本發(fā)明涉及液晶產(chǎn)品制作技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示裝置一種顯示面板測試設(shè)備及測試方法。

背景技術(shù)：

目前對顯示面板進行測試的光學(xué)測試方法中，一次測試只能針對一個顯示面板，且每次測試都需要操作多功能測試儀(J2000)以及色彩分析儀(CA310)，而且在進行大批量的顯示面板的測試時，需要多次更換顯示面板、不斷重復(fù)拔插顯示面板，同時不間斷操作上位機，在大規(guī)模測試時，尤其繁瑣。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種顯示面板測試設(shè)備及測試方法，不需重復(fù)拔插顯示面板即可完成多個顯示面板的測試。

為了達到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種顯示面板測試設(shè)備，包括：

基臺，承載至少一個待測顯示面板；

測試裝置，用于對當前待測顯示面板進行測試，可移動的設(shè)置于所述基臺上；

驅(qū)動結(jié)構(gòu)，用于驅(qū)動測試裝置或驅(qū)動待測顯示面板移動使當前待測顯示面板位于所述測試裝置的有效測試區(qū)域。

進一步的，所述基臺包括轉(zhuǎn)盤，所述轉(zhuǎn)盤上間隔的設(shè)置多個所述待測顯示面板。

進一步的，所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)包括控制所述轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動預(yù)設(shè)角度的控制結(jié)構(gòu)。

進一步的，所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)包括：

導(dǎo)軌，由所述轉(zhuǎn)盤中心向每個待測顯示面板延伸設(shè)置；

支柱，可移動的設(shè)置在所述導(dǎo)軌上，所述支柱上設(shè)有所述測試裝置；

第一電機，用于驅(qū)動所述支柱沿著所述導(dǎo)軌移動。

進一步的，所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)還包括：

連接桿，其與所述支柱垂直連接，所述測試裝置設(shè)置在所述連接桿上；

第二電機，用于驅(qū)動所述連接桿沿著所述支柱的長度方向移動。

進一步的，所述測試裝置可移動的設(shè)置于所述連接桿上，所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)還包括驅(qū)動所述測試裝置沿著所述連接桿移動的第三電機。

進一步的，還包括處理器，所述處理器用于發(fā)送控制信號至所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)以使得當前待測顯示面板位于測試裝置的有效測試區(qū)域。

進一步的，所述測試裝置包括：

多功能測試儀，其用于將多副測試畫面逐一發(fā)送至顯示面板顯示；

色彩分析儀，其用于對當前待測顯示面板當前顯示畫面進行光學(xué)測試；

所述處理器還用于根據(jù)所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)發(fā)送的反饋信號以控制所述測試裝置對當前待測顯示面板進行測試，其中，所述反饋信號為當前待測顯示面板位于測試裝置的有效測試區(qū)域。

本發(fā)明還提供一種顯示面板測試方法，采用上述的顯示面板測試設(shè)備，包括以下步驟：

驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動測試裝置或驅(qū)動待測顯示面板使當前待測顯示面板位于測試裝置的有效測試區(qū)域；

測試裝置對當前待測顯示面板進行測試。

進一步的，應(yīng)用于上述的顯示面板測試設(shè)備，所述測試裝置對當前待測顯示面板進行測試包括：

多功能測試儀向當前待測顯示面板發(fā)送測試畫面；

色彩分析儀對當前待測顯示面板的顯示畫面進行測試，獲取測試數(shù)據(jù)。

本發(fā)明的有益效果是：通過測試裝置的移動完成多個顯示面板的測試，同時適用于小批量與大批量顯示屏的光學(xué)測試，且降低對大批量顯示面板進行測試的復(fù)雜度。

附圖說明

圖1表示本發(fā)明實施例中顯示面板測試設(shè)備結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2表示本發(fā)明實施例中轉(zhuǎn)盤結(jié)構(gòu)局部放大示意圖。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的特征和原理進行詳細說明，所舉實施例僅用于解釋本發(fā)明，并非以此限定本發(fā)明的保護范圍。

如圖1所示，本實施例提供一種顯示面板測試設(shè)備，包括：

基臺，承載至少一個待測顯示面板2；

測試裝置5，用于對當前待測顯示面板2進行測試，可移動的設(shè)置于所述基臺上；

驅(qū)動結(jié)構(gòu)，用于驅(qū)動測試裝置5或驅(qū)動待測顯示面板2移動使當前待測顯示面板2位于所述測試裝置5的有效測試區(qū)域。

可承載多個待測顯示面板2的基臺的設(shè)置，與可移動的測試裝置5相配合，在對當前的待測顯示面板2測試結(jié)合后，驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動測試裝置5移動至下一個待測顯示面板2即可實現(xiàn)對基臺上所有的待測顯示面板2的測試，而不必多次插拔以更換待測顯示面板2，簡化待測顯示面板2的測試難度，提高了測試效率。

所述基臺的具體結(jié)構(gòu)形式以及其承載待測顯示面板2的數(shù)量可根據(jù)實際需要設(shè)定，本實施例中，所述基臺包括轉(zhuǎn)盤1，所述轉(zhuǎn)盤1設(shè)置于基座10上，所述轉(zhuǎn)盤1上間隔的設(shè)置多個所述待測顯示面板2。

優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)盤1上均勻的設(shè)置多個所述待測顯示面板2。

本實施例中，所述轉(zhuǎn)盤1上設(shè)置有4個待測顯示面板2，如圖1所示，但并不以此為限。

所述轉(zhuǎn)盤1上間隔的、均勻的設(shè)置有4個用于容納待測顯示面板2的卡槽，每個所述卡槽靠近所述轉(zhuǎn)盤1的邊緣的側(cè)壁向所述轉(zhuǎn)盤1邊緣延伸形成一凹槽12，該凹槽12的設(shè)置利于待測顯示面板的放置及取出。

所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)的具體結(jié)構(gòu)形式可以有多種，只要實現(xiàn)對待測顯示面板2或所述測試裝置5的移動即可，本實施例中，為了實現(xiàn)對待測顯示面板2移動的驅(qū)動，所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)包括控制所述轉(zhuǎn)盤1轉(zhuǎn)動預(yù)設(shè)角度的控制結(jié)構(gòu)。在當前待測顯示面板2測試結(jié)束后，所述控制結(jié)構(gòu)控制所述轉(zhuǎn)盤1轉(zhuǎn)動預(yù)設(shè)角度以使得當前待測顯示面板2移出所述測試裝置5的有效測試區(qū)域，且使得下一個待測顯示面板2進入到所述測試裝置5的有效測試區(qū)域內(nèi)，自動完成待測顯示面板2的切換，提高測試效率。

本實施例中，為了實現(xiàn)對所述測試裝置5的驅(qū)動，所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)包括：

導(dǎo)軌11，由所述轉(zhuǎn)盤1中心向每個待測顯示面板2延伸設(shè)置；

支柱3，可移動的設(shè)置在所述導(dǎo)軌上，所述支柱3上設(shè)有所述測試裝置5；

第一電機，用于驅(qū)動所述支柱3沿著所述導(dǎo)軌11移動。

所述導(dǎo)軌11由所述轉(zhuǎn)盤1中心向每個待測顯示面板2延伸設(shè)置，如圖1和圖2所示，所述轉(zhuǎn)盤1上承載有4個待測顯示面板2，所述轉(zhuǎn)盤1上相鄰兩個待測顯示面板2之間設(shè)置有呈十字形的所述導(dǎo)軌11，在所述第一電機的驅(qū)動下，所述支柱3能夠沿著所述導(dǎo)軌11移動以使得當前待測顯示面板2位于有效測試區(qū)域內(nèi)。

如圖2所示，所述導(dǎo)軌11與相應(yīng)的待測顯示面板2的邊緣之間具有預(yù)設(shè)距離，避免支柱3沿著導(dǎo)軌11移動時對待測顯示面板的損傷。

所述導(dǎo)軌11的具體設(shè)置形式可以有多種，并不限制于上述描述的結(jié)構(gòu)形式，只要可以使得支柱3沿著所述導(dǎo)軌11移動以使得待測顯示面板2位于所述測試裝置的有效測試區(qū)域內(nèi)即可，例如，在本實施例另一實施方式中，導(dǎo)軌由所述轉(zhuǎn)盤的中心向相鄰兩個所述待測顯示面板之間延伸設(shè)置。

進一步的，所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)還包括：

連接桿4，其與所述支柱3垂直連接，所述測試裝置5設(shè)置在所述連接桿4上；

第二電機，用于驅(qū)動所述連接桿4沿著所述支柱3的長度方向移動。

在所述第二電機的驅(qū)動下，所述連接桿4能夠沿著所述支柱3的長度方向移動，便于調(diào)整所述測試裝置5與當前待測顯示面板2之間的距離，利于獲得更準確的測試結(jié)果。

進一步的，所述測試裝置5可移動的設(shè)置于所述連接桿4上，所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)還包括驅(qū)動所述測試裝置5沿著所述連接桿4移動的第三電機。

在所述第三電機的驅(qū)動下，所述測試裝置5能夠沿著所述連接桿4移動，配合所述支柱3在所述第一電機的驅(qū)動下能夠沿著所述導(dǎo)軌11移動的設(shè)置，擴大了所述測試裝置5的移動范圍，從而能夠有效的使得待測顯示面板2位于所述測試裝置5的有效測試區(qū)域，利于對待測顯示面板2采取多點測試的方式進行測試的測試方法，擴大了本實施例顯示面板測試設(shè)備的適用范圍。

本實施例中，顯示面板測試設(shè)備還包括處理器，所述處理器用于發(fā)送控制信號至所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)以使得當前待測顯示面板2位于測試裝置5的有效測試區(qū)域。

所述處理器的設(shè)置完成了所述待測顯示面板2進入所述測試裝置5有效測試區(qū)域的自動控制，提高測試效率。

本實施例中，所述測試裝置5包括：

多功能測試儀，其用于將多副測試畫面逐一發(fā)送至顯示面板顯示；

色彩分析儀，其用于對當前待測顯示面板2當前顯示畫面進行光學(xué)測試；

所述處理器還用于根據(jù)所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)發(fā)送的反饋信號以控制所述測試裝置5對當前待測顯示面板2進行測試，其中，所述反饋信號為當前待測顯示面板2位于測試裝置5的有效測試區(qū)域。

實現(xiàn)所述多功能測試儀、所述色彩分析儀、所述處理器之間的自動控制，實現(xiàn)待測顯示面板2的完全的自動化測試，且不需要對所述多功能測試儀、所述色彩分析儀的反復(fù)操作，降低待測顯示面板2的測試復(fù)雜度，提高測試效率。

本發(fā)明實施例還提供一種顯示面板測試方法，采用上述的顯示面板測試設(shè)備對待測顯示面板2進行測試，包括以下步驟：

驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動測試裝置5或驅(qū)動待測顯示面板2使當前待測顯示面板2位于測試裝置5的有效測試區(qū)域；

測試裝置5對當前待測顯示面板2進行測試。

進一步的，應(yīng)用于上述的顯示面板測試設(shè)備，所述測試裝置5對當前待測顯示面板2進行測試包括：

多功能測試儀向當前待測顯示面板2發(fā)送測試畫面；

色彩分析儀對當前待測顯示面板2的顯示畫面進行測試，獲取測試數(shù)據(jù)。

所述處理器還用于接收并儲存所述測試數(shù)據(jù)。

對于待測顯示面板2的測試采用中心點測試方法、五點測試方法等，在進行測試時，驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動所述測試裝置5移動，或者所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動所述轉(zhuǎn)盤1轉(zhuǎn)動，兩者相配合以使得當前待測顯示面板2位于所述測試裝置5的有效顯示區(qū)域，采用中心點測試時，只需將當前待測顯示面板2的中心點位于所述測量裝置的有效測試區(qū)域內(nèi)，采用五點測試法時，需要在第一電機的控制下支柱3沿著所述導(dǎo)軌11移動、同時在所述第二電機和第三電機的配合下，使得所述連接桿4沿著所述支柱3的長度方向移動、所述測試裝置5沿著所述連接桿4移動，以使得選取的五個測試點逐一進入所述測試裝置5的有效測試區(qū)域。

采用中心點測試法時，當所述測試裝置5移動至當前待測顯示面板2的中心點對應(yīng)的位置時，即待測顯示面板2的中心點位于所述測試裝置5的有效區(qū)域，所述處理器根據(jù)所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)發(fā)送的反饋信號控制所述多功能測試儀向當前待測顯示面板2發(fā)送測試畫面，然后所述處理器控制所述色彩分析儀對當前待測顯示面板2進行測試。

采用五點測試法時，所述處理器控制所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動所述測試裝置5或驅(qū)動待測顯示面板2移動以使得待測顯示面板2上的五個測試點逐一進入所述測試裝置5的有效測試區(qū)域，當一個測試點位于所述測試裝置5的有效測試區(qū)域，所述處理器根據(jù)所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)發(fā)送的反饋信號控制所述多功能測試儀向當前待測顯示面板2發(fā)送測試畫面，然后所述處理器控制所述色彩分析儀對當前待測顯示面板2進行測試。

以上所述為本發(fā)明較佳實施例，需要說明的是，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明所述原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明保護范圍。