(shè)壓力pp擠壓液晶盒sg的擠壓位置p。

測量步驟s3是在擠壓步驟s2之后測量液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度。在測量步驟s3中，根據(jù)測量單元30的操作測量液晶盒sg在擠壓位置p處的擠壓度。

例如，測量步驟s3包括：第一測量步驟s31，當(dāng)在擠壓步驟s2中擠壓該擠壓位置p時(shí)測量液晶盒sg在擠壓位置p的凹陷；第二測量步驟s32，先于擠壓步驟s2，在擠壓該擠壓位置p之前測量液晶盒sg在擠壓位置p處的表面位置；以及位移計(jì)算步驟s33，基于在第一測量步驟s31中測量的值pa與在第二測量步驟s32中測量的值pb之間的差來計(jì)算液晶盒sg的擠壓度。

第一測量步驟s31是當(dāng)擠壓該擠壓位置p時(shí)根據(jù)測量器31的操作來測量液晶盒sg在擠壓位置p處的凹陷。第二測量步驟s32是先于擠壓步驟s2在擠壓該擠壓位置p之前根據(jù)測量器31的操作來測量液晶盒sg在擠壓位置p處的表面位置。位移計(jì)算步驟s33是基于在第一測量步驟s31中測量的值pa與在第二測量步驟s32中測量的值pb之間的差、根據(jù)位移計(jì)算器33的操作來計(jì)算液晶盒sg的擠壓度。

檢查步驟s4是將液晶盒sg的擠壓度與預(yù)設(shè)參考變形度進(jìn)行比較。在檢查步驟s4中，根據(jù)檢查單元40的操作來比較液晶盒sg的擠壓度與和預(yù)設(shè)參考變形度。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式，檢查液晶的注射情況的方法還可以包括位置調(diào)整步驟s5。

位置調(diào)整步驟s5改變液晶盒sg上的擠壓位置p。在位置調(diào)整步驟s5中，可以根據(jù)測量控制器35的操作來改變液晶盒sg上的擠壓位置p。通過位置調(diào)整步驟s5，可以檢查多個(gè)擠壓位置p中的各個(gè)擠壓位置p處的液晶的注射情況。

在檢查步驟s4中，如果液晶盒sg的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍內(nèi)，則確定液晶lc被正常注射。此外，在檢查步驟s4中，如果液晶盒sg的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差變化之外，則確定液晶lc在不良注射情況下。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式，檢查液晶的注射情況的方法還可以包括通過步驟s41或拒絕步驟s42。

當(dāng)液晶盒sg的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍內(nèi)時(shí)，執(zhí)行通過步驟s41。在通過步驟s41中，確定其中注射液晶lc的基板是正常的。

由于檢查多個(gè)擠壓位置p，所以如果所有的擠壓位置p均在通過步驟s41中通過，則接下來進(jìn)行替換步驟s43和布置步驟s1。

替換步驟s43是將在通過步驟s41中通過的液晶盒sg從平臺(tái)10卸下，并且將新的液晶盒sg裝載到平臺(tái)10上。

布置步驟s1是將新的液晶盒sg布置到平臺(tái)10的適當(dāng)位置上。在替換步驟s43和布置步驟s1之后，根據(jù)液晶的注射情況來使新的液晶盒sg經(jīng)受檢查。

當(dāng)液晶盒sg的擠壓度在預(yù)設(shè)參考變形度的誤差范圍之外時(shí)，執(zhí)行拒絕步驟s42。在拒絕步驟s42中，確定其中注射液晶lc的基板為不良的。

替換步驟s43是將拒絕步驟s42的液晶盒sg從平臺(tái)10卸下，并且將新的液晶盒sg裝載到平臺(tái)10上。

布置步驟s1是將新的液晶盒sg布置到平臺(tái)10的適當(dāng)位置。在替換步驟s43和布置步驟s1之后，根據(jù)液晶的注射情況來使新的液晶盒sg經(jīng)受檢查。

在上述檢查液晶的注射情況的裝置和方法中，具有注射在上基板與下基板之間的液晶的液晶盒被局部擠壓，并且由此擠壓度改變，使得可以基于該擠壓度來檢查液晶的注射情況。此外，可以對(duì)液晶盒sg的擠壓度進(jìn)行測量，液晶盒sg的擠壓度在改變液晶盒sg上的擠壓位置p的同時(shí)取決于預(yù)設(shè)壓力pp而變化，并且還可以檢查液晶lc的注射情況在整個(gè)液晶盒sg的表面是否是均勻的。

另外，在擠壓液晶盒sg之前和之后測量液晶盒sg的表面位置，使得可以檢查液晶lc的注射情況，而不管液晶盒sg的表面是平坦的還是彎曲的。特別地，可以簡化對(duì)關(guān)于平坦型液晶盒sg的擠壓度的測量，以快速檢查液晶lc的注射情況。

雖然已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的一些示例性實(shí)施方式，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)理解，可以在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下對(duì)這些實(shí)施方式進(jìn)行修改，本發(fā)明的范圍限定在所附權(quán)利要求及其等同內(nèi)容中。